FPGA設(shè)計(jì)面臨的挑戰(zhàn)和解決方案

介紹FPGA設(shè)計(jì)中的挑戰(zhàn)和可靠解決方案。

設(shè)計(jì)可靠的可編程邏輯門陣列（FPGA）對(duì)于不容故障的系統(tǒng)來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的任務(wù)。本文介紹FPGA設(shè)計(jì)的復(fù)雜性，重點(diǎn)關(guān)注如何在提高可靠性的同時(shí)管理隨之帶來(lái)的功耗增加、設(shè)計(jì)復(fù)雜性和潛在性能影響的關(guān)鍵平衡問(wèn)題。

1、 可靠FPGA設(shè)計(jì)面臨的挑戰(zhàn)

1.1 平衡功耗與可靠性

技術(shù)問(wèn)題：在FPGA設(shè)計(jì)中添加錯(cuò)誤糾正代碼（ECC）或內(nèi)置自我測(cè)試（BIST）等可靠性特性會(huì)增加功耗消耗。這在對(duì)能源效率有嚴(yán)格要求的應(yīng)用中是一個(gè)不可忽略的問(wèn)題。

原因：這些可靠性特性需要額外的邏輯塊和處理能力，從而導(dǎo)致靜態(tài)和動(dòng)態(tài)功耗的增加，尤其是在負(fù)載條件下。

1.2 應(yīng)對(duì)日益增加的設(shè)計(jì)復(fù)雜性

技術(shù)問(wèn)題：在FPGA設(shè)計(jì)中，為了提高可靠性，集成可靠性特性會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)變得更加復(fù)雜。這些設(shè)計(jì)往往具有更多的門計(jì)數(shù)、復(fù)雜的路由以及實(shí)現(xiàn)時(shí)序關(guān)閉的困難。

原因：實(shí)現(xiàn)冗余方法（如三模冗式冗余）會(huì)增加邏輯元素的數(shù)量，從而導(dǎo)致設(shè)計(jì)的復(fù)雜性增加。添加錯(cuò)誤糾正代碼（ECC）和內(nèi)置自我測(cè)試（BIST）等特性也會(huì)帶來(lái)額外的控制和數(shù)據(jù)處理的復(fù)雜性。因此，在FPGA設(shè)計(jì)中如何有效地應(yīng)對(duì)日益增加的設(shè)計(jì)復(fù)雜性是一個(gè)需要解決的關(guān)鍵問(wèn)題。

1.3 可靠性對(duì)性能的影響

技術(shù)問(wèn)題：雖然添加可靠性特性可以提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性，但這些特性可能會(huì)無(wú)意中影響整體性能。例如，錯(cuò)誤檢查和糾正過(guò)程可能會(huì)增加延遲。

原因：這些可靠性檢查所需的額外處理和邏輯會(huì)延長(zhǎng)FPGA設(shè)計(jì)的關(guān)鍵路徑，從而影響系統(tǒng)的操作速度。

2 、解決方案

2.1 優(yōu)化功耗消耗

使用能量敏感設(shè)計(jì)工具：利用像Xilinx的功率估算器和Intel的PowerPlay等復(fù)雜的設(shè)計(jì)工具，設(shè)計(jì)人員可以創(chuàng)建對(duì)能源效率進(jìn)行優(yōu)化的FPGA布局和邏輯，并在設(shè)計(jì)的各個(gè)階段提供有關(guān)功耗消耗的有價(jià)值見解。

動(dòng)態(tài)功率管理技術(shù)：實(shí)施時(shí)鐘門控和選擇性關(guān)閉非關(guān)鍵FPGA部分的動(dòng)態(tài)功率管理技術(shù)，以及在空閑狀態(tài)下部署低功耗模式，可顯著降低功耗消耗。

2.2 解決設(shè)計(jì)復(fù)雜性

模塊化設(shè)計(jì)方法：采用模塊化設(shè)計(jì)方法，可以將FPGA架構(gòu)分解成較小、更易管理的單元，每個(gè)單元獨(dú)立設(shè)計(jì)、優(yōu)化和測(cè)試，從而簡(jiǎn)化整體設(shè)計(jì)過(guò)程。

高級(jí)合成（HLS）工具：利用HLS工具將復(fù)雜的高級(jí)代碼（如C++）轉(zhuǎn)換為HDL，通過(guò)抽象掉一些固有復(fù)雜性來(lái)簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)過(guò)程。

2.3 減少性能影響

有效的錯(cuò)誤糾正實(shí)現(xiàn)：通過(guò)優(yōu)化ECC算法，例如采用并行處理進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正，可以最小化延遲并減輕對(duì)數(shù)據(jù)吞吐量的影響。

均衡的冗余方法：需要仔細(xì)評(píng)估可靠性和資源使用之間的權(quán)衡。例如，僅在設(shè)計(jì)的最關(guān)鍵部分應(yīng)用TMR，可以保持可靠性而不會(huì)過(guò)度負(fù)擔(dān)系統(tǒng)資源。

2.4 持續(xù)監(jiān)測(cè)和測(cè)試

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)：將實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)融入FPGA設(shè)計(jì)有助于持續(xù)評(píng)估性能指標(biāo)并早期發(fā)現(xiàn)潛在的可靠性問(wèn)題。

生命周期測(cè)試：在FPGA的整個(gè)生命周期中進(jìn)行全面測(cè)試，從早期驗(yàn)證到部署后階段，包括壓力和環(huán)境測(cè)試，以確保對(duì)現(xiàn)實(shí)世界運(yùn)營(yíng)條件的適應(yīng)性。

3 、總結(jié)

解決可靠FPGA設(shè)計(jì)的復(fù)雜挑戰(zhàn)需要先進(jìn)的設(shè)計(jì)技術(shù)、戰(zhàn)略性實(shí)施可靠性特性以及產(chǎn)品生命周期中的嚴(yán)格測(cè)試和監(jiān)測(cè)。

這種多方面的綜合方法對(duì)于那些旨在開發(fā)可靠、高效且能夠滿足當(dāng)今技術(shù)領(lǐng)域高性能要求的基于FPGA的系統(tǒng)的設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō)是很關(guān)鍵的。

通過(guò)掌握這些技能和技術(shù)，設(shè)計(jì)人員可以更有效地應(yīng)對(duì)可靠性挑戰(zhàn)，并開發(fā)出更加出色的FPGA系統(tǒng)。

來(lái)源： 本文轉(zhuǎn)載自Java學(xué)研大本營(yíng)公眾號(hào)