0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

ESD靜電放電抗擾度試驗(yàn)

武漢萬(wàn)象奧科 ? 2024-07-25 09:42 ? 次閱讀

引言

在當(dāng)今高度電子化的社會(huì)中,各類電子設(shè)備已經(jīng)滲透到我們生活的方方面面,從智能手機(jī)、筆記本電腦工業(yè)控制系統(tǒng)、醫(yī)療設(shè)備,無(wú)一不依賴著復(fù)雜的電子電路和微處理器來(lái)執(zhí)行其功能。然而,這些精密的設(shè)備也面臨著來(lái)自各種環(huán)境因素的挑戰(zhàn),其中靜電放電(ESD)便是不可忽視的一大威脅。因此,靜電放電抗擾度試驗(yàn)作為評(píng)估電子設(shè)備防護(hù)能力的重要手段,其重要性日益凸顯。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

靜電放電抗擾度試驗(yàn)(ESDImmunityTesting)是一種電磁兼容性(EMC)測(cè)試,用于評(píng)估電子設(shè)備在遭受靜電放電時(shí)的抗干擾能力。靜電放電是由帶電物體之間的電荷轉(zhuǎn)移引起的現(xiàn)象,常見于人與設(shè)備之間、設(shè)備與設(shè)備之間的接觸或靠近時(shí)。這種放電可能會(huì)導(dǎo)致電子設(shè)備的故障、損壞或性能下降。

靜電放電發(fā)生器試驗(yàn)基本線路及放電電流波形

靜電放電發(fā)生器簡(jiǎn)圖

靜電放電發(fā)生器輸出電流的典型波形與放電電極

靜電放電發(fā)生器試驗(yàn)布置實(shí)例

臺(tái)式和落地設(shè)備的試驗(yàn)配置和放電位置實(shí)例

靜電放電抗擾度試驗(yàn)的目的

上期我們?cè)贓FT電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)【鏈接】中講到,除了要保證設(shè)備的可靠性、發(fā)現(xiàn)并解決設(shè)計(jì)中的問(wèn)題、符合法律和標(biāo)準(zhǔn)要求、提高產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力外,還需要保護(hù)用戶安全:靜電放電不僅會(huì)影響設(shè)備的性能,還可能對(duì)用戶造成傷害。例如,電子設(shè)備因靜電放電導(dǎo)致故障時(shí),可能會(huì)引發(fā)火災(zāi)或電擊等危險(xiǎn)。通過(guò)靜電放電抗擾度試驗(yàn),可以確保設(shè)備在遭遇靜電放電時(shí)不會(huì)出現(xiàn)危及用戶安全的情況,從而保護(hù)用戶的安全。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)

靜電放電抗擾度試驗(yàn)通常遵循國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)制定的IEC61000-4-2:2008標(biāo)準(zhǔn),以及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB/T17626.2-2018)。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)試的技術(shù)要求、測(cè)試程序和性能評(píng)估方法,以確保電子設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中能夠抵抗靜電放電的影響。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)的等級(jí)

試驗(yàn)方法:GB/T17626.2-2018/IEC61000-4-2:2008

1a接觸放電

1b空氣放電

等級(jí)

試驗(yàn)電壓/kV

等級(jí)

試驗(yàn)電壓/kV

1

2

1

2

2

4

2

4

3

6

3

8

4

8

4

15

Xa

特定

特定

特定

注:“Xa”可以是任意等級(jí),在專用設(shè)備技術(shù)規(guī)范中應(yīng)對(duì)這個(gè)級(jí)別加以規(guī)定,如果規(guī)定了高于表格中的電壓,則可能需要專用的試驗(yàn)設(shè)備。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)方法及配置

靜電放電發(fā)生器應(yīng)保持與實(shí)施放電的表面垂直,以改善試驗(yàn)結(jié)果的可重復(fù)性。

直接放電

除非在通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)中有其他規(guī)定,靜電放電只施加在正常使用時(shí)人員可接觸到的受試設(shè)備上的點(diǎn)和面,以下是例外的情況(放電不施加在下述點(diǎn))

a)在維修時(shí)才接觸得到的點(diǎn)和表面

b)最終用戶保養(yǎng)時(shí)接觸到的點(diǎn)和表面,這些極少接觸到的點(diǎn),如電池,錄音磁帶等。

c)設(shè)備安裝固定后或按使用說(shuō)明后不再接觸到的點(diǎn)和面,例如底部或設(shè)備靠墻面等。

d)外殼為金屬的同軸連接器和多芯連接器可接觸到的點(diǎn),該情況下,僅對(duì)連接器的外殼施加接觸放電。

非導(dǎo)電(例如塑料)連接器內(nèi)可接觸到的點(diǎn),應(yīng)只進(jìn)行空氣放電試驗(yàn),使用靜電放電發(fā)生器的圓形電極頭,通常應(yīng)考慮以下六種情況:

