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一種用于掃描電子顯微鏡的電子束光刻和數(shù)字圖像采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

冬至子 ? 來(lái)源:Cathodoluminescence ? 作者:余石勇 ? 2023-12-01 16:10 ? 次閱讀

引言

高速標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)接口的發(fā)展,如通用串行總線(USB)和功能強(qiáng)大微控制器的許多設(shè)備,如集成通信接口,計(jì)數(shù)器/計(jì)時(shí)器,數(shù)字輸入/輸出,模數(shù)(ADC)/數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC)允許以相對(duì)較低的成本更容易地開(kāi)發(fā)具體的科學(xué)應(yīng)用。

電子束光刻(EBL)是科學(xué)和微電子工業(yè)中眾所周知的不可缺少的工具??茖W(xué)家對(duì)現(xiàn)代納米科學(xué)領(lǐng)域日益增加的興趣及其新興分支,如光子晶體、納米光學(xué)、微電子機(jī)械系統(tǒng)、納米流體等,使EBL成為一個(gè)必要的工具。專(zhuān)用的電子束光刻設(shè)備已經(jīng)商品化,并且提供高分辨和寫(xiě)入速度以及大的寫(xiě)入場(chǎng),但對(duì)于一個(gè)研究實(shí)驗(yàn)室來(lái)說(shuō),這通常是一筆不菲的投資。

通常在科學(xué)研究中,大的寫(xiě)入場(chǎng)和吞吐量并沒(méi)有那么重要,對(duì)傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡進(jìn)行改造以進(jìn)行EBL工作是一種便宜得多的解決方案。這種需求促進(jìn)了現(xiàn)有SEM改造成EBL系統(tǒng)的工作,其中的一些已經(jīng)實(shí)現(xiàn)商業(yè)化。盡管如此,自建系統(tǒng)仍然會(huì)便宜得多,并且為定制應(yīng)用程序提供了更多靈活性。如今,由于高功能性集成電路和快速標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)接口的可用性,它們可以在小型實(shí)驗(yàn)室中快速搭建。

雖然新式的SEM生成數(shù)字圖像,但仍在使用的老式SEM只提供顯示器(模擬)輸出圖像,并以照片的形式提供硬拷貝。數(shù)字圖像記錄無(wú)疑會(huì)比攝影自拍更可取,且報(bào)道了許多解決方案。除了用于電子束控制的兩個(gè)DAC輸出外,下面描述的單元還包括ADC輸入,這也使得在軟件中以各種掃描速度、幀面積和不同數(shù)據(jù)源合并數(shù)字圖像采集成為可能。

在本文中我們描述了一個(gè)通過(guò)USB連接接到計(jì)算機(jī)的以低成本微控制器為基礎(chǔ)的設(shè)備,可用于數(shù)字圖像采集和電子束位置的完全控制,這使得它可以使用傳統(tǒng)的SEM進(jìn)行電子束光刻。與先前描述的系統(tǒng)不同,其中接口設(shè)備的基礎(chǔ)是商用數(shù)據(jù)采集板卡或圖像采集板卡,有時(shí)會(huì)略有修改以適應(yīng)特定的工作。

在這里我們描述了基于幾個(gè)現(xiàn)代集成電路的USB接口微控制器設(shè)備的完整設(shè)計(jì)。這進(jìn)一步降低了系統(tǒng)成本(印刷電路板+集成電路的價(jià)格約200美元;不包括個(gè)人電腦)。該系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)在于其主要功能集中在開(kāi)發(fā)的微控制器軟件中,該軟件執(zhí)行所有時(shí)間關(guān)鍵的底層控制和數(shù)據(jù)采集任務(wù)。廣泛使用的USB接口,使該系統(tǒng)便攜和獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和操作系統(tǒng)

硬件

圖1顯示了整個(gè)系統(tǒng)的框圖,包括三個(gè)主要部分:掃描電子顯微鏡、電腦和接口單元(IU)。電腦通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)USB接口與接口單元連接,保持快速的雙向數(shù)據(jù)交換。從SEM方面,接口單元確保多達(dá)8個(gè)模擬輸入,用于從各種SEM信號(hào)中獲取數(shù)據(jù)和形成圖像;兩個(gè)模擬輸出用于電子束位置控制,一個(gè)數(shù)字信號(hào)用于可選的束閘控制。

