0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

SiC – 速度挑戰(zhàn)

jf_pJlTbmA9 ? 來源:UnitedSiC ? 作者:UnitedSiC ? 2023-12-04 16:46 ? 次閱讀

本文轉(zhuǎn)載自: UnitedSiC微信公眾號

功率轉(zhuǎn)換器可以使用不同技術(shù)的寬帶隙半導(dǎo)體,人們常常會比較這些半導(dǎo)體的開關(guān)速度和邊緣速率。速度越快,支持的運行頻率就越高、損耗就越低,功率轉(zhuǎn)換器磁性元件就越小,聽上去很美好。而在真實世界中,更快的dV/dt和di/dt也會成為一個問題,使您難以滿足EMI規(guī)格要求——極小的軌道值或寄生電感以及電路電容會產(chǎn)生振鈴,而且如果必須添加多個昂貴的大濾波器來突破發(fā)射限制,寬帶隙技術(shù)就變得沒那么有吸引力了。振鈴還會導(dǎo)致電壓過沖,從而可能造成損壞,至少會降低電壓安全裕度,因而必須使用額定電壓更高或更昂貴的器件,而這通常伴隨更高的導(dǎo)電損耗。

邊緣放緩會增加耗散

在實踐中,必須控制邊緣速率以避免過沖應(yīng)力,一個常見解決辦法是添加?xùn)艠O電阻,而且通常會使用二極管柵極控制方法讓電阻在打開瞬態(tài)和關(guān)閉瞬態(tài)具有不同的電阻值。當(dāng)然,這會降低電壓和電流邊緣速率以及內(nèi)部電壓過沖,但是會增加關(guān)閉時的電壓/電流重疊,從而提高耗散的功率,而且毫不影響振鈴持續(xù)時間,該時間發(fā)生在關(guān)閉瞬態(tài)和柵極驅(qū)動穩(wěn)定后。嘗試降低電感以盡量減小振鈴的努力也會因?qū)嶋H布局而失敗,因為實際布局需要實現(xiàn)安全分離并符合所選器件封裝類型。

緩沖電路是領(lǐng)跑技術(shù)

使用SiC FET時有更好的解決辦法,對于硬開關(guān)應(yīng)用,這個辦法是跨器件使用小RC緩沖電路,而對于軟開關(guān),則是在開關(guān)處使用電容器,并跨直流鏈路軌使用RC緩沖電路。即使緩沖電路RC值小,也可以有效抑制振鈴,同時限制過沖并保持低損耗。圖1顯示的是在硬開關(guān)電路中緩沖電路將過沖值控制到與使用5歐姆柵極電阻時相同,但是卻阻尼卻好得多。與僅使用柵極電阻相比,關(guān)閉能量Eoff會減半,但是打開能量Eon會增加10%,因此,為了進(jìn)行公平比較,我們比較Etotal,結(jié)果表明整個緩沖電路方法更高效,同時能提高我們需要的阻尼。在真實電路中,如果ID是40A,開關(guān)頻率為100kHz,則使用緩沖電路并且沒有Rgoff的40毫歐SiC FET會耗散10.9W功率,低于僅使用5歐姆Rgoff時。在這兩種情況下,Rgon都設(shè)為5歐姆。對于軟開關(guān)應(yīng)用,采用簡單電容器緩沖電路時損耗甚至?xí)汀?/p>

wKgaomVdjCuAYW_0AAGkKlnqOEg419.jpg

從波形中可以看出,柵極電阻解決辦法還會增加從柵極驅(qū)動到漏極電壓上升之間的延遲,大約會從33ns延遲到104ns,而這會限制可以達(dá)到的最小占空比和高頻轉(zhuǎn)換器電路的運行范圍。

SiC FET用戶指南可加快緩沖電路值選擇

通過觀察振鈴波形可以輕松計算緩沖電路值,只需添加一個小的已知緩沖電路電容器C1,它的電容大約是SiC FET數(shù)據(jù)表輸出電容Coss的3倍,然后觀察頻率變化,再推斷出寄生電容C0,其中包含Coss、雜散電容和所有散熱貢獻(xiàn)。寄生電感L現(xiàn)在可以通過L-C諧振方程計算得出。可能的緩沖電路起始值為C1= 2 x C0,R=√(L/(C0+C1))。還可以在UnitedSiC網(wǎng)站上找到推薦值,請參見:《SiC FET用戶指南》。這里提供了各種產(chǎn)品在硬開關(guān)和軟開關(guān)的LLC和PSFB應(yīng)用以及一系列頻率下的值,可以調(diào)節(jié)這些值,以實現(xiàn)可接受的效率、電壓應(yīng)力和EMI的組合。