情況

連接器外殼

涂層材料

空氣放電

接觸放電

1

金屬

無(wú)

——

外殼

2

金屬

絕緣

涂層

可接觸的外殼

3

金屬

金屬

——

外殼和涂層

4

金屬

無(wú)

a

——

5

金屬

絕緣

涂層

——

6

金屬

金屬

——

涂層

注:若連接器插腳有防靜電放電涂層,涂層或設(shè)備上采用涂層的連接器附近應(yīng)有靜電放電警告標(biāo)簽

a:產(chǎn)品(類)標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)絕緣連接器的各個(gè)插腳進(jìn)行試驗(yàn),應(yīng)采用空氣放電。

在實(shí)施放電的時(shí)候,發(fā)生器的放電回路電纜與受試設(shè)備的距離至少應(yīng)該保持0.2m。

在接觸放電的情況下,放電電極的頂端應(yīng)在操作放電開關(guān)之前接觸受試設(shè)備。

對(duì)于表面涂漆的情況,如廠家未說(shuō)明涂膜為絕緣層,則發(fā)生器應(yīng)穿入漆膜,以便與導(dǎo)電層接觸,如廠家指明時(shí)絕緣層,則應(yīng)只進(jìn)行空氣放電,這類表面不應(yīng)進(jìn)行接觸放電試驗(yàn)。

在空氣放電的情況下,放電電極的原型放電頭應(yīng)盡快地接近并觸及受試設(shè)備,每次放電之后,應(yīng)將靜電放電發(fā)生器的放電電極從受試設(shè)備移開,然后重新接觸發(fā)生器,進(jìn)行新的單次放電,這個(gè)程序應(yīng)當(dāng)重復(fù)至放電完成為止。在空氣放電試驗(yàn)的情況下,用作接觸放電的放電開關(guān)應(yīng)當(dāng)閉合。

間接放電

對(duì)放置于或安裝在受試設(shè)備附近的物體的放電應(yīng)用靜電放電發(fā)生器對(duì)耦合板接觸放電的方式進(jìn)行模擬。

除了直接放電論述之外,還需滿足以下兩點(diǎn)所提出的要求。

受試設(shè)備下面的水平耦合板

對(duì)水平耦合板放電應(yīng)在水平方向?qū)ζ溥吘壥┘樱诰嚯x受試設(shè)備每個(gè)單元中心點(diǎn)前面的0.1m處水平耦合板邊緣至少施加10次單次放電,放電時(shí),放電電極的長(zhǎng)軸應(yīng)處在水平耦合板的平面,并與前面的邊緣垂直。

放電電極應(yīng)接觸水平耦合板的邊緣(見圖4.1臺(tái)式設(shè)備試驗(yàn)布置的實(shí)例)

垂直耦合板

對(duì)耦合板的一個(gè)垂直邊的中心至少施加十次的單次放電(見圖4.1臺(tái)式設(shè)備試驗(yàn)布置的實(shí)例),應(yīng)將尺寸為0.5m*0.5m的耦合板平行于受試設(shè)備放置且與其保持0.1m的距離。

放電應(yīng)施加在耦合板上,通過(guò)調(diào)整耦合板位置,使受試設(shè)備四面不同的位置都受到放電試驗(yàn)

不接地設(shè)備的試驗(yàn)方法

適用于安裝規(guī)范會(huì)設(shè)計(jì)不與任何接地系統(tǒng)連接的設(shè)備或設(shè)備部件(包括便攜式、電池供電和雙重絕緣設(shè)備(Ⅱ類設(shè)備))

基本原理:不接地設(shè)備或設(shè)備中不接地的部件不能如Ⅰ類供電設(shè)備自行放電,若在下一次靜電放電脈沖施加之前電荷未消除,受試設(shè)備或其部件的電荷累積可能使電壓為預(yù)期試驗(yàn)電壓的兩倍。因此雙重絕緣設(shè)備(Ⅱ類設(shè)備)的絕緣電容經(jīng)過(guò)幾次靜電放電累積,可能充電至異常高,然后以高能量在絕緣擊穿電壓處放電。