圖片

圖1 用于電子束光刻和數(shù)字圖像采集的掃描電子顯微鏡升級(jí)系統(tǒng)框圖

接口單元內(nèi)部圖如圖1所示。該設(shè)備的核心是一個(gè)完全集成的12位數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) ADuC812,它在單個(gè)芯片上集成了高性能自校準(zhǔn)8通道ADC,雙DAC,8位8051指令集兼容微控制器核心和8Kb Flash/EE程序儲(chǔ)存器,以及許多其他附加模塊。

上述特性幾乎完全滿足了與SEM的接口要求,兩個(gè)用于電子束位置二維控制的DAC和八個(gè)用于數(shù)據(jù)采集的ADC通道。12位ADC和DAC分辨率足以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的數(shù)字圖像配準(zhǔn),產(chǎn)生具有12位灰度深度、高達(dá)400萬(wàn)像素(4096×4096)的SEM圖像。對(duì)于不是非常大的寫(xiě)入場(chǎng)來(lái)說(shuō),對(duì)于電子束光刻任務(wù),該設(shè)備是令人滿意的。

其他功能模塊包括USB和RS-232接口模塊、32Kb外部RAM內(nèi)存,A/C同步模塊、模擬信號(hào)條件模塊以及它們與ADuC812芯片間不可避免的“膠水邏輯”。下載微控制器軟件需要RS-232接口,而系統(tǒng)實(shí)際工作時(shí)使用USB(USB1.0)連接,保證電腦和接口單元之間的雙向數(shù)據(jù)交換。

在一些掃描和電子束光刻操作模式中,額外的32Kb內(nèi)存用于緩沖X(水平)、Y(垂直)坐標(biāo)的電子束位置和/或駐留時(shí)間數(shù)據(jù)。A/C同步模塊為微控制器提供TTL脈沖,允許同步到線頻掃描,以盡量減少雜散場(chǎng)的影響。模擬信號(hào)調(diào)制是必要的,以匹配ADC輸入電壓范圍(0~2.5V)與檢測(cè)器信號(hào)范圍(在我們的情況下為-12V~+12V,但它取決于SEM模式)。DAC輸出范圍(0~2.5V)也必須轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)SEM偏轉(zhuǎn)線圈電子器件的輸入點(diǎn)電壓范圍(-12V~+12V,取決于SEM)。軟件和硬件也提供了束閘控制。

圖2顯示了接口單元的詳細(xì)方案(不含信號(hào)調(diào)制模塊、A/C同步模式和電源)。USB到并行接口FT245BM芯片(U910)用于USB接口到電腦。該芯片和32Kb內(nèi)存(U909)的尋址需要一些額外的邏輯(U905,U909)和鎖存(U907,U908)。

圖片

圖2 接口單元IU示意圖。信號(hào)調(diào)制模塊,A/C同步模塊和電源未顯示

圖3顯示了模擬信號(hào)條件放大器(圖3a和b)和A/C線同步脈沖發(fā)生器(圖3c)。圖3a所示方案將0~2.5V DAC輸出范圍線性變換為SEM偏轉(zhuǎn)線圈前置放大器的輸入范圍。需要使用兩個(gè)這樣的模塊(DAC0和DAC1)分別控制電子束的X(水平)和Y(垂直)偏轉(zhuǎn)(圖2)。R1(偏置)和R5(增益)是精密多匝電位器,用于調(diào)整輸出范圍以適應(yīng)特定SEM的輸入范圍。

最后增益控制用于精細(xì)調(diào)整圖像寬高比到1,使用一些拉長(zhǎng)的對(duì)象(沒(méi)有傾斜),并采取圖像在0°和90°樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)。圖3b(僅顯示一個(gè)通道)的方案具有類(lèi)似的任務(wù),即將SEM檢測(cè)器模擬輸出(如SE探測(cè)器)的輸出范圍擬合到相應(yīng)ADC通道的輸入范圍。多匝電位器R2和R4分別控制增益和偏置。系統(tǒng)中最多可使用8個(gè)這樣的通道。通道選擇是由軟件通過(guò)嵌入式模擬多路復(fù)用器,允許從不同的檢測(cè)器形成圖像。這可以同時(shí)進(jìn)行(在每個(gè)電子束位置的給定像素處進(jìn)行通道切換)或連續(xù)進(jìn)行(逐幀通道切換)。

圖片

圖3(a) DAC輸出與SEM電子束偏轉(zhuǎn)線圈輸入之間的信號(hào)調(diào)制模塊(圖中為一個(gè)通道);(b) ADC通道輸入和SEM檢測(cè)器輸出之間的信號(hào)調(diào)制模塊(一個(gè)通道)和(C) A/C線同步脈沖發(fā)生器。

