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淺談常用的EMC輔助設(shè)備

韜略科技EMC ? 來(lái)源:韜略科技EMC ? 2024-07-16 14:45 ? 次閱讀

前言

科技改善生活,科技改變世界,科技改變你我。

回顧過(guò)去的這一年里,發(fā)現(xiàn)一個(gè)比較有趣的事情——EMC有沒(méi)有好用的整改工具?這個(gè)問(wèn)題印象里,不止一次被人問(wèn)過(guò),而且問(wèn)這樣問(wèn)題的人有剛畢業(yè)的小白,也有資深的老工程師,甚至同行里也有人問(wèn)過(guò)。個(gè)人感覺(jué)在EMC整改領(lǐng)域,EMI方向上,頻譜儀的使用頻率是挺高的,在EMS方向上示波器使用頻率挺高的,并沒(méi)有大家想象中的“神器”,可以像萬(wàn)用表似的,既可以測(cè)電阻電容參數(shù)、還可以測(cè)試電流電壓大小。

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(本文不講設(shè)備工作原理,只講設(shè)備的作用與意義,重在分享個(gè)人經(jīng)驗(yàn),希望能幫到大家)

頻譜儀

在EMI里,RE或者CE出現(xiàn)問(wèn)題,除了依靠經(jīng)驗(yàn)或者其他專(zhuān)業(yè)人員的分析外,頻譜儀是一個(gè)非常好使的設(shè)備,它幾乎可以鎖定大部分的噪聲源是誰(shuí)!例如: 1.某汽車(chē)電子產(chǎn)品中CEV電壓法400KHz超標(biāo),可以通過(guò)頻譜儀去確定是哪個(gè)電源芯片引起的400KHz問(wèn)題。 2.某車(chē)機(jī)的時(shí)鐘CLK超標(biāo),可以通過(guò)頻譜儀對(duì)主板上的CLK時(shí)鐘進(jìn)行抓取,鎖定噪聲發(fā)射的主要問(wèn)題點(diǎn)。

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示波器

示波器的使用相對(duì)會(huì)比較多一些,也是了解比較深的設(shè)備,在一些硬件故障分析或者電路調(diào)試的時(shí)候會(huì)常常使用。在EMI領(lǐng)域,示波器可以通過(guò)電路信號(hào)波形的抓取,來(lái)分析部分噪聲輻射的源頭,但更多的時(shí)候,示波器在一些抗擾的實(shí)驗(yàn)中,會(huì)體現(xiàn)出奇效。

例如在ESD靜電測(cè)試中,對(duì)某一路信號(hào)進(jìn)行抓取,可以實(shí)時(shí)看到信號(hào)在ESD影響下的變化,來(lái)判斷電路是否異常,問(wèn)題點(diǎn)是否由此路信號(hào)引起。也可以對(duì)汽車(chē)7637里的一些抗擾實(shí)驗(yàn)做輔助測(cè)試或分析,來(lái)判斷電路參數(shù)的選擇是否合適或者電路的設(shè)計(jì)是否滿足測(cè)試要求。

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EMI測(cè)試接收機(jī)

“EMI測(cè)試接收機(jī)”是所有EMC測(cè)試方法中不可或缺的核心組件!一般簡(jiǎn)稱為“接收機(jī)”,雖然它的功能看起來(lái)跟“頻譜儀”相似,但是在性能與使用上是不對(duì)等的,部分大廠可能會(huì)把“EMI測(cè)試接收機(jī)”當(dāng)“頻譜儀”使用,這樣是沒(méi)有問(wèn)題的,但是部分小廠把“頻譜儀”當(dāng)“EMI測(cè)試接收機(jī)”使用,這樣是不合適的,測(cè)試出來(lái)的結(jié)果沒(méi)有很高的準(zhǔn)確性。

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拋開(kāi)“EMI測(cè)試接收機(jī)”與“頻譜儀”兩者設(shè)備本身的性能差異外,還有“測(cè)試接收器”的差別,也會(huì)讓兩者在整體的測(cè)試結(jié)果上出現(xiàn)明顯的差異,“EMI測(cè)試接收機(jī)”配套使用的是“EMI接收天線”,而大部分的“頻譜儀”配套使用的是“探頭”或者“探針”。

這兩個(gè)接收器在工作原理是差別不大,都是耦合電磁場(chǎng)。但是在測(cè)試原理上是不一樣的,“探針”傾向的是某個(gè)點(diǎn)的或者某個(gè)小區(qū)域的電磁能量的體現(xiàn),類(lèi)似用萬(wàn)用表測(cè)量某個(gè)兩個(gè)點(diǎn)的電位。

例如下圖不能因?yàn)椤?5V”與“-5V”之間的的電位差為10V就能表達(dá)電路的供電為10V。

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而“接收天線”相對(duì)來(lái)說(shuō),是對(duì)整個(gè)EUT設(shè)備系統(tǒng)的測(cè)試,它對(duì)系統(tǒng)里面的各類(lèi)信號(hào)波動(dòng)的接收能力會(huì)遠(yuǎn)遠(yuǎn)強(qiáng)于“探針”。相對(duì)來(lái)說(shuō)一個(gè)是“點(diǎn)”的測(cè)量,一個(gè)是“面”的測(cè)量,兩者在某些情況下有相同的特性與特點(diǎn),但是兩者在本質(zhì)上還是不一樣的。

總結(jié)

希望以上理解能幫到諸位EMC工程師,所有的測(cè)試結(jié)果或者結(jié)論以實(shí)際認(rèn)證機(jī)構(gòu)的結(jié)果為準(zhǔn),通過(guò)其他輔助設(shè)備測(cè)到的數(shù)據(jù)或者結(jié)論,只能用于佐證而不是最終結(jié)果!

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原文標(biāo)題:淺談常用的EMC輔助設(shè)備

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