PIN硅輻射探測IV曲線測試

近日，有客戶找到我們需要測PIN的IV特性，客戶反饋了解過吉時(shí)利2400系列源表測試會(huì)出現(xiàn)屏幕無法顯示曲線問題，了解客戶需求后，為了更好的完成測試，我們及時(shí)做出了一套測試方案，去客戶現(xiàn)場進(jìn)行測試，接下來為大家分享PIN硅輻射探測IV曲線的測試案例！

PIN硅輻射探測器是一種用于探測輻射的半導(dǎo)體探測器，它通常由P型硅、I型硅和N型硅層組成。PIN探測器具有高能分辨率和高探測效率的特點(diǎn)，因此在核物理實(shí)驗(yàn)、醫(yī)學(xué)成像和輻射監(jiān)測等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。

PIN硅輻射探測器的工作原理是通過輻射粒子在探測器中產(chǎn)生的電子空穿和電子空穴引起的電荷移動(dòng)來測量輻射能量。當(dāng)輻射粒子進(jìn)入探測器時(shí)，它會(huì)與硅晶格中的原子發(fā)生相互作用，產(chǎn)生電子空穿和電子空穴。這些電荷在電場的作用下被分離并收集到探測器的電極上，產(chǎn)生一個(gè)電荷脈沖信號(hào)。通過測量這個(gè)信號(hào)的幅度和時(shí)間分布，可以確定輻射粒子的能量和入射位置。

為了確定PIN硅輻射探測器的性能，我們首先使用的是吉時(shí)利2400源表+kickstart上位機(jī)軟件進(jìn)行測試，在測試PIN的IV曲線時(shí)，需要將樣品放在不透光的環(huán)境中，所以在測試時(shí)，我們將樣品放在了一個(gè)密閉的盒子，一鍵測試就可完成。

吉時(shí)利2400源表+kickstart上位機(jī)軟件

測試中可看到我們采用的是吉時(shí)利2400源表+kickstart上位機(jī)軟件可順利完成測試。

此次測試我們更推薦使用2450源表進(jìn)行測試，新款2400圖形化系列源表在外觀上可直接看出較大的區(qū)別，它可實(shí)現(xiàn)觸屏操作，操作更加簡單，在源表屏幕上可以直接顯示IV曲線，不需要上位機(jī)軟件就可直觀看到測試結(jié)果，操作簡單，測試便捷，所以我們更推薦2450系列源表。

審核編輯 黃宇