串行數據發(fā)生器電路原理圖

使用數據發(fā)生器測試電路

數據生成器提供了一種簡單的電路測試方法，無需復雜的軟件。所有必要的組件都很容易接近。該電路設計圍繞 SDA3002 型電路的時序進行構建，采用三線連接而不是兩線 I2C 格式。在僅需要單個固定數據字的情況下，可以省略 DIP 開關 S2 和 S3 以及八倍拉電阻陣列。這導致 IC3 和 IC4 的輸入保持在固定電平。該發(fā)生器的基礎是兩個級聯(lián)移位寄存器（IC3 和 IC4），用作與串行轉換器并行運行的 16 位寄存器。

時鐘生成和初始化

IC2 提供時鐘，通過使用按鈕開關 S1 設置雙穩(wěn)態(tài) IC1a.b 來啟動。按下 S1 后，通過微分網絡 R1 和 C1 施加 100 脈沖以設置雙穩(wěn)態(tài)的輸入。電容器通過 R2 放電。值得注意的是，即使按住 S1，脈沖持續(xù)時間也保持恒定。這對于防止時序差異至關重要，因為超過半個時鐘周期可能會導致問題。 IC1b 的輸出用作被測電路的使能信號。啟動脈沖還有助于將用 DIP 開關配置的邏輯電平加載到移位寄存器上。只要引腳 1 處的信號為低電平，寄存器就接受并行數據，這強調了短啟動脈沖的必要性。

測試周期啟動和時鐘生成

整個測試周期的開始由啟動信號標記。參見圖2的時序圖，IC2的輸出23經過IC1d反相，作為移位寄存器的時鐘源。這種安排可確保 D0 在整個時鐘周期內保持在輸出狀態(tài)，持續(xù) 1.25 ms。當達到高輸出 18 次時，雙穩(wěn)態(tài)復位，IC1 的輸出 23（與 IC2 的輸出 25 和 28 連接）將啟用線拉低，結束周期。

可變位移位和雙穩(wěn)態(tài)加法

在此圖中，總共 18 位經歷了移位。兩個最高有效位 (MSB) 受 IC3 串行輸入的影響。如果該輸入寄存器為高電平，則 D16 和 D17 被設置為“1”。如果需要靈活地使這些位成為變量，則必須引入一個或兩個作為移位寄存器連接的附加雙穩(wěn)態(tài)。當所有位都為高電平時，發(fā)生器的電流消耗（主要由下拉電阻決定）仍然非常低，約為 80。按下 S1 后，振蕩器會短暫激活，使電流加倍。