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什么是電源溫升測(cè)試?溫升測(cè)試方法有哪些?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-01-11 15:15 ? 次閱讀

溫升測(cè)試是電器產(chǎn)品安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一,是為了檢測(cè)電器產(chǎn)品及部件的溫度變化情況,判斷是否符合要求。在設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中會(huì)釋放一定的熱量,如果內(nèi)部溫度過(guò)高會(huì)影響產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性,導(dǎo)致絕緣性能下降,因此溫升測(cè)試是確保產(chǎn)品穩(wěn)定運(yùn)行的重要步驟。那么如何進(jìn)行溫升測(cè)試呢?

1.熱敏電阻

最常用的溫升測(cè)試方法之一,通過(guò)在待測(cè)品表面粘貼一個(gè)熱敏電阻,利用電阻值和溫度的關(guān)系來(lái)反推器件的溫度。熱敏電阻法測(cè)試簡(jiǎn)單快速,適用于對(duì)溫升要求不高的場(chǎng)景。

2.紅外熱成像法

該方法利用紅外熱成像儀測(cè)量被測(cè)試器件表面的紅外輻射能量,進(jìn)而獲得器件的溫度分布圖像。紅外熱成像法測(cè)量精度高,適用于對(duì)溫升要求較高的場(chǎng)景。

3. 熱電偶法

該方法是通過(guò)熱電偶存在熱電效應(yīng)原理來(lái)進(jìn)行溫升測(cè)試。由于兩種金屬電子密度不同,相接觸后在聯(lián)接點(diǎn)會(huì)發(fā)生自由電子轉(zhuǎn)移,由自由電子多的導(dǎo)體向自由電子少的導(dǎo)體方向滲透,形成接觸電動(dòng)勢(shì)。溫度高則電動(dòng)勢(shì)高。

在進(jìn)行溫升測(cè)試時(shí)需要注意:

1. 測(cè)試環(huán)境要穩(wěn)定,包括室內(nèi)空氣溫度、濕度等,避免影響測(cè)試結(jié)果。

2. 測(cè)量精度、穩(wěn)定性要求。測(cè)試儀器要選用精確穩(wěn)定的設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,避免儀器誤差。

3. 測(cè)量參數(shù)的設(shè)定,比如測(cè)試時(shí)間、冷卻時(shí)間、運(yùn)行時(shí)間等。

溫升測(cè)試需要注意并記錄溫度變化曲線(xiàn),判斷是否在正常范圍內(nèi)。手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)比較浪費(fèi)時(shí)間,且容易出現(xiàn)誤差。ATECLOUD-POWER智能測(cè)試系統(tǒng)致力于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試,用該系統(tǒng)測(cè)試溫升變化,靈活性強(qiáng),可以自動(dòng)采集存儲(chǔ)數(shù)據(jù),并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行整體分析,節(jié)省測(cè)試時(shí)間,提高測(cè)試效率,確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

審核編輯 黃宇

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