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邏輯數(shù)字部分的自檢功能之LBIST

嵌入式程序員 ? 來源:嵌入式程序員 ? 2024-03-29 14:46 ? 次閱讀
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英飛凌的TC3xx系列是符合ASIL D的MCU,自身帶有很多自檢功能,今天我們來分享下LBIST,邏輯數(shù)字部分的自檢功能。代碼使用AURIX Development studio V1.8版本

TC334平臺LBIST簡介

英飛凌Aurix TC3xx作為滿足ASIL D的32位高性能MCU,提供了大量安全機(jī)制來覆蓋MCU不同的失效模式。針對潛在失效部分,TC3xx有PBIST(電源自檢),LBIST (邏輯自檢), MBIST(內(nèi)存自檢),MONBIST(二級電壓監(jiān)控自檢)等特性來滿足客戶系統(tǒng)級的功能安全需求。

LBIST是一種片上硬件機(jī)制,可用于檢測MCU潛在故障。AURIX TC3xx平臺的LBIST實(shí)現(xiàn)允許對MCU邏輯執(zhí)行定期自檢。LBIST在MCU應(yīng)用模式下的執(zhí)行基于為生產(chǎn)測試而實(shí)施的DFT結(jié)構(gòu),因此可重復(fù)使用MCU中已有的掃描鏈、控制和狀態(tài)機(jī)制。啟動LBIST有兩種可配置的方式:作為啟動序列的一部分或由MCU功能模式下的應(yīng)用軟件啟動。LBIST的執(zhí)行結(jié)果在LBIST結(jié)果和狀態(tài)寄存器中提供,應(yīng)用軟件可利用這些結(jié)果在檢測到潛在故障時(shí)達(dá)到 MCU安全狀態(tài)。

LBIST功能開啟

LBIST執(zhí)行函數(shù)存放于Ifx_Cfg_Ssw.c文件,根據(jù)函數(shù)定義只需將Ifx_Cfg_Ssw.h文件中的IFX_CFG_SSW_ENABLE_LBIST定義改為1,程序就會在SSW執(zhí)行過程中進(jìn)行邏輯自檢。

c5a5e85c-ed94-11ee-a297-92fbcf53809c.png

c5b70aec-ed94-11ee-a297-92fbcf53809c.png

LBIST功能執(zhí)行函數(shù)

默認(rèn)值為0,寫1打開LBIST

結(jié)果驗(yàn)證

c5ca3b44-ed94-11ee-a297-92fbcf53809c.png

c5dfa06a-ed94-11ee-a297-92fbcf53809c.png

期望簽名

c5f043e8-ed94-11ee-a297-92fbcf53809c.png

LBISTDONE位顯示為1,表明自上電復(fù)位以來,至少有一次LBIST過程成功執(zhí)行。且SCU_LBISTCTRL3.SIGNATURE為0x740ef25a,與期望配置中的簽名一致,代表邏輯自檢成功。

如若邏輯自檢不成功,則用戶在此處可以進(jìn)行相關(guān)處理。

c5a5e85c-ed94-11ee-a297-92fbcf53809c.png

通過查看以上寄存器的的值,表明LBIST功能成功執(zhí)行。

審核編輯:黃飛

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:LBIST功能開啟

文章出處:【微信號:InterruptISR,微信公眾號:嵌入式程序員】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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