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電子芯片與光子芯片的3D集成方式

MEMS ? 來源:MEMS ? 2023-12-20 11:01 ? 次閱讀
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據(jù)麥姆斯咨詢介紹,人工智能AI)以及更具體的大型語言模型(例如ChatGPT)的最新進(jìn)展給數(shù)據(jù)中心帶來了壓力。人工智能模型需要大量的數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練,為了在處理單元和內(nèi)存之間移動數(shù)據(jù),高效的通信鏈路變得非常必要。

對于長距離通信,光纖幾十年來一直是首選解決方案。對于短距離數(shù)據(jù)中心內(nèi)的通信,由于光纖與傳統(tǒng)電氣鏈路相比具有出色的性能,業(yè)界現(xiàn)在也開始采用光纖。

最近的技術(shù)發(fā)展現(xiàn)在甚至可以在非常短的距離內(nèi)從電氣互連切換到光互連,例如同一封裝內(nèi)的芯片之間的通信。這需要將數(shù)據(jù)流從電域轉(zhuǎn)換到光域,這發(fā)生在光收發(fā)器中。硅光子學(xué)是制造這些光收發(fā)器中使用最廣泛的技術(shù)。

通過3D堆疊實現(xiàn)集成,但不可忽視熱影響

封裝內(nèi)的有源光子器件(例如調(diào)制器和光電探測器)仍然需要與電子驅(qū)動器連接,以便為器件供電并讀取傳入數(shù)據(jù)。通過3D堆疊技術(shù)將電子芯片(EIC)堆疊在光子芯片(PIC)之上,可實現(xiàn)芯片之間非常緊密的集成,并且寄生電容很低。

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電子芯片與光子芯片的3D集成

近期,比利時的研究人員對這種利用3D堆疊方式實現(xiàn)集成的熱影響進(jìn)行了研究,并在Journal of Optical Microsystems期刊上發(fā)表了相關(guān)論文進(jìn)行介紹。

光子芯片的設(shè)計由環(huán)形調(diào)制器陣列組成,這些調(diào)制器以其溫度敏感性而聞名。為了在數(shù)據(jù)中心等要求苛刻的環(huán)境中工作,它們需要主動熱穩(wěn)定。這是通過集成加熱器的形式實現(xiàn)的。出于能源效率的原因,顯然應(yīng)該最小化熱穩(wěn)定所需的功率。

來自魯汶大學(xué)(KU Leuven)和納米/光學(xué)研究中心imec的研究團(tuán)隊通過實驗測量了將電子芯片倒裝焊接光子芯片之前和之后環(huán)形調(diào)制器的加熱器效率。結(jié)果發(fā)現(xiàn)加熱器效率相對下降了(-43.3%),研究團(tuán)隊將其描述為“重大影響”。

此外,3D有限元模擬將這種損失歸因于電子芯片中的熱擴(kuò)散。應(yīng)避免這種熱擴(kuò)散,因為在理想情況下,集成加熱器中產(chǎn)生的所有熱量都包含在光子芯片附近。倒裝焊接電子芯片后,光子器件之間的熱串?dāng)_也增加了高達(dá)+44.4%,使單獨的熱控制變得更加復(fù)雜。

量化3D光子/電子芯片集成的熱影響至關(guān)重要,但防止加熱器效率損失也同樣重要。因此,進(jìn)行了熱模擬研究之后,研究人員改變了典型的設(shè)計變量,以提高加熱器效率。結(jié)果表明,通過增加微凸塊和光子芯片之間的間距以及減小互連線寬,可以最大限度地減少3D集成的熱損失。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:電子芯片與光子芯片3D集成,如何減少熱影響?

文章出處:【微信號:MEMSensor,微信公眾號:MEMS】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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