圖3c展示了一個(gè)產(chǎn)生A/C線同步TTL電平脈沖的簡(jiǎn)單方案。它們被饋送到微轉(zhuǎn)換器的P3.4引腳,并由軟件(僅在系統(tǒng)操作的相應(yīng)模式下)與A/C線過(guò)零同步啟動(dòng)水平掃描線。在高倍率下,這大大減少了由雜散電磁場(chǎng)引起的畸變。

軟件

軟件由兩部分組成:上位機(jī)上的應(yīng)用層程序和通過(guò)USB協(xié)議進(jìn)行通信嵌入式微控制器底層程序。掃描電子顯微鏡的兩種工作模式(EBL和數(shù)字圖像采集)都有嚴(yán)格的時(shí)序要求,尤其是EBL,在給定電子束位置的停留時(shí)間決定了電荷劑量。這需要在電腦和微控制器之間仔細(xì)分配任務(wù)。

實(shí)時(shí)控制和數(shù)據(jù)采集的時(shí)間關(guān)鍵任務(wù)由微控制器程序執(zhí)行,而應(yīng)用程序?qū)崿F(xiàn)高級(jí)控制并保證用戶友好界面。電腦和接口單元間的雙重緩沖確保了掃描過(guò)程中不會(huì)引入延遲。微控制器程序是用匯編器編寫(xiě)的(源代碼可根據(jù)要求從作者處獲得),并使用MetaLink的8051宏匯編器編譯。Windows串行下載器用于通過(guò)串行端口下載由ASM51匯編器創(chuàng)建的因特爾標(biāo)準(zhǔn)十六進(jìn)制文件。

微控制器程序保證了多種操作模式。上位機(jī)將所需的控制參數(shù)發(fā)送到接口單元,并將其切換到相應(yīng)的模式。在單點(diǎn)模式下,上位機(jī)決定電子束位置。A/D所選的通道數(shù)據(jù)按要求發(fā)送到上位機(jī)。在這種模式下,上位機(jī)可將電子束定位在任意位置,并對(duì)來(lái)自不同ADC通道的信號(hào)進(jìn)行采樣,但時(shí)序精度限制在1ms左右。

快速光柵掃描模式用于快速觀察和調(diào)整各種掃描電鏡控制,如聚焦、對(duì)比度、消像散等。在這種模式下,光柵掃描以8位分辨率(128×128或256×256像散,最小停留時(shí)間為12us)以最大可能的速度(~4幀/秒)進(jìn)行電子束定位。12位A/D數(shù)據(jù)從預(yù)先選擇的通道從每個(gè)點(diǎn)發(fā)送到上位機(jī)。

在掃描模式下,以12位D/A分辨率(最大4096×4096)對(duì)視場(chǎng)進(jìn)行光柵掃描。掃描控制參數(shù)為掃描場(chǎng)的左上角和右下角坐標(biāo),水平和垂直步長(zhǎng),停留時(shí)間。12位A/D數(shù)據(jù)從預(yù)先選擇的通道從每個(gè)點(diǎn)發(fā)送到上位機(jī)。該掃描可以在有或沒(méi)有A/C線同步的情況下執(zhí)行。如果開(kāi)啟同步,則每條水平掃描線的起始時(shí)間由P3.4引腳處的電平躍遷決定(圖3c)。

這種微處理器模式非常強(qiáng)大,通過(guò)幾個(gè)控制參數(shù),上位機(jī)程序可以獲得不同駐留時(shí)間(最小15us)的圖像,預(yù)定義全視場(chǎng)不同分辨率圖像(256×256;512×512;1024×1024;2048×2048和4096×4096)或選擇任意子場(chǎng)圖像,線掃描模式等。需要提及的一點(diǎn)是,觀察區(qū)域的實(shí)際大小是由掃描電鏡放大控制而不是由軟件決定的。

在EBL模式中,接口單元RAM用于緩沖信息,以控制電子束位置(2×12位),該點(diǎn)駐留時(shí)間(16位)和控制位(8位)-每個(gè)點(diǎn)總共6字節(jié)??刂莆话~外的信息,如是否發(fā)送A/D數(shù)據(jù),繪制序列的結(jié)束,束閘的開(kāi)關(guān)(束閘在該系統(tǒng)中尚未實(shí)現(xiàn))。微控制器連續(xù)地從RAM中讀取每條數(shù)據(jù)記錄并執(zhí)行相應(yīng)的操作。讀取和相應(yīng)動(dòng)作之間的時(shí)間間隔由先前讀取的“駐留時(shí)間”參數(shù)決定。

