達(dá)6000條測試用例！憶聯(lián)消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)室向業(yè)界標(biāo)桿看齊

為賦能千行百業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型，作為國內(nèi)領(lǐng)先的SSD存儲(chǔ)方案提供商，憶聯(lián)建立消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)室，構(gòu)建消費(fèi)級(jí)SSD全生命周期測試，開展性能測試、兼容性測試、功能測試、環(huán)境應(yīng)力測試、可靠性測試、電器檢測，保障用戶數(shù)據(jù)安全，為終端用戶打造極致的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)體驗(yàn)。

憶聯(lián)消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)室面積約1000平方米，配備筆記本電腦、Chromebook等大量終端設(shè)備，并擁有固態(tài)硬盤常溫測試系統(tǒng)、固態(tài)硬盤環(huán)境應(yīng)力測試系統(tǒng)、協(xié)議分析儀、數(shù)字采集儀等眾多先進(jìn)的測試驗(yàn)證設(shè)備。實(shí)驗(yàn)室規(guī)模和設(shè)備先進(jìn)性均處于業(yè)界領(lǐng)先地位，可充分保障存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)工作的科學(xué)性和準(zhǔn)確性。

覆蓋消費(fèi)級(jí)SSD全生命周期測試

一流測試設(shè)備，筑牢質(zhì)量根基

憶聯(lián)消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)室擁有業(yè)界一流的硬件測試設(shè)備，可執(zhí)行電源測試，PCIe、DRAM、NAND Flash等各類高低速信號(hào)測試及硬件可靠性測試，保障信號(hào)的完整性和傳輸速率，為客戶提供高運(yùn)維效率。

測試覆蓋范圍廣，保障多樣化用戶體驗(yàn)

在系統(tǒng)級(jí)測試驗(yàn)證方面，聚焦產(chǎn)品的性能、掉電、兼容性、功耗、功能、協(xié)議一致性，包括讀寫、環(huán)境應(yīng)力、溫控、加密等測試；其中，CSSD測試用例已達(dá)6000條，涵蓋系統(tǒng)級(jí)別和單體級(jí)別測試；測試用機(jī)覆蓋主流CPU和平臺(tái)類型。目前，實(shí)驗(yàn)室的測試用例仍在持續(xù)開發(fā)中，測試平臺(tái)、測試儀器也在不斷迭代，力爭通過構(gòu)筑全方位、多場景的測試環(huán)境，為用戶提供高品質(zhì)的消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)產(chǎn)品。

全方位可靠性試驗(yàn)，為用戶提供質(zhì)量卓越的產(chǎn)品

以打造高可靠性、高質(zhì)量的產(chǎn)品為目標(biāo)，在可靠性測試驗(yàn)證方面，憶聯(lián)深耕介質(zhì)顆粒測試調(diào)優(yōu)。憑借業(yè)界領(lǐng)先的ATE測試機(jī)、高低溫沖擊機(jī)等設(shè)備，進(jìn)行NAND顆粒IO Characterization、NAND顆粒Device Qualification、NAND顆粒EFA分析，通過全方位測試，打造卓越客戶體驗(yàn)。

實(shí)驗(yàn)室配備大量終端設(shè)備

隨著測試用例規(guī)模不斷擴(kuò)大、測試效率以及測試前置不斷改善，憶聯(lián)大幅度縮短與業(yè)界標(biāo)桿的差距，產(chǎn)品質(zhì)量已位于行業(yè)前列。

目前，依托于實(shí)驗(yàn)室的領(lǐng)先性，憶聯(lián)主導(dǎo)制定的消費(fèi)級(jí)固態(tài)硬盤標(biāo)準(zhǔn)已正式發(fā)布，將為促進(jìn)產(chǎn)業(yè)穩(wěn)固發(fā)展提供技術(shù)支撐。在未來，憶聯(lián)將持續(xù)緊密圍繞客戶應(yīng)用場景，以消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)室為基礎(chǔ)，結(jié)合扎實(shí)的研發(fā)能力和技術(shù)創(chuàng)新能力，為客戶提供更高品質(zhì)的消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)產(chǎn)品，助力客戶與“數(shù)”俱進(jìn)。