因此,您可以做好準(zhǔn)備,讓您的功率轉(zhuǎn)換器電路加速至高頻,并獲得較小的濾波和功率級磁性元件帶來的體積、重量和成本優(yōu)勢。所有這些都需要使用最佳SIC FET額定電壓來完成任務(wù),并讓所含EMI達(dá)到可控級別。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 電阻
    +關(guān)注

    關(guān)注

    86

    文章

    5543

    瀏覽量

    172439
  • 轉(zhuǎn)換器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    27

    文章

    8740

    瀏覽量

    147633
  • RC
    RC
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    228

    瀏覽量

    48902
  • 柵極
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    173

    瀏覽量

    21011
  • SiC
    SiC
    +關(guān)注

    關(guān)注

    29

    文章

    2858

    瀏覽量

    62798
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    安森美豐富的SiC方案解決新一代UPS的設(shè)計挑戰(zhàn)

    權(quán)衡取舍的挑戰(zhàn), 安森美( onsemi) 基于新一代半導(dǎo)體材料碳化硅(SiC)的方案,有助于變革性地優(yōu)化UPS設(shè)計。 安森美是領(lǐng)先的智能電源方案供應(yīng)商之一,也是全球少數(shù)能提供從襯底到模塊的端到端SiC方案供應(yīng)商,提供先進(jìn)的
    發(fā)表于 06-24 10:35 ?1508次閱讀
    安森美豐富的<b class='flag-5'>SiC</b>方案解決新一代UPS的設(shè)計<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>

    SiC MOSFET的設(shè)計挑戰(zhàn)——如何平衡性能與可靠性

    碳化硅(SiC)的性能潛力是毋庸置疑的,但設(shè)計者必須掌握一個關(guān)鍵的挑戰(zhàn):確定哪種設(shè)計方法能夠在其應(yīng)用中取得最大的成功。
    發(fā)表于 05-18 10:03 ?385次閱讀
    <b class='flag-5'>SiC</b> MOSFET的設(shè)計<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>——如何平衡性能與可靠性

    SiC器件的核心挑戰(zhàn)#硬聲創(chuàng)作季

    SiC
    電子學(xué)習(xí)
    發(fā)布于 :2022年11月20日 21:18:34

    14.1 SiC基本性質(zhì)(下)

    SiC
    jf_75936199
    發(fā)布于 :2023年06月24日 19:14:08

    為何使用 SiC MOSFET

    要充分認(rèn)識 SiC MOSFET 的功能,一種有用的方法就是將它們與同等的硅器件進(jìn)行比較。SiC 器件可以阻斷的電壓是硅器件的 10 倍,具有更高的電流密度,能夠以 10 倍的更快速度在導(dǎo)通和關(guān)斷
    發(fā)表于 12-18 13:58

    使用SiC-SBD的優(yōu)勢

    關(guān)于SiC-SBD,前面介紹了其特性、與Si二極管的比較、及當(dāng)前可供應(yīng)的產(chǎn)品。本篇將匯總之前的內(nèi)容,并探討SiC-SBD的優(yōu)勢。SiC-SBD、Si?SBD、Si-PND的特征SiC-
    發(fā)表于 11-29 14:33

    SiC功率模塊的柵極驅(qū)動其1

    通時產(chǎn)生的Vd振鈴、和低邊SiC-MOSFET的寄生柵極寄生電容引起的。全SiC功率模塊的開關(guān)速度與寄生電容下面通過與現(xiàn)有IGBT功率模塊進(jìn)行比較來了解與柵極電壓的振鈴和升高有關(guān)的全SiC
    發(fā)表于 11-30 11:31

