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半導(dǎo)體行業(yè)之晶圓制造與封裝概述(四)

FindRF ? 來(lái)源:FindRF ? 2024-01-26 09:29 ? 次閱讀

基本的十步圖案過(guò)程

有許多單獨(dú)的模式處理步驟,這些處理步驟標(biāo)識(shí)了器件的數(shù)量、器件的具體結(jié)構(gòu),器件中堆疊層的組合方式,并且可以在物理尺寸的層面上繼續(xù)縮小。然而,在下所示的結(jié)構(gòu)當(dāng)中,詳細(xì)介紹了一個(gè)基本的十步模式過(guò)程。關(guān)于這個(gè)工藝的具體細(xì)節(jié)和演變過(guò)程我們將會(huì)在后續(xù)的章節(jié)當(dāng)中非常深入的加以討論。

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摻雜過(guò)程

摻雜過(guò)程就是將特定數(shù)量的具有電活性特性的摻雜劑放入進(jìn)晶圓片表面的過(guò)程,這個(gè)過(guò)程通常會(huì)通過(guò)在材料表層的開(kāi)窗的位置來(lái)具體實(shí)現(xiàn)(如下圖中所示)。這兩種技術(shù)可以稱之為離子注入技術(shù)和熱擴(kuò)散技術(shù),具體的實(shí)現(xiàn)過(guò)程我們將會(huì)在后續(xù)的章節(jié)當(dāng)中詳細(xì)介紹。

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熱擴(kuò)散是一種較老的摻雜過(guò)程,使用的是非常經(jīng)典的化學(xué)過(guò)程,當(dāng)晶圓片被加熱到1000°C附近并暴露于蒸汽時(shí),然后放置適當(dāng)?shù)膿诫s劑就可以實(shí)現(xiàn)。擴(kuò)散的一個(gè)常見(jiàn)例子是除臭劑的擴(kuò)散過(guò)程,氣體蒸汽從加壓罐中釋放后,自然會(huì)擴(kuò)散進(jìn)入房間。同樣的道理,摻雜原子水蒸氣通過(guò)一定的化學(xué)過(guò)程進(jìn)入到暴露的晶片表面,然后擴(kuò)散在晶圓片表面形成薄層。在微芯片應(yīng)用中,擴(kuò)散也被稱為固態(tài)擴(kuò)散,因?yàn)榫A材料是固體而得名。擴(kuò)散摻雜是一種化學(xué)過(guò)程。摻雜劑的擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)主要是受物理定律支配。

離子注入摻雜是一個(gè)物理過(guò)程。晶圓片裝載在一端,另一端加入注入劑和摻雜源(通常為氣體形式)。在源端,摻雜原子被電離(賦予電荷),然后加速到高速,掃過(guò)晶圓表面。原子的動(dòng)量攜帶著它們進(jìn)入晶圓表面,就像炮彈從大炮中射出,嵌在墻上一樣。

摻雜操作的目的是在晶圓片表面形成口袋(如下圖所示),要么富含電子(n型),要么富含電空穴(P型)。這些口袋形成了電活性區(qū)域和所需的N-P結(jié)用于電路中晶體管二極管、電容器電阻器的制備過(guò)程。

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熱處理

熱處理是對(duì)晶圓片進(jìn)行加熱和冷卻的操作,并且可以取得特定結(jié)果(如下圖所示)。在熱處理操作中(見(jiàn)下圖),我們可以從晶圓片中添加或除去額外的材料。然而,在晶圓片上或在晶圓片中會(huì)有一定的污染物的引入。

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離子注入過(guò)程之后還要進(jìn)行一個(gè)重要的過(guò)程,這就是熱處理過(guò)程。在植入摻雜原子過(guò)程當(dāng)中,會(huì)在晶圓的表面造成一些破壞點(diǎn),它們?cè)诮?jīng)過(guò)1000°C左右的熱處理之后晶體結(jié)構(gòu)就可以被修復(fù),這一個(gè)重要的過(guò)程被稱為退火過(guò)程。另一種熱處理的方式一般放置在金屬導(dǎo)電條紋形成之后再進(jìn)行。這些條紋在電路中的設(shè)備之間傳輸電流

為了確保好的導(dǎo)電性能,金屬經(jīng)熱處理后融化到晶圓片表面,這個(gè)操作一般需要在450°C的溫度下進(jìn)行。第三個(gè)重要的熱處理是晶圓片的加熱過(guò)程,在這個(gè)過(guò)程當(dāng)中會(huì)用光刻膠層來(lái)去除印制準(zhǔn)確圖案的溶劑。




審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:半導(dǎo)體行業(yè)(二百三十八)之晶圓制造與封裝概述(四)

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