HMDS,BARC是光刻工序中比較常用的化學(xué)品,但是它們并不能用顯影液除去,根據(jù)是什么?它們一定要除去嗎?有哪幾種去除的方式?
HMDS,BARC是什么?
之前已有介紹,見文章: 氣相 HMDS工序介紹 芯片制造中的抗反射層(TRAC&BRAC) 這里大概說一下,氣相HMDS主要是用來增黏的作用,BARC主要是用來減輕光的干涉的作用。氣相HMDS是將晶圓表面暴露于蒸汽態(tài)的 HMDS,而BARC則是通過旋涂的方式。
顯影液為什么無法除去HMDS,BARC?
我們先從它們的成分說起。HMDS,中文名六甲基二硅氮烷,是一種有機(jī)物,在水中的溶解性很低,但它可與多種有機(jī)溶劑混溶,比如醇、醚和多數(shù)非極性溶劑。BARC也主要以有機(jī)物為主。而顯影液一般是堿性的,因此顯影液一般無法將HMDS,ARC完全去除。 但是正膠在曝光后,會(huì)包含羧基的物質(zhì),而羧基(-COOH)可以和堿性物質(zhì)反應(yīng),因此光刻膠是可以被去除。
HMDS,BARC一般有多厚?
HMDS是一種單分子層的表面改性,所以它的厚度非常薄,通常在幾埃(1埃 = 0.1納米)至幾十埃的范圍內(nèi)。 而BARC的厚度較HMDS要厚,一般根據(jù)其要阻止的光的波長(zhǎng)和光刻膠的厚度來設(shè)計(jì)。對(duì)于BARC,厚度通常在幾十納米到幾百納米之間。
HMDS,BARC不除干凈會(huì)有哪些問題?
HMDS,BARC除不干凈,就相當(dāng)于在晶圓的表面夾雜了一層有機(jī)物層,對(duì)后面的半導(dǎo)體工序影響很大。特別是光刻與鍍膜工序,
對(duì)后續(xù)光刻的影響:
1,導(dǎo)致接下來的光刻膠附著不牢固,引起光刻膠剝離。
2,影響光刻膠的曝光,導(dǎo)致光刻圖案的尺寸不準(zhǔn)確或邊緣粗糙 等
對(duì)后續(xù)鍍膜的影響;
1,可能會(huì)影響后續(xù)膜層的附著力,導(dǎo)致新沉積的膜層在后續(xù)的加工步驟中出現(xiàn)脫落。
2,可能會(huì)導(dǎo)致鍍膜時(shí)新膜層的不均勻性,形成針孔或其他缺陷。 等
用什么方法清除HMDS,TARC?
溶劑清洗:可以使用有機(jī)溶劑溶劑(如異丙醇)來清洗晶圓,以去除多余的HMDS,但這種方法并不能完全除去HMDS,TARC,可能有少量的殘留。
等離子清洗:在一些工序前后,使用氧離子體清洗步驟來去除晶圓上的有機(jī)殘留物,包括HMDS,TARC。這種清洗方法可以將很薄的HMDS,TARC涂層完全清洗干凈。
怎么檢測(cè)晶圓表面是否清洗干凈?
紅外光譜分析:可用于檢測(cè)特定化學(xué)基團(tuán)的存在,如HMDS中的硅烷基團(tuán)。
原子力顯微鏡(AFM):可以用于檢測(cè)表面粗糙度的變化,表面殘留物較多,粗糙度較大。
FIB:利FIB檢查晶圓截面,觀察有無大面積膜層殘留。
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:HMDS,BARC是如何除去的?
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