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開關(guān)電源測試系統(tǒng)怎么測試電源低溫啟動?有什么優(yōu)勢?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-28 15:34 ? 次閱讀

開關(guān)電源作為常用的一種電源供應(yīng)器被廣泛應(yīng)用在各大領(lǐng)域,同時也被用在各種不同的環(huán)境溫度下工作。因此在開關(guān)電源測試中,溫度測試是評估其性能、可靠性、穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。低溫啟動測試就是檢測低溫存儲環(huán)境對開關(guān)電源性能的影響,判斷開關(guān)電源在低溫環(huán)境下能否正常啟動。

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開關(guān)電源低溫啟動如何測試?

低溫啟動測試的目的是為了檢測低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S.的整機電氣的影響,從而來考量S.M.P.S.電氣及零件選用的合理性。在進行低溫啟動測試時需要準(zhǔn)備的測試設(shè)備有:交流電源、電子負(fù)載、功率表和溫控室。

測試條件:儲存低溫條件通常為操作溫度0℃條件下降低到-10 ±2℃,儲存時間至少4小時。

測試方法:

1.試驗前記錄待測品輸入功率、輸出電壓及HI-POT狀況

2.將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動溫控室

3.試驗溫度儲存至少4Hrs,然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機各20次,確認(rèn)待測品電氣性能是否正常

注意事項:

1.在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象

2.設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度

低溫啟動測試是確保開關(guān)電源及設(shè)備在低溫環(huán)境下可靠運行的測試方法之一,以評估開關(guān)電源在低溫環(huán)境下的性能。ATECLOUD-POWER開關(guān)電源測試系統(tǒng)采取無代碼開發(fā)模式,操作簡單,用戶可自由選擇測試儀器型號,快速測試。用開關(guān)電源ate測試系統(tǒng)測試,簡化了測試程序,只需在系統(tǒng)中設(shè)置好溫度、電壓、負(fù)載、測試次數(shù)、測試時長等條件便可一鍵運行測試,觀察和分析測試數(shù)據(jù)及結(jié)果。并且可以選擇所需的數(shù)據(jù)及報告模板,生成導(dǎo)出數(shù)據(jù)報告文檔,一鍵查看。


審核編輯:湯梓紅

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