氮化鎵快充電源ic U8722DE集成高壓E-Mode GaN FET,為了保障GaN FET工作的可靠性和高系統(tǒng)效率,芯片內(nèi)置了高精度、高可靠性的驅(qū)動電路,驅(qū)動電壓為VDRV (典型值 6.2V)。EMI性能為高頻交直流轉(zhuǎn)換器的設(shè)計難點,為此U8722DE通過DEM管腳集成了驅(qū)動電流分檔配置功能。
如下圖所示,通過配置DEM管腳分壓電阻值,可以選擇不同檔位的驅(qū)動電流,進(jìn)而調(diào)節(jié)GaN FET的開通速度,系統(tǒng)設(shè)計者可以獲得最優(yōu)的EMI性能和系統(tǒng)效率的平衡。不同驅(qū)動電流檔位的DEM電阻推薦值參考下圖(以20V為例)。
當(dāng)芯片結(jié)溫超過TSD (典型值150℃) 時,氮化鎵快充電源ic U8722DE停止工作,進(jìn)入過熱保護。當(dāng)芯片溫度下降至TRC (典型值 120℃),芯片重新啟動。FB管腳電壓反映了系統(tǒng)的功率需求,隨著輸出負(fù)載增大,當(dāng)FB電壓超過VFB_OLP (典型值 3.2V),芯片內(nèi)部的OLP延遲計時使能,計時時間為TOLP_DELAY (典型值 75ms),當(dāng)計時結(jié)束時,芯片觸發(fā)OLP保護,芯片停止工作,進(jìn)入自動重啟保護模式。
一旦檢測到故障,包含VDD過壓保護、過溫保護、輸入欠壓保護、輸出過壓保護、異常過流保護、輸出過流保護、輸出過載保護,氮化鎵快充電源ic U8722DE立即停止開關(guān)動作并進(jìn)入計時狀態(tài),同時VDD電壓被高壓供電電路鉗位到VVDD_REG_ST (典型值12V),經(jīng)過TRECOVERY (典型值 1.3s) 時間后如果故障仍然存在,那么系統(tǒng)將繼續(xù)重復(fù)一個計時動作,如果故障狀態(tài)消失,系統(tǒng)將重新啟動。
氮化鎵快充電源ic U8722DE采用峰值電流控制模式,可以自適應(yīng)的工作在QR和降頻工作模式,從而實現(xiàn)全負(fù)載功率范圍內(nèi)的效率優(yōu)化。在滿載和重載工況下,系統(tǒng)工作在QR工作模式,可以大幅降低系統(tǒng)的開關(guān)損耗。芯片根據(jù)FB電壓值調(diào)節(jié)谷底個數(shù),同時為了避免系統(tǒng)在臨界負(fù)載處的FB電壓波動導(dǎo)致谷底數(shù)跳變,產(chǎn)生噪音,U8722DE采用了谷底鎖定工作模式在負(fù)載一定的情況下,導(dǎo)通谷底數(shù)穩(wěn)定,系統(tǒng)無噪音。隨著負(fù)載的逐漸降低,系統(tǒng)導(dǎo)通的谷底個數(shù)逐漸增加,當(dāng)谷底數(shù)超過6個時,不再檢測谷底電壓,系統(tǒng)進(jìn)入降頻工作模式,通過進(jìn)一步降低開關(guān)頻率,減小開關(guān)損耗,優(yōu)化系統(tǒng)輕載效率。
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:氮化鎵快充電源ic U8722DE優(yōu)化系統(tǒng)輕載效率
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