在預(yù)填充RAM緩沖區(qū)所需的信息后,上位機(jī)將微控制器切換到EBL模式。接口單元RAM最多可以保存5333條記錄,如果需要使用更多的點(diǎn),必須重新填充。雙重緩沖確保了重新填充過(guò)程的最小延遲。RAM緩沖數(shù)據(jù)的最后記錄關(guān)閉束閘(如果使用)或?qū)㈦娮邮偷揭晥?chǎng)中“未使用”的位置(沒(méi)有束閘),然后微控制器從上位機(jī)請(qǐng)求下一個(gè)數(shù)據(jù)塊。

微控制器按記錄解釋記錄的這種“低級(jí)”格式允許非常靈活地控制EBL過(guò)程。將不同格式(光柵或矢量,CAD輸出等)轉(zhuǎn)換為這種“低級(jí)”格式的任務(wù)是分開(kāi)的,并使系統(tǒng)開(kāi)放。為了更快執(zhí)行,EBL會(huì)話所需的所有數(shù)據(jù)都是經(jīng)預(yù)先計(jì)算的或從磁盤(pán)讀取的,由上位機(jī)程序轉(zhuǎn)換為上述“低級(jí)”格式,并存儲(chǔ)在電腦內(nèi)存的數(shù)組中。

所有的定時(shí)通過(guò)使用8051核心的16位定時(shí)器/計(jì)數(shù)器T2完成,并廣泛使用中斷來(lái)確保最大精度。中斷程序也用于使用FT245芯片服務(wù)數(shù)據(jù)交換。

因此,嵌入在微控制器程序存儲(chǔ)器中的匯編程序封裝了系統(tǒng)的主要功能,而將系統(tǒng)的一般控制、圖像生成、EBL格式化數(shù)據(jù)傳輸和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)留給了電腦程序。這里最苛刻的任務(wù)是通過(guò)USB端口確保低電平通信。幸運(yùn)的是,驅(qū)動(dòng)程序是免費(fèi)的,它允許FTDI設(shè)備與最流行的操作系統(tǒng)(Linux、windows 98和所有更高版本)一起工作。所有的函數(shù)調(diào)用都封裝在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)(DLL)中??梢允褂肅、Visual Basic、Delphi等不同的高級(jí)語(yǔ)言編寫(xiě)應(yīng)用程序,并確保通過(guò)USB與接口單元輕松通信。

在我們的示例中,應(yīng)用程序是用Delphi 7編寫(xiě)的,正如上文提到的,可以很容易地用運(yùn)行在不同操作系統(tǒng)上的任何高級(jí)語(yǔ)言完成。運(yùn)行該軟件所需的計(jì)算機(jī)資源要求并不高。在我們案例中,應(yīng)用程序運(yùn)行在一臺(tái) 2GHz 、256 Mb 、Windows 2000操作系統(tǒng)電腦上。

該應(yīng)用程序確保了對(duì)操作系統(tǒng)參數(shù)和操作模式的用戶友好控制,各種格式的圖像記錄和存儲(chǔ)(BMP、JPEG和原始數(shù)據(jù))和掃描速度、軟件可選擇的子場(chǎng)成像,A/C線同步切換等。原始數(shù)據(jù)(每像素12位)文件可以很容易地轉(zhuǎn)換為幾乎任何圖像格式,進(jìn)一步處理和/或分析,例如使用免費(fèi)的NIH軟件包ImageJ或一些商業(yè)化軟件。

目前,EBL的輸入文件是上述格式的外部準(zhǔn)備數(shù)據(jù)或簡(jiǎn)單的BMP格式圖形,其中兩個(gè)顏色通道的像素強(qiáng)度用于編碼每個(gè)像素的停留時(shí)間。我們計(jì)劃開(kāi)發(fā)將更復(fù)雜的基于矢量的格式轉(zhuǎn)換為上述“低級(jí)”格式的軟件。

我們發(fā)現(xiàn),處理通過(guò)SEM控件進(jìn)行對(duì)比度調(diào)節(jié)外,進(jìn)一步的自動(dòng)軟件對(duì)比度調(diào)節(jié)是一個(gè)非常有用的功能。每像素12位的灰度級(jí)分辨率高于最常用的圖像格式(BMP或JPEG-灰度圖像為8位)的可能存儲(chǔ)分辨率。為了避免圖像格式在12位轉(zhuǎn)8位時(shí)丟失信息,每個(gè)*i 像素強(qiáng)度Ii *被轉(zhuǎn)換為一個(gè)新值I i ',如下所示:

