CT PT分析儀的試驗(yàn)連線——每日了解電力知識(shí)

今天武漢摩恩智能電氣有限公司帶大家了解一下MOEORW-8302 CT PT分析儀
MOEORW-8302 CT PT分析儀的試驗(yàn)連線：
1、CT二次負(fù)荷
在進(jìn)行CT二次負(fù)荷測(cè)量時(shí)請(qǐng)按照?qǐng)D3.1連接CTPT分析儀和被測(cè)CT

具體接線步驟和說(shuō)明如下：
1）將CTPT分析儀的接地柱連接到保護(hù)地PE
2）將按照?qǐng)D3.1所示，斷開(kāi)CT二次側(cè)和二次回路的連接
3）將CTPT分析儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至二次負(fù)荷一側(cè)，參見(jiàn)圖3.1
4）將CTPT分析儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至二次負(fù)荷的另一側(cè)
5）為了消除接觸電阻的影響，在連接CT分析儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)，如圖3.2。
注意：在進(jìn)行CT二次負(fù)荷測(cè)量時(shí)，必須要斷開(kāi)被測(cè)CT二次側(cè)與負(fù)載的連接，否則測(cè)量的結(jié)果將是CT二次側(cè)與二次負(fù)荷的并聯(lián)阻抗，這將導(dǎo)致儀器獲得錯(cuò)誤的試驗(yàn)結(jié)果。并且在進(jìn)行二次負(fù)荷測(cè)量時(shí)儀器不進(jìn)行退磁處理，因此如果CT二次側(cè)未斷開(kāi)將會(huì)導(dǎo)致CT進(jìn)入飽和狀態(tài)。

2、CT分析，變比，極性試驗(yàn)接線圖

在進(jìn)行CT分析，變比或極性試驗(yàn)時(shí)請(qǐng)按照?qǐng)D3.3連接CTPT分析儀和被測(cè)CT，這三個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目的接線方式是一致的
具體接線步驟和說(shuō)明如下：
1）斷開(kāi)電力線與CT一次側(cè)的連接，未接地的電力線較長(zhǎng)，會(huì)給CT一次側(cè)的測(cè)量引入較大干擾，參見(jiàn)圖3.4。
3）將CT一次側(cè)一端連接至CTPT分析儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)黑色端子
4）將CT一次側(cè)另一端連接至CTPT分析儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)紅色端子
5）將CTPT分析儀的接地柱連接到保護(hù)地PE
6）將按照?qǐng)D3.3所示，斷開(kāi)被測(cè)CT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接
7）將CTPT分析儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至CT二次側(cè)的一端，參見(jiàn)圖3.3
8）將CTPT分析功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至CT二次側(cè)另一端
9）為了消除接觸電阻對(duì)線圈電阻測(cè)量的影響，在連接CTPT分析儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)，如圖3.4。

注意：在對(duì)變比值相同的多繞組電流互感器進(jìn)行CT分析或CT比差角差測(cè)試時(shí)，沒(méi)有測(cè)試的二次繞組應(yīng)全部短接，否則測(cè)試誤差將會(huì)偏大
例如同時(shí)含有測(cè)量0.5級(jí)，保護(hù)10P10，暫態(tài)TPY三個(gè)繞組的2000/1的CT，進(jìn)行0.5級(jí)繞組的比差角差測(cè)量時(shí)應(yīng)按照?qǐng)D3.4.1進(jìn)行接線

3、CT線圈電阻測(cè)量接線圖
在測(cè)量CT線圈的直流電阻時(shí)，請(qǐng)按照?qǐng)D3.5連接儀器和被測(cè)CT。
1）將CTPT分析儀的接地柱連接到保護(hù)地PE
2）按照?qǐng)D3.5所示，斷開(kāi)被測(cè)CT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接
3）將CPTT分析儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至CT二次側(cè)的一端，參見(jiàn)圖3.5
4）將CTPT分析功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至CT二次側(cè)另一端
5）為了消除接觸電阻對(duì)線圈電阻測(cè)量的影響，在連接CTPT分析儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)，如圖3.4。

