在5G和高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)漠斍?,設(shè)計和生產(chǎn)中往往會隱藏著很多問題小魔鬼,只有知其然,才能更好地找到解決之道。
不管是高速電路、高頻電路還是毫米波,只要是電子產(chǎn)品基本都需要使用到PCB。PCB板的加工是一個非常復雜的系統(tǒng)工程,涉及到各個方面的問題,比如PCB材料、藥水、加工工藝等等。在這個過程中會有很多因素對傳輸線的阻抗造成影響,比如PCB材料所涉及的銅箔厚度、介質(zhì)厚度、介電常數(shù)、介質(zhì)損耗角的影響,加工中涉及到的蝕刻因子(Etch),蝕刻藥水的特性、加工穩(wěn)定性等等。本文將從仿真的角度分析其中幾個影響因子對SI阻抗的影響,當我們分析阻抗問題的時候可以多個思路。
1、傳輸線的線寬
在以前的文章中介紹了很多關(guān)于線寬影響信號完整性的內(nèi)容,我們知道線寬會直接影響到傳輸線的阻抗和損耗。大多數(shù)優(yōu)秀工程師都會在給PCB生產(chǎn)商出Gerber時規(guī)定好線寬調(diào)整的范圍,比如當線寬設(shè)計為6.2時,其阻抗為50ohm:
如果PCB在生產(chǎn)過程中工藝不穩(wěn)定,導致線寬變化。依據(jù)與很多數(shù)廠商合作過的經(jīng)驗看來,傳輸線線寬的變化會在10%左右,所以把線寬變化的類型設(shè)置為Gauss分布,std設(shè)置為10%,進行統(tǒng)計學分析,在ADS CILD中仿真分析結(jié)果如下:
從結(jié)果上分析,阻抗最低會達到46ohm,而最高達到了58ohm;如果是在一段很長的傳輸線上,出現(xiàn)極端的狀態(tài)是會存在的,那這時就會導致回波損耗比較大,同樣插入損耗也有所增加。
2、銅箔/鍍銅厚度
在PCB產(chǎn)品中,銅厚分為基銅厚度和鍍銅厚度,基銅一般會比較均勻(這是相對的,其實也并不是完全均勻的),而鍍銅的均勻性會隨著工廠穩(wěn)定性不同而不同,有的相差還比較大。鍍銅厚度不同,同樣會導致傳輸線阻抗和損耗的變化。把鍍銅的變化范圍假定為10%,在ADS CILD中進行統(tǒng)計分析,結(jié)果如下:
從結(jié)果分析來看,阻抗主要在49.5到51ohm之間變化。相對于線寬而言,變化區(qū)間會小不少。
3、介質(zhì)的厚度
在PCB生產(chǎn)中,介質(zhì)厚度變化的主要來源是原材料和生產(chǎn)過程中的壓合以及填膠。如果介質(zhì)厚度變化,會造成阻抗的變化,以及損耗的變化,嚴重的情況會導致傳輸線很大的損耗。
從結(jié)果上分析,阻抗變化分布在44ohm到54ohm之間。阻抗變化的范圍達到了10ohm之多。
4、蝕刻因子
由于導體都是有一定厚度的,所以在生產(chǎn)中導致蝕刻出來的導線并不是一個標準的“矩形”結(jié)構(gòu),而是一個接近于“梯形”的結(jié)構(gòu)(其實真實的狀況也并不是完全的梯形結(jié)構(gòu)),如下圖所示為導體的一個示意圖:
這個梯形的角度會隨著銅厚的變化而變化(鍍銅亦是如此),厚度越薄,角度越接近90°。這個角度的大小會影響到阻抗的大小。如下圖所示為90°與70°結(jié)果的對比:
當角度為70°時,阻抗約為50ohm;當角度為90°時,阻抗約為48.37ohm。
以上都是在單個因素變化下做的實驗,而在生產(chǎn)過程中,并不是單一變量的變化,可能會同時發(fā)生。如果同時發(fā)生,那么其統(tǒng)計結(jié)果如下圖所示:
從結(jié)果中可以看到阻抗主要在40ohm到56ohm之間變化,這個已經(jīng)遠遠超過了一般50±10%的要求。而在整個生產(chǎn)過程中還不止這些參數(shù)的變化會導致阻抗的變化。所以對于高速高頻電路的產(chǎn)品,或者是高端產(chǎn)品,整個PCB設(shè)計和生產(chǎn)過程中都要嚴格控制好每一種物料以及每一個環(huán)節(jié),否則就會導致產(chǎn)品出現(xiàn)一些意想不到的問題。
審核編輯:劉清
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