晶棒,通常用于制造半導(dǎo)體材料如單晶硅,是光伏產(chǎn)業(yè)、集成電路等高科技領(lǐng)域的關(guān)鍵部件。制備晶棒是一個(gè)復(fù)雜且需要高精度的過程,主要步驟包括原料準(zhǔn)備、晶體生長、切割和拋光等。
在原料準(zhǔn)備階段,需要選擇高純度的硅材料,確保原料中沒有任何雜質(zhì)和含氣體。隨后,通過特定的設(shè)備和工藝,如采用具有深厚理論基礎(chǔ)和多年從業(yè)經(jīng)驗(yàn)的生產(chǎn)管理團(tuán)隊(duì),以及最新一代自動(dòng)化進(jìn)口設(shè)備和現(xiàn)階段最成熟的生長工藝,進(jìn)行晶體生長。在生長過程中,要保持適宜的溫度和壓力,避免產(chǎn)生過多的氣泡,以保證晶體的穩(wěn)定性和高純度。
完成晶體生長后,晶棒需要進(jìn)行切割和拋光處理。切割主要是根據(jù)實(shí)際需求,將晶棒切割成適當(dāng)長度的段。拋光則是為了使晶棒表面變得光滑,這通常采用化學(xué)機(jī)械拋光方法。
晶棒的質(zhì)量受到空心率的直接影響。為了降低空心率,需要優(yōu)化拉晶設(shè)備的設(shè)計(jì)和操作,如減小截面積、增加拉絲速度、精確控制溫度和拉力等。同時(shí),控制拉晶過程中的氣體排放也是關(guān)鍵,通過合理設(shè)計(jì)氣體排放系統(tǒng),可以有效減少晶棒內(nèi)部的氣體殘留。最后,對晶棒進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢測和篩選,也是確保晶棒質(zhì)量的重要步驟。
對于特定的材料,如磷化銦,制備過程可能會(huì)有所不同。例如,一種高純度磷化銦多晶棒的制備方法可能涉及在高壓爐中設(shè)置坩堝,將高純度銦置于坩堝中,覆蓋高純度無水氧化硼,然后注入高純度磷蒸汽進(jìn)行合成。
晶棒的制備過程主要包括以下步驟:
原料準(zhǔn)備:主要原料是高純度的硅或其他所需材料。將原料放入石英爐或其他專用爐中。
晶體生長:通過加熱使原料熔化成為液態(tài)。晶體生長常采用Czochralski法(直拉法)或其他適當(dāng)?shù)姆椒?。在直拉法中,籽晶被伸至溶液表面,同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)籽晶,反轉(zhuǎn)坩堝,然后緩慢地將籽晶向上提拉,經(jīng)過引晶、縮頸、放肩、轉(zhuǎn)肩、等徑生長、收尾等一系列工藝過程,生長出一根完整的單晶棒。
切割:晶棒通常比較長,需要根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行切割。切割主要采用鉆孔或其他適當(dāng)?shù)姆绞剑瑢⒕О羟懈畛梢欢ㄩL度的段。
拋光:晶棒的切割面通常不夠光滑,需要進(jìn)行拋光處理。拋光主要采用化學(xué)機(jī)械拋光方法,使晶棒表面變得光滑。
晶棒切割工藝流程
晶棒切割工藝流程主要包括以下幾個(gè)步驟:
截?cái)啵ㄈヮ^尾):晶體從單晶爐中取出后,由于頭尾部分不規(guī)則,首先需要進(jìn)行截?cái)嗖僮?,去除頭尾部分。這一步驟通常使用金剛石單線切割機(jī)進(jìn)行。
外徑研磨:由于晶棒在生長過程中外徑尺寸和圓度可能存在偏差,需要對外徑進(jìn)行修整和研磨,使其尺寸和形狀誤差均小于允許偏差。
切片:將修整好的晶棒切割成一定厚度的晶圓片。
圓邊:對切割后的晶圓片進(jìn)行圓邊處理,使其邊緣更加光滑。
表層研磨:對晶圓片表面進(jìn)行研磨,去除表面的瑕疵和不平整部分。
蝕刻:通過蝕刻工藝,對晶圓片表面進(jìn)行進(jìn)一步處理,以滿足特定的工藝需求。
去疵:去除晶圓片表面的微小瑕疵和雜質(zhì)。
拋光:對晶圓片進(jìn)行拋光處理,使其表面達(dá)到極高的光滑度和清潔度。
清洗:對拋光后的晶圓片進(jìn)行清洗,去除表面的殘留物和污染物。
檢驗(yàn):對清洗后的晶圓片進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn),確保其符合規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)和要求。
包裝:將檢驗(yàn)合格的晶圓片進(jìn)行包裝,以便后續(xù)的運(yùn)輸和使用。
晶棒切割過程隱裂的原因
晶棒切割過程中出現(xiàn)隱裂的原因可能涉及多個(gè)方面。以下是一些可能的原因:
溫度場不均:在晶棒的制備過程中,溫度場的分布對晶體的生長和質(zhì)量有著極大的影響。如果溫度場不均勻,可能會(huì)導(dǎo)致晶體內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力,從而在切割過程中或切割后晶棒尾部出現(xiàn)隱裂。
晶體生長速度:晶體生長速度過快同樣可能導(dǎo)致晶體內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力,增加切割時(shí)產(chǎn)生隱裂的風(fēng)險(xiǎn)。
籽晶不匹配:籽晶與晶棒的匹配度不高,也可能導(dǎo)致晶棒在切割過程中或之后出現(xiàn)隱裂。
機(jī)械應(yīng)力:切割過程中,機(jī)械應(yīng)力(如切割刀的壓力、切割速度等)的不當(dāng)應(yīng)用也可能導(dǎo)致晶棒隱裂。
原料純度與設(shè)備精度:原料的純度不高或設(shè)備精度不足也可能影響晶體的質(zhì)量,從而在切割時(shí)產(chǎn)生隱裂。
為了減少晶棒切割過程中的隱裂問題,需要綜合考慮上述因素,對制備工藝、設(shè)備精度、原料質(zhì)量等進(jìn)行優(yōu)化和調(diào)整。同時(shí),對切割過程中的機(jī)械應(yīng)力進(jìn)行精確控制,確保切割過程的穩(wěn)定性和安全性。
具體原因可能因?qū)嶋H生產(chǎn)環(huán)境和條件的不同而有所差異。
審核編輯:黃飛
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