4、PT二次負(fù)荷
在進(jìn)行PT二次負(fù)荷測(cè)量時(shí)請(qǐng)按照?qǐng)D3.6連接CTPT分析儀和被測(cè)PT

具體接線步驟和說(shuō)明如下：
1）將CTPT分析儀的接地柱連接到保護(hù)地PE
2）將按照?qǐng)D3.6所示，斷開(kāi)PT二次側(cè)和二次回路的連接
3）將CTPT分析儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至二次負(fù)荷的一端，參見(jiàn)圖3.6
4）將CTPT分析功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至二次負(fù)荷的另一端
5）為了消除接觸電阻的影響，在連接CTPT分析儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)，如圖3.2。
5、PT線圈電阻測(cè)量接線圖
在測(cè)量PT線圈的直流電阻時(shí)，請(qǐng)按照?qǐng)D3.7連接儀器和被測(cè)PT。
1）將CTPT分析儀的接地柱連接到保護(hù)地PE
2）按照?qǐng)D3.7所示，斷開(kāi)被測(cè)PT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接，或是斷開(kāi)PT一次側(cè)與PT一次線路的連接
3）將CPTT分析儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至PT二次側(cè)(或PT一次側(cè))的一端，參見(jiàn)圖3.7
4）將CTPT分析功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至PT二次側(cè)（或PT一次側(cè)）另一端
5）為了消除接觸電阻對(duì)線圈電阻測(cè)量的影響，在連接CTPT分析儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)，如圖3.4。

6、PT匝數(shù)比，極性試驗(yàn)接線圖
在進(jìn)行PT變比或極性試驗(yàn)時(shí)請(qǐng)按照?qǐng)D3.9連接CTPT分析儀和被測(cè)PT，這兩個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目的接線方式是一致的
具體接線步驟和說(shuō)明如下：

圖3.9 PT變比與極性試驗(yàn)接線圖
1）將PT二次側(cè)的一端連接至CTPT分析儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)黑色端子
2）將PT二次側(cè)另一端連接至CTPT分析儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)紅色端子
3）將CTPT分析儀的接地柱連接到保護(hù)地PE
4）將按照?qǐng)D3.9所示，斷開(kāi)被測(cè)PT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接
5）將CTPT分析儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至PT一次側(cè)的一端，參見(jiàn)圖3.9
6）將CTPT分析功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至PT一次側(cè)另一端
7）為了消除接觸電阻對(duì)線圈電阻測(cè)量的影響，在連接CTPT分析儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)，如圖3.4。
7、PT勵(lì)磁試驗(yàn)接線圖
在進(jìn)行PT勵(lì)磁試驗(yàn)時(shí)請(qǐng)按照?qǐng)D3.10連接CTPT分析儀和被測(cè)PT。
執(zhí)行PT勵(lì)磁試驗(yàn)時(shí)，需要外接PT勵(lì)磁試驗(yàn)?zāi)K，以防止發(fā)生高頻振蕩，造成測(cè)試結(jié)果的電流過(guò)大
具體接線步驟和說(shuō)明如下：

1）將PT二次側(cè)的一端連接至CTPT分析儀CT二次側(cè)/PT一次側(cè)黑色端子
2）將PT二次側(cè)另一端連接至CTPT分析儀CT二次側(cè)/PT一次側(cè)紅色端子
3）將PT勵(lì)磁模塊的黃色/黑色線連接至分析儀的功率輸出
4）將PT二次側(cè)的一端連接至PT勵(lì)磁模塊的紅色插座
5）將PT二次側(cè)的另外一端連接至PT勵(lì)磁模塊的黑色插座
6）將CTPT分析儀的接地柱連接到保護(hù)地PE
7）將按照?qǐng)D3.10所示，斷開(kāi)被測(cè)PT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接
8）為了消除接觸電阻對(duì)線圈電阻測(cè)量的影響，在連接CTPT分析儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)，如圖3.4。
注意：PT勵(lì)磁試驗(yàn)完成后，PT一次側(cè)可能有高壓殘留，一定要對(duì)PT一次側(cè)進(jìn)行放電，否則將一次側(cè)再連接到儀器時(shí)，可能造成儀器損耗
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審核編輯 黃宇