圖片

其中,Imin和Imax分別為整個(gè)圖像的最小和最大像素強(qiáng)度,floor(x)表示最接近x且不大于x的整數(shù)。

典型案例

圖4顯示了在加速電壓為15kV,放大倍數(shù)為x3k(左)和x20k(右)的情況下,數(shù)字記錄的花粉二次電子圖像(1024×1024像素)的示例。圖像是由系統(tǒng)產(chǎn)生的,沒(méi)有任何額外的圖像處理。

圖片

圖4 花粉在15kv加速電壓下的二次電子圖像。放大倍數(shù)×3k(左)和×20k(右)。

圖5是由我們系統(tǒng)創(chuàng)造的EBL圖形示例。該光刻膠為高分子量PMMA(分子量約996K),溶解在苯甲醚(2 wt.%)中,3000轉(zhuǎn)/分鐘旋涂在顯微鏡蓋片上(20×20mm),在熱板上烘烤2分鐘。烘烤后PMMA層厚為105nm(橢偏儀測(cè)量)。

為了避免電荷影響,在勻膠前在基板上電子束蒸鍍200nm鉻。點(diǎn)曝光劑量為40fC,加速電壓為20kV,曝光范圍480×480um,超聲顯影140s(MIBK:IPA=1:3),IPA中浸泡30秒并用去離子水。圖像由直徑為600nm的點(diǎn)組成,排列在周期為1.25um的方形格子中。圖5(左)中標(biāo)記的子區(qū)域在高倍放大后顯示在右側(cè)。

圖片

圖5 示例性EBL圖案的光學(xué)顯微鏡圖像

討論

介紹了一種基于USB的數(shù)字成像和掃描電子顯微鏡電子束光刻微控制器系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)。該系統(tǒng)提供了高分辨率的數(shù)字成像,并能夠在不太大的工作范圍內(nèi)用于電子束光刻。所提出的系統(tǒng)架構(gòu)允許輕松改進(jìn)器參數(shù),如增加外部RAM緩沖區(qū)大?。ˋDuC812可使用高達(dá)16Mb)和DAC分辨率(16位外部DAC而不是12位內(nèi)部ADC)。

由于USB接口的簡(jiǎn)單四線結(jié)構(gòu),光耦隔離可以很容易地添加到系統(tǒng)中,而無(wú)需改變其余的電子設(shè)備和軟件。市場(chǎng)上有商用USB光耦隔離器和光耦隔離USB集線器。光耦隔離將降低噪聲并避免接地回路問(wèn)題。還可以使用電池供電的接口單元,這與光耦隔離將進(jìn)一步降低噪聲。

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    透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>的結(jié)構(gòu)與成像原理

    掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用

    掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用2.4.1 掃描電鏡的特點(diǎn)與光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比,掃描電鏡具有以下特點(diǎn): (
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    掃描電子顯微鏡(SEM )工作介紹

    掃描電子顯微鏡(SEM Scanning Electron Microscope)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的
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    【應(yīng)用案例】透射電子顯微鏡TEM

    結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu),就必須選擇波長(zhǎng)更短的光源,以提高顯微鏡的分辨率。 1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長(zhǎng)要比可見(jiàn)光和紫外光短得多,并且
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    【應(yīng)用案例】透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>TEM

    透射電子顯微鏡的用途和特點(diǎn)

    透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束
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    介紹一種飛米級(jí)電子顯微鏡的原理

    本文介紹了一種飛米級(jí)電子顯微鏡的原理,未來(lái)這種技術(shù)有望用于探測(cè)遠(yuǎn)離穩(wěn)定谷的核。
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    介紹<b class='flag-5'>一種</b>飛米級(jí)<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>的原理

    為什么電子顯微鏡需要真空系統(tǒng)

    由于電子在空氣中行進(jìn)的速度很慢,所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度,否則,空氣中的分子會(huì)阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類(lèi)型的真空泵串連起來(lái)獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空,當(dāng)
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    掃描電子顯微鏡SEM電鏡結(jié)構(gòu)及原理

    掃描電子顯微鏡(SEM)是一種功能強(qiáng)大、應(yīng)用廣泛的材料表征工具。其結(jié)構(gòu)復(fù)雜且精密,主要包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集處理系統(tǒng)、
    的頭像 發(fā)表于 03-20 15:27 ?1904次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>SEM電鏡結(jié)構(gòu)及原理