為了模擬單次靜電放電(空氣或接觸放電),在施加每個(gè)靜電放電脈沖之前,應(yīng)該消除受試設(shè)備上的電荷。如連接器外殼、電池充電插腳。金屬天線,都應(yīng)該在施加每次靜電放電脈沖之前對(duì)施加靜電放電脈沖的金屬點(diǎn)或部位上的電荷進(jìn)行釋放。例如水平耦合板和垂直耦合板即帶有470kΩ的泄放電阻的電纜。

由于受試設(shè)備和水平耦合板(臺(tái)式)之間以及受試設(shè)備和接地參考平面(落地式)之間的電容取決于受試設(shè)備的尺寸,靜電放電試驗(yàn)時(shí),如果功能允許,應(yīng)安裝帶泄放電阻的電纜。放電電纜的一個(gè)電阻應(yīng)該盡可能的靠近受試設(shè)備的試驗(yàn)點(diǎn),最好小于20mm,第二個(gè)電阻應(yīng)靠近電纜的末端,對(duì)于臺(tái)式設(shè)備電纜連接于水平耦合板上,對(duì)于立式設(shè)備電纜連接于接地參考平面上。

不接地臺(tái)式設(shè)備的試驗(yàn)布置

不接地落地式設(shè)備的試驗(yàn)布置

帶泄放電阻電纜的存在可能會(huì)影響歐協(xié)設(shè)備的試驗(yàn)結(jié)果。如有爭(zhēng)議時(shí),若在連續(xù)放電之間電荷能有效地衰減,施加靜電放電脈沖時(shí)斷開電纜的試驗(yàn)優(yōu)先于連接上電纜的試驗(yàn)。

上述操作過(guò)于繁瑣時(shí)可以采用以下替代方法:

——連續(xù)放電的時(shí)間間隔應(yīng)長(zhǎng)于受試設(shè)備的電荷自然衰減所需的時(shí)間。

——使用帶泄放電阻(2*470kΩ)和碳纖維刷的接地電纜。

——使用加速受試設(shè)備的電荷“自然“泄放到環(huán)境的空氣-離子發(fā)生器(當(dāng)施加空氣放電時(shí),離子發(fā)生器應(yīng)該關(guān)閉)

以上任何一種替代方法的使用都需在試驗(yàn)報(bào)告中注明。當(dāng)電荷衰減有爭(zhēng)議時(shí),可以使用非接觸電場(chǎng)計(jì)監(jiān)視受試設(shè)備上的電荷,當(dāng)放電衰減低于初始值10%后,則認(rèn)定受試設(shè)備已經(jīng)放電。

靜電放電試驗(yàn)時(shí),靜電放電發(fā)生器的電極應(yīng)保持在正常的垂直于受試設(shè)備表面的位置。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)內(nèi)容

試驗(yàn)應(yīng)按照試驗(yàn)計(jì)劃,采用對(duì)受試設(shè)備直接和間接的放電方式進(jìn)行。它包括:------受試設(shè)備的典型工作條件;------受試設(shè)備是按臺(tái)式設(shè)備還是落地式設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn);------確定施加放電點(diǎn);------在每個(gè)點(diǎn)上,是采用接觸放電還是空氣放電;------所使用的試驗(yàn)等級(jí);------符合性試驗(yàn)中在每個(gè)點(diǎn)上施加的放電次數(shù);------是否還進(jìn)行安裝后的試驗(yàn)。

試驗(yàn)結(jié)果判定

試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備的功能喪失或性能降級(jí)進(jìn)行分類。相關(guān)的性能水平由設(shè)備的制造商或試驗(yàn)的需求方確定,或由產(chǎn)品的制造商和購(gòu)買方雙方協(xié)商同意。建議按如下要求分類:

A. 在制造商、委托方或購(gòu)買方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常

B. 功能或性能暫時(shí)喪失或降低,但在騷擾停止后能自行恢復(fù),不需要操作者干預(yù)

C. 功能或性能暫時(shí)喪失或降低,但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù)

D. 因設(shè)備硬件或軟件損壞,或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低


聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • ESD
    ESD
    +關(guān)注

    關(guān)注

    49

    文章

    2033

    瀏覽量

    173007
  • 電磁兼容
    +關(guān)注

    關(guān)注

    54

    文章

    1879

    瀏覽量

    97874
  • 靜電放電
    +關(guān)注

    關(guān)注

    3

    文章

    287

    瀏覽量

    44661
  • emc
    emc
    +關(guān)注

    關(guān)注

    170

    文章

    3921

    瀏覽量

    183205
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    靜電放電抗試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