    SiC功率器件SiC-MOSFET的特點

    采用IGBT這種雙極型器件結(jié)構(gòu)(導(dǎo)通電阻變低,則開關(guān)速度變慢),就可以實現(xiàn)低導(dǎo)通電阻、高耐壓、快速開關(guān)等各優(yōu)點兼?zhèn)涞钠骷?. VD - ID特性SiC-MOSFET與IGBT不同,不存在開啟電壓,所以
    發(fā)表于 05-07 06:21

    車用SiC元件討論

    在未來幾年投入使用SiC技術(shù)來應(yīng)對汽車電子技術(shù)挑戰(zhàn)是ECSEL JU的WInSiC4AP專案所要達(dá)成的目標(biāo)之一。ECSEL JU和ESI攜手為該專案提供資金支援,實現(xiàn)具有重大經(jīng)濟(jì)和社會影響的優(yōu)勢互補(bǔ)
    發(fā)表于 06-27 04:20

    SiC技術(shù)怎么應(yīng)對汽車電子的挑戰(zhàn)

    在未來幾年投入使用SiC技術(shù)來應(yīng)對汽車電子技術(shù)挑戰(zhàn)是ECSEL JU 的WInSiC4AP項目所要達(dá)到的目標(biāo)之一。ECSEL JU和ESI協(xié)同為該項目提供資金支持,實現(xiàn)具有重大經(jīng)濟(jì)和社會影響的優(yōu)勢互補(bǔ)的研發(fā)活動。
    發(fā)表于 07-30 06:18

    GaN和SiC區(qū)別

    半導(dǎo)體的關(guān)鍵特性是能帶隙,能帶動電子進(jìn)入導(dǎo)通狀態(tài)所需的能量。寬帶隙(WBG)可以實現(xiàn)更高功率,更高開關(guān)速度的晶體管,WBG器件包括氮化鎵(GaN)和碳化硅(SiC),以及其他半導(dǎo)體。 GaN和SiC
    發(fā)表于 08-12 09:42

    比亞迪SiC功率半導(dǎo)體的應(yīng)用優(yōu)勢和挑戰(zhàn)

    數(shù)日前,2019年第三代半導(dǎo)體支撐新能源汽車創(chuàng)新發(fā)展高峰論壇在廣州召開。其中比亞迪股份有限公司第十四事業(yè)部電控工廠廠長楊廣明演講主題為“比亞迪SiC功率半導(dǎo)體的應(yīng)用優(yōu)勢和挑戰(zhàn)”。
    的頭像 發(fā)表于 05-16 15:23 ?5789次閱讀

    SiC功率器件的新發(fā)展和挑戰(zhàn)!

    碳化硅(SiC)被認(rèn)為是未來功率器件的革命性半導(dǎo)體材料;許多SiC功率器件已成為卓越的替代電源開關(guān)技術(shù),特別是在高溫或高電場的惡劣環(huán)境中。本章將討論SiC功率器件面臨的挑戰(zhàn)和最新發(fā)展。
    發(fā)表于 11-04 09:56 ?800次閱讀

    SiC MOSFET的設(shè)計挑戰(zhàn)——如何平衡性能與可靠性

    碳化硅(SiC)的性能潛力是毋庸置疑的,但設(shè)計者必須掌握一個關(guān)鍵的挑戰(zhàn):確定哪種設(shè)計方法能夠在其應(yīng)用中取得最大的成功。
    的頭像 發(fā)表于 05-04 09:05 ?649次閱讀
    <b class='flag-5'>SiC</b> MOSFET的設(shè)計<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>——如何平衡性能與可靠性

    使用SiC技術(shù)應(yīng)對能源基礎(chǔ)設(shè)施的挑戰(zhàn)

    本文簡要回顧了與經(jīng)典的硅 (Si) 方案相比,SiC技術(shù)是如何提高效率和可靠性并降低成本的。然后在介紹 onsemi 的幾個實際案例之前,先探討了 SiC 的封裝和系統(tǒng)集成選項,并展示了設(shè)計人員該如何最好地應(yīng)用它們來優(yōu)化 SiC
    的頭像 發(fā)表于 07-25 09:36 ?393次閱讀
    使用<b class='flag-5'>SiC</b>技術(shù)應(yīng)對能源基礎(chǔ)設(shè)施的<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>