MOS管(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor,MOSFET)是一種利用電場效應來控制其電流大小的半導體三端器件,很多特性和應用方向都與三極管類似。這種器件不僅體積小、質量輕、耗電省、壽命長、而且還具有輸入阻抗高、噪聲低、熱穩(wěn)定性好、抗輻射能力強等優(yōu)點,應用廣泛,特別是在大規(guī)模的集成電路中。
MOS管結構和分類
根據(jù)導電溝道的不同,MOS管可分為N溝道和P溝道兩類,每一類又分為增強型和耗盡型兩種。所以MOS管可分為四大類:N溝道消耗型、N溝道增強型、P溝道消耗型、 P溝道增強型?,F(xiàn)在以N溝道器件為例來介紹一下MOS管的工作原理。
如上圖所示,N溝道增強型MOS管的結構示意圖。它以低摻雜的P型硅材料作襯底,在上面制造兩個高摻雜的N型區(qū),分別引出兩個電極,作為源極s和漏極d,在P型襯底的表面覆蓋一層很薄的氧化膜(二氧化硅)絕緣層,并引出電極作為柵極g。這種場效應管的柵極g和P型半導體襯底、漏極d及源極s之間都是絕緣的,所以也稱為絕緣柵場效應管。
MOS管工作原理
MOS管的基本工作原理是利用柵源電壓去控制漏極電流,但漏極和源極之間不存在原始導電溝道,所以工作時還需要先建立。
①建立導電溝道
如圖所示,當外加正向的柵源電壓VGS>0時,在柵極下方的氧化層上出現(xiàn)上正下負的電場,該電場將吸引P區(qū)中的自由電子,使其在氧化層下方聚集,同時會排斥P區(qū)中的空穴,使之離開該區(qū)域。VGS越大電場強度越大,這種效果越明顯。當VGS達到VT時,該區(qū)域聚集的自由電子濃度足夠大,而形成一個新的N型區(qū)域,像一座橋梁把漏極和源極連接起來。該區(qū)域就稱為N型導電溝道,簡稱N溝道,而Vt就稱為開啟電壓,VGS>VT是建立該導電溝道的必備條件。
②建立漏極電流
當溝道建立之后,如果漏極之間存在一定的驅動電壓VDS。當漏極電壓VDS出現(xiàn)之后,漏極電位高于源極,故VGS>VGD,所以造成氧化層上的電場分布不均勻,靠近源極強度大,靠近漏極強度弱,相應的導電溝道也就隨之變化:靠近源極處寬,靠近漏極處窄。
所以,MOS管的漏極電流Id主要受電壓VGS和VDS的影響,前者通過控制導電溝道來影響Id,后者直接作為驅動來影響Id。但需要再次強調,如果導電溝道沒有建立的話,只有VDS,漏極電流是不會出現(xiàn)的。
MOS管主要特性
①高輸入阻抗:MOS管柵電極和源漏區(qū)之間有絕緣層,只有微弱的柵電流,所以MOS管的輸入阻抗很高,接近于無窮大。
②低輸出阻抗:由于MOS管是電壓控制器件,其源漏間電流可隨輸入電壓的改變而改變,所以其輸出阻抗很小。
③恒流性:MOS管在飽和區(qū)工作時,即使源漏電壓有所變化,其電流也幾乎不變,因此MOS管具有很好的恒流性。
MOS管常用參數(shù)
Vgs:柵源極最大驅動電壓,MOS管的一個極限參數(shù),表示MOS管所能承受的最大驅動電壓。一旦驅動電壓超過這個極限值,會對MOS管的柵極氧化層造成永久性傷害。
VDS:漏源電壓,表示MOS管漏極與源極之間能夠承受的最大電壓值。該參數(shù)與結溫有關系,通常結溫越高,VDS值最大。
RDS(on):漏源導通電阻,是MOS管充分導通時漏-源極之間的等效電阻。該參數(shù)與結溫和驅動電壓Vgs相關。在一定范圍內,結溫越高,Rds越大;驅動電壓越高,Rds越小。
MOS管處于導通狀態(tài)下的阻抗。導通阻抗越大,開啟狀態(tài)時的損耗越大。因此,要盡量減小MOS管的導通阻抗。
導通時的功耗:
Qg:柵極電荷,是在驅動信號作用下,柵極電壓從0V上升至終止電壓所需的充電電荷。也就是MOS管從截止狀態(tài)到完全導通狀態(tài)時驅動電路所需提供的電荷,是一個用于評估MOS管的驅動電路驅動能力的主要參數(shù)。
Id:漏極電流,它表示當殼溫處于某值時,如果MOS管工作電流為上述最大漏極電流,則結溫會達到最大值。該參數(shù)還與器件封裝和環(huán)境溫度有關。
Eoss:輸出電容能量,表示輸出電容Coss在MOS管存儲的能量大小。
根據(jù)MOS管的工作原理和特性,不難發(fā)現(xiàn),它與三極管特性極其相似,都可以作為放大器件使用,如構成反向放大器、電壓跟隨器和電流跟隨器等,兩種器件構成的放大電路各有優(yōu)點,MOS管放大電路輸入阻抗高、噪聲低、三極管放大電路放大能力強,實際應用中常常都是把兩者結合使用。
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