國(guó)內(nèi)首款自研的DFT EDA工具IMPERATA重磅發(fā)布

產(chǎn)品概述

IMPERATA是簡(jiǎn)矽自主研發(fā)的一款DFT EDA工具。它提供了一整套解決方案，用于在集成電路設(shè)計(jì)過程中實(shí)現(xiàn)測(cè)試和驗(yàn)證的自動(dòng)化。IMPERATA工具包括了多種先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，如Boundary Scan、MBIST（Memory Built-In Self-Test）、iJTAG（Internal Joint Test Action Group）測(cè)試等。通過這些技術(shù)，IMPERATA可以幫助設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)階段就考慮測(cè)試需求，從而提高芯片的可測(cè)試性，減少制造時(shí)的測(cè)試成本和時(shí)間。

功能介紹

1. iJTAG（IEEE 1687）測(cè)試

實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片內(nèi)部各個(gè)功能模塊的全面測(cè)試。該功能使得用戶能夠輕松地實(shí)現(xiàn)iJTAG測(cè)試架構(gòu)的配置和控制，幫助用戶快速構(gòu)建和定制符合特定需求的測(cè)試解決方案，從而大大簡(jiǎn)化了測(cè)試流程。

2. JTAG（IEEE 1149.1）測(cè)試

工具支持通過測(cè)試芯片上的JTAG端口對(duì)芯片進(jìn)行訪問和控制，以執(zhí)行測(cè)試操作。

3. Boundary Scan測(cè)試

提供一套完整的Boundary Scan測(cè)試解決方案。IMPERATA的Boundary Scan測(cè)試功能包括了掃描鏈的生成、測(cè)試向量的生成、以及與JTAG接口的交互等功能。用戶可以輕松地配置和管理Boundary Scan測(cè)試，以滿足不同的測(cè)試需求和目標(biāo)。

4. MBIST測(cè)試

提供一套完整的針對(duì)RAM和ROM的測(cè)試解決方案。IMPERATA的MBIST測(cè)試功能包括了MBIST IP的生成、與iJTAG接口的交互以及生成測(cè)試向量等功能。對(duì)于RAM提供了9種測(cè)試算法，以滿足不同的測(cè)試需求和目標(biāo)。

5. 自動(dòng)生成DFT解決方案

支持自動(dòng)分析design，生成DFT architect，幫助用戶優(yōu)化測(cè)試策略。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 高度自動(dòng)化

在運(yùn)行IMPERATA工具之前，用戶可以將所有配置寫入一個(gè)文件中，執(zhí)行該文件即可完成工具運(yùn)行，無需人工干預(yù)。

2. 自主研發(fā)

IMPERATA工具從設(shè)計(jì)到開發(fā)完全采用自主開發(fā)的程序，不依賴任何國(guó)外工具，實(shí)現(xiàn)了完全自主的國(guó)產(chǎn)化。

3. 操作簡(jiǎn)便

即使是DFT經(jīng)驗(yàn)有限的新手，也可以使用IMPERATA生成一套工具推薦的DFT解決方案，無需過度依賴DFT經(jīng)驗(yàn)。

4. 穩(wěn)定性和適用性高

IMPERATA工具具備完整的異常處理機(jī)制，運(yùn)行中出現(xiàn)異常情況時(shí)，會(huì)向用戶提供詳細(xì)的報(bào)錯(cuò)信息和日志，確保了工具的穩(wěn)定性和適用性。

審核編輯：劉清