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開關(guān)電源輸出暫態(tài)響應(yīng)測試方法分享

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-17 14:54 ? 次閱讀

暫態(tài)響應(yīng)是指在接收到輸入信號后,輸出信號在短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的變化。開關(guān)電源輸出暫態(tài)響應(yīng)測試是為了檢測輸出負(fù)載快速變化時(shí),輸出電壓跟隨變動(dòng)的穩(wěn)定性。

開關(guān)電源輸出暫態(tài)響應(yīng)測試方法

測試目的:測試S.M.P.S.輸出負(fù)載快速變化時(shí),其輸出電壓跟隨變動(dòng)的穩(wěn)定性,規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%。

測試設(shè)備:交流電源、電子負(fù)載、示波器

測試條件:依SPEC.規(guī)定輸入電壓AC LINE,變化負(fù)載,頻率及升降斜率SR/F值

測試方法:

1.測試時(shí)設(shè)定好待測品輸入電壓AC LINE和頻率FREQUENCY

2.測試時(shí)設(shè)定好待測品輸出條件:變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率

3.示波器CH1接到OUTPUT偵測點(diǎn),量其電壓之變化

4.CH2接CURRENT PROBE測試輸出電流,作為示波器的TRIGGER SOURCE

5.TRIGGER MODE設(shè)定為“AUTO.”

注意事項(xiàng):

1.注意使用CURRENT PROBE時(shí),每改變VOLTS/DIV刻度PROBE皆須歸零ZERO

2.需經(jīng)常對CURRENT PROBE進(jìn)行消磁DEGAUSS和歸零ZERO

ATECLOUD-POWER電源測試系統(tǒng)測試優(yōu)勢

ATECLOUD-POWER電源測試系統(tǒng)是納米軟件開發(fā)的一款自動(dòng)化測試系統(tǒng),區(qū)別于Labview,是文字語言編程軟件平臺,充分利用大數(shù)據(jù)和云計(jì)算來處理和分析數(shù)據(jù)。電源測試系統(tǒng)具有以下特征:

1. 支持windows、麒麟、鴻蒙系統(tǒng)部署使用

2. 支持多通道電源同時(shí)測試,支持對接夾具工裝

3. 支持100+工位擴(kuò)展,同步測試,統(tǒng)一管理、數(shù)據(jù)匯總

4. 內(nèi)含58+測試項(xiàng)目,采用無代碼開發(fā),支持快速增加、更新測試項(xiàng)目

5. 兼容2000+儀器型號,如是德、泰克、普源等,支持設(shè)備持續(xù)擴(kuò)展

6. 內(nèi)含數(shù)據(jù)洞察功能,測試數(shù)據(jù)診斷分析CPK、SPC,用大數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)生產(chǎn)力

7. 具備數(shù)據(jù)看板模塊,自定義搭建精益看板,提高生產(chǎn)效率

8. 支持國軍標(biāo)電源模塊最新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),數(shù)據(jù)報(bào)告模板種類多樣化,支持自定義

用ATECLOUD-POWER電源模塊自動(dòng)化測試系統(tǒng)測試,可以解決以下痛點(diǎn):

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審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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