英飛凌的TC3xx系列是符合ASIL D的MCU,自身帶有很多自檢功能,今天我們來分享下LBIST,邏輯數(shù)字部分的自檢功能。代碼使用AURIX Development studio V1.8版本
TC334平臺LBIST簡介
英飛凌Aurix TC3xx作為滿足ASIL D的32位高性能MCU,提供了大量安全機(jī)制來覆蓋MCU不同的失效模式。針對潛在失效部分,TC3xx有PBIST(電源自檢),LBIST (邏輯自檢), MBIST(內(nèi)存自檢),MONBIST(二級電壓監(jiān)控自檢)等特性來滿足客戶系統(tǒng)級的功能安全需求。
LBIST是一種片上硬件機(jī)制,可用于檢測MCU潛在故障。AURIX TC3xx平臺的LBIST實(shí)現(xiàn)允許對MCU邏輯執(zhí)行定期自檢。LBIST在MCU應(yīng)用模式下的執(zhí)行基于為生產(chǎn)測試而實(shí)施的DFT結(jié)構(gòu),因此可重復(fù)使用MCU中已有的掃描鏈、控制和狀態(tài)機(jī)制。啟動LBIST有兩種可配置的方式:作為啟動序列的一部分或由MCU功能模式下的應(yīng)用軟件啟動。LBIST的執(zhí)行結(jié)果在LBIST結(jié)果和狀態(tài)寄存器中提供,應(yīng)用軟件可利用這些結(jié)果在檢測到潛在故障時(shí)達(dá)到 MCU安全狀態(tài)。
LBIST功能開啟
LBIST執(zhí)行函數(shù)存放于Ifx_Cfg_Ssw.c文件,根據(jù)函數(shù)定義只需將Ifx_Cfg_Ssw.h文件中的IFX_CFG_SSW_ENABLE_LBIST定義改為1,程序就會在SSW執(zhí)行過程中進(jìn)行邏輯自檢。
LBIST功能執(zhí)行函數(shù)
默認(rèn)值為0,寫1打開LBIST
結(jié)果驗(yàn)證
期望簽名
LBISTDONE位顯示為1,表明自上電復(fù)位以來,至少有一次LBIST過程成功執(zhí)行。且SCU_LBISTCTRL3.SIGNATURE為0x740ef25a,與期望配置中的簽名一致,代表邏輯自檢成功。
如若邏輯自檢不成功,則用戶在此處可以進(jìn)行相關(guān)處理。
通過查看以上寄存器的的值,表明LBIST功能成功執(zhí)行。
審核編輯:黃飛
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原文標(biāo)題:LBIST功能開啟
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