幾何量公差與檢測基本原理及測量儀器

三本精密儀器小編獲悉，在現(xiàn)代科技的發(fā)展中，幾何量測量已經(jīng)成為許多工程領(lǐng)域不可或缺的一部分。通過準(zhǔn)確測量物體的形狀、尺寸等幾何屬性，可以為產(chǎn)品設(shè)計、機械加工、工程測量等提供重要的依據(jù)。如何進行幾何量測量以及如何選擇合適的儀器？

幾何量測量主要涉及到長度、角度、形狀等幾個方面，其中長度測量是最基本也是最常用的一種。長度測量的基本原理是利用測量儀器的刻度尺或測量傳感器，通過對物體兩個端點之間的距離進行測量，從而確定物體的長度。而角度測量則是通過測量物體之間的夾角來確定物體的角度。形狀測量則是通過測量物體表面的曲率、彎曲程度等指標(biāo)，來描述物體的形狀特征。

傳統(tǒng)的幾何量測量儀器包括千分尺、角度尺、游標(biāo)卡尺等，這些儀器能夠滿足一般的幾何量測量需求。但是隨著科技的發(fā)展，越來越多高精度測量儀器被應(yīng)用于幾何量測量領(lǐng)域。從納米級光學(xué)3D表面輪廓儀通過光學(xué)原理測量物體的三維形狀，到百米級激光跟蹤儀高精度（μm級）、大工作空間（百米級）的坐標(biāo)和空間姿態(tài)測量，大大提高了幾何量測量的精度和效率：

1、光學(xué)3D表面輪廓儀
SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，從0.1nm級別的超光滑表面到數(shù)十微米級別的粗糙度表面，儀器均能實現(xiàn)高精度測量。

2、三坐標(biāo)測量機
MarsClassic系列三坐標(biāo)是國產(chǎn)三坐標(biāo)測量機，控制器、測頭測座、軟件全自主研發(fā)，安全可控。最大允許示值誤差（1.5+L/350）μm，測量行程從500mmx700mmx500mm延伸到800mmx1000mmx600mm，提供了豐富的計量解決方案。

3、粗糙度輪廓儀
SJ57系列粗糙度輪廓儀一體機一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數(shù)。SJ5730具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達(dá)0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。納米級大量程粗糙度測量，高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性特點，是大曲面測量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測量的利器。

4、全自動影像儀
Novator系列全自動影像儀0.1μm的光柵顯示分辨率，結(jié)合飛拍測量、圖像拼接、環(huán)光獨立升降、圖像匹配、無接觸3D掃描成像等功能，多方面滿足測量需求。