    靜電放電抗試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定電氣和電子設(shè)備遭受直接來(lái)自操作者對(duì)鄰近物體的靜電
    發(fā)表于 12-02 16:18

    靜電抗試驗(yàn)

    求各位大神做靜電抗試驗(yàn)的方法,以及相關(guān)的利弊。是不是都是按照國(guó)標(biāo)做的,產(chǎn)品是按照什么標(biāo)準(zhǔn)做的實(shí)驗(yàn)?
    發(fā)表于 04-21 13:04

    靜電放電抗測(cè)試方案-EMS測(cè)試系統(tǒng)

    保證電子的安全使用。電子靜電抗測(cè)試根據(jù)ISO10605GB/T19951-2005執(zhí)行一般常說(shuō)的靜電放電測(cè)試是指IEC61000-4-2
    發(fā)表于 01-03 10:22

    測(cè)量技術(shù)系列之MC測(cè)試與靜電放電抗試驗(yàn)

    測(cè)試目的是檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響?! B/T 17626的本部分規(guī)定電氣和電子設(shè)備遭受直接來(lái)自操作者和對(duì)鄰近物體的靜電放電時(shí)的抗
    發(fā)表于 11-09 17:57

    靜電放電抗對(duì)手機(jī)的影響

    本文介紹了手機(jī)靜電放電測(cè)試的要求和方法, 總結(jié)分析了手機(jī)靜電放電抗
    發(fā)表于 10-20 10:02 ?3599次閱讀

    靜電放電抗試驗(yàn)

    gb17626.2-1998(ESD)靜電放電抗
    發(fā)表于 03-22 14:46 ?26次下載

    靜電放電抗試驗(yàn)

    現(xiàn)行國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):靜電放電抗試驗(yàn)
    發(fā)表于 12-09 15:10 ?8次下載

    手機(jī)靜電放電抗測(cè)試及提高手機(jī)抗靜電能力的設(shè)計(jì)參考

    了手機(jī)靜電放電測(cè)試的要求和方法,總結(jié)分析了手機(jī)靜電放電抗
    發(fā)表于 07-10 10:29 ?6次下載
    手機(jī)<b class='flag-5'>靜電</b><b class='flag-5'>放電抗</b><b class='flag-5'>擾</b><b class='flag-5'>度</b>測(cè)試及提高手機(jī)抗<b class='flag-5'>靜電</b>能力的設(shè)計(jì)參考

    電磁兼容的靜電放電抗試驗(yàn)

    電磁兼容的靜電放電抗試驗(yàn)
    發(fā)表于 05-29 11:27 ?1次下載

    電磁兼容和測(cè)量技術(shù)、靜電放電抗試驗(yàn)

    電磁兼容和測(cè)量技術(shù)、靜電放電抗試驗(yàn)
    發(fā)表于 08-10 09:59 ?40次下載

    電磁兼容試驗(yàn)及測(cè)量技術(shù)靜電放電抗干擾試驗(yàn)

    電磁兼容試驗(yàn)及測(cè)量技術(shù)靜電放電抗干擾試驗(yàn)
    發(fā)表于 10-08 17:04 ?23次下載

    GB/T 17626.2-2018電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電抗干擾試驗(yàn)

    電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗試驗(yàn)
    發(fā)表于 08-17 17:34 ?128次下載

    靜電放電抗性測(cè)試

    靜電放電抗試驗(yàn)。模擬操作員或物體接觸設(shè)備時(shí)產(chǎn)生的放電,以及人員或物體相對(duì)于相鄰物體的
    發(fā)表于 09-05 09:48 ?19次下載

    GBT 17626靜電放電抗試驗(yàn)

    GBT17626靜電放電抗試驗(yàn)
    發(fā)表于 08-07 16:50 ?5次下載

    ESD靜電放電抗試驗(yàn)

    各種環(huán)境因素的挑戰(zhàn),其中靜電放電ESD)便是不可忽視的一大威脅。因此,靜電放電抗
    的頭像 發(fā)表于 07-24 09:54 ?601次閱讀
    <b class='flag-5'>ESD</b><b class='flag-5'>靜電</b><b class='flag-5'>放電抗</b><b class='flag-5'>擾</b><b class='flag-5'>度</b><b class='flag-5'>試驗(yàn)</b>