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相約2023 MWS China,預(yù)見(jiàn)MEMS產(chǎn)業(yè)未來(lái)挑戰(zhàn)與機(jī)遇

SPEA ? 2023-11-30 08:27 ? 次閱讀

12月1日,2023 MWS China將在上海嘉定喜來(lái)登酒店召開(kāi)。本次峰會(huì)吸引了數(shù)百位來(lái)全球的半導(dǎo)體領(lǐng)先廠商及產(chǎn)業(yè)鏈領(lǐng)袖代表參與,他們將分享MEMS行業(yè)的前沿技術(shù),深入探討未來(lái)發(fā)展趨勢(shì),推動(dòng)行業(yè)創(chuàng)新與發(fā)展。
SPEA是全球自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)先廠商,持續(xù)突破測(cè)試技術(shù)瓶頸,打造了一批尖端性能的產(chǎn)品組合,為慣性、環(huán)境、光線、磁性、聲學(xué)等MEMS傳感器的測(cè)試精度和性能樹(shù)立了新的標(biāo)桿。得益于深厚的技術(shù)底蘊(yùn)和持續(xù)的產(chǎn)品迭代,SPEA在中國(guó)乃至全球MEMS測(cè)試市場(chǎng)穩(wěn)居第一梯隊(duì)。
作為MWS China的贊助商,SPEA中國(guó)區(qū)總經(jīng)理孫女士受邀出席本次活動(dòng),她將分享“賦能未來(lái)的晶圓級(jí)MEMS測(cè)試和MEMS(WLCSP)最終測(cè)試“的主題演講。

內(nèi)容概要

MEMS 測(cè)試在量產(chǎn)晶圓級(jí)解決方案方面正面臨著新的挑戰(zhàn)。一方面,很多因素證實(shí),在封裝前進(jìn)行測(cè)試是有益的,最終會(huì)降低生產(chǎn)成本并加快上市時(shí)間。另一方面,可靠的 MEMS 和傳感器晶圓級(jí)測(cè)試不應(yīng)該局限于器件的電氣特性。
MEMS 器件的動(dòng)態(tài)測(cè)試需要新一代測(cè)試設(shè)備,能夠通過(guò)測(cè)量其非電氣表現(xiàn)來(lái)確定和分析器件的機(jī)械功能。用于MEMS器件的晶圓級(jí)傳感器測(cè)試的現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證設(shè)備,諸如加速度計(jì)、陀螺儀、壓力傳感器、磁性傳感器等,有望被業(yè)界采納為標(biāo)準(zhǔn)。
另一項(xiàng)測(cè)試挑戰(zhàn)是,在消費(fèi)和汽車(chē)領(lǐng)域中 MEMS 傳感器和執(zhí)行器越來(lái)越多地采用晶圓級(jí)芯片規(guī)模封裝技術(shù) (WLCSP)。采用一套完整的解決方案進(jìn)行 WLCSP MEMS 器件的量產(chǎn)最終測(cè)試是非常必要的。此類設(shè)備必須滿足高吞吐量,能直接從薄膜框架上的切片晶片對(duì)器件進(jìn)行軟處理,對(duì)設(shè)備進(jìn)行三溫刺激和測(cè)試,測(cè)試后對(duì)卷軸進(jìn)行精加工。

本次演講將探討這些挑戰(zhàn),提供可行的解決方案,提出開(kāi)放性觀點(diǎn)和問(wèn)題。歡迎大家在現(xiàn)場(chǎng)與SPEA交流互動(dòng)。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 自動(dòng)化測(cè)試

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