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激光對焦測量系統(tǒng)和光譜共焦傳感器測量系統(tǒng)在手機(jī)殼測高精度差異

普密斯光學(xué) ? 2024-08-15 11:11 ? 次閱讀

手機(jī)殼的生產(chǎn)和質(zhì)量檢測過程中,高度測量的精度至關(guān)重要。激光對焦測量系統(tǒng)和光譜共焦傳感器測量系統(tǒng)作為兩種常見的測量技術(shù),在手機(jī)殼測高方面具有不同的特點和性能。本文將詳細(xì)探討這兩種測量系統(tǒng)在手機(jī)殼測高精度上的差異。

測量原理的差異對手機(jī)殼測高精度的影響

(一)光譜共焦傳感器

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光譜共焦傳感器利用光學(xué)色散原理進(jìn)行測量。白光 LED 等寬光譜光源發(fā)射出的復(fù)色光,經(jīng)色散物鏡后不同波長的光聚焦在不同位置。只有聚焦在手機(jī)殼表面的波長光線能通過檢測孔并被光譜儀檢測到,通過提取峰值波長實現(xiàn)精確測高。這種非接觸式測量方式具有高精度、高穩(wěn)定性的特點,能夠適應(yīng)手機(jī)殼各種復(fù)雜的表面材質(zhì)和形狀,為精準(zhǔn)測量提供了可靠的技術(shù)基礎(chǔ)。

(二)激光對焦

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激光對焦主要通過測量激光束從發(fā)射到被手機(jī)殼反射并返回接收器的時間(或相位差)來計算高度。雖然其也具有一定的精度,但相對而言測量原理較為簡單。在面對手機(jī)殼復(fù)雜的結(jié)構(gòu)和表面特性時,可能會受到一些限制,例如在一些角落或曲面部位,激光束的反射路徑可能會受到影響,從而影響測量精度。

精度差異在手機(jī)殼測量中的體現(xiàn)

(一)光譜共焦傳感器
光譜共焦傳感器在測量手機(jī)殼高度時,憑借其高精度的光譜分析和共焦檢測技術(shù),通常能夠達(dá)到微米級甚至更高的精度。這對于手機(jī)殼這種對尺寸精度要求較高的產(chǎn)品來說,具有極大的優(yōu)勢。在手機(jī)殼的細(xì)節(jié)部位測量和質(zhì)量控制環(huán)節(jié),能夠準(zhǔn)確地檢測出微小的高度差異,確保產(chǎn)品符合高標(biāo)準(zhǔn)的質(zhì)量要求。

(二)激光對焦
激光對焦的精度雖然也較高,但受到多種因素影響。例如激光束的發(fā)散角、接收器的靈敏度以及環(huán)境因素等。在手機(jī)殼測量中,這些因素可能導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)一定的偏差。相比之下,其精度略遜于光譜共焦傳感器,尤其是在對精度要求極高的手機(jī)殼精密部件測量中,差異更為明顯。

適應(yīng)性差異對手機(jī)殼測量的重要性

(一)光譜共焦傳感器
光譜共焦傳感器對手機(jī)殼的被測表面特性具有出色的適應(yīng)性。無論是透明材質(zhì)的手機(jī)殼、鏡面效果的手機(jī)殼還是高反光材質(zhì)的手機(jī)殼,都能進(jìn)行準(zhǔn)確測量。這使得在各種不同材質(zhì)和工藝的手機(jī)殼生產(chǎn)和檢測過程中,光譜共焦傳感器都能發(fā)揮穩(wěn)定的測量性能,為不同類型手機(jī)殼的質(zhì)量控制提供了有力保障。

(二)激光對焦
激光對焦在面對某些特定表面的手機(jī)殼時,如高反光表面,可能會受到干擾,導(dǎo)致測量精度下降。此外,激光對焦對測量環(huán)境的要求相對較高,需要避免振動、溫度變化等干擾因素。在手機(jī)殼生產(chǎn)現(xiàn)場等復(fù)雜環(huán)境中,這些要求可能較難滿足,從而影響其在手機(jī)殼測量中的應(yīng)用效果。

應(yīng)用場景差異在手機(jī)殼領(lǐng)域的表現(xiàn)

(一)光譜共焦傳感器


由于其高精度、高穩(wěn)定性和良好的適應(yīng)性,光譜共焦傳感器在手機(jī)殼的精密測量領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。例如在電子制造過程中的手機(jī)殼零部件高度測量、半導(dǎo)體封裝與手機(jī)殼結(jié)合部位的精度檢測以及 3D 打印手機(jī)殼的尺寸控制等方面,都能夠提供準(zhǔn)確可靠的測量數(shù)據(jù),有力地支持了手機(jī)殼產(chǎn)品的質(zhì)量提升和生產(chǎn)效率提高。

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(二)激光對焦

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激光對焦在手機(jī)殼領(lǐng)域也有一定的應(yīng)用,如在一些基本的尺寸測量和簡單的裝配環(huán)節(jié)中。然而,在需要極高精度和面對復(fù)雜表面的手機(jī)殼測量場景中,激光對焦的局限性就顯現(xiàn)出來。它可能無法滿足高端手機(jī)殼生產(chǎn)對精度和可靠性的嚴(yán)格要求。

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