1、 理論分析
圖1為SPICE運(yùn)放環(huán)路增益測試電路。LT提供直流閉環(huán)電路,因?yàn)槊總€(gè)交流SPICE分析必須首先進(jìn)行直流分析。進(jìn)行交流SPICE分析時(shí),隨著頻率增加CT將逐漸變成短路,而LT將逐漸變成開路,因此可用同一仿真程序運(yùn)行所有運(yùn)放電路的交流穩(wěn)定性分析。利用圖1中計(jì)算公式可求得運(yùn)放Aol、環(huán)路增益以及1/β的幅度與相位曲線。盡管可以采用其他方法“打破環(huán)路”進(jìn)行交流分析,但圖1所示方法證明誤差最小。
圖1 運(yùn)放環(huán)路測試電路:
運(yùn)放Aol增益=dB[VM(2)/VM(1)]
運(yùn)放Aol相位=[VP(2)-VP(1)]
環(huán)路增益=dB[VM(2)/VM(3)]
環(huán)路增益相位=[VP(2)-VP(3)]
1/β=dB[VM(3)/VM(1)]
1/β相位=[VP(3)-VP(1)]
圖2 運(yùn)放網(wǎng)絡(luò):ZI輸入網(wǎng)絡(luò)、ZF反饋網(wǎng)絡(luò)
2、 PS:ZI and ZF ZI和ZF網(wǎng)絡(luò)分析——高頻閉環(huán)增益降低但相位提升
ZF網(wǎng)絡(luò)分析——高頻閉環(huán)增益降低但相位提升:首先對(duì)圖3所示ZF網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行1階分析,該網(wǎng)絡(luò)為運(yùn)放電路中的反饋網(wǎng)絡(luò),其中Cp在低頻上為開路,且低頻1/β變成簡單RF/RI。而在其他極端頻率上(例如高頻),Cp為短路且高頻1/β變成(Rp//RF)/RI。當(dāng)Cp短路時(shí)由于Rp<
圖3 ZF網(wǎng)絡(luò)分析電路
1/β低頻=RF/RI=100→40dB:Cp在低頻時(shí)開路;
1/β高頻=(Rp//RF)/RI≈10→20dB:Cp在高頻時(shí)短路;
當(dāng)Xcp=RF時(shí)1/β出現(xiàn)極點(diǎn): fp=1kHz;
當(dāng)Xcp=Rp時(shí)1/β出現(xiàn)零點(diǎn):fz=10kHz
ZF反饋網(wǎng)絡(luò)開環(huán)測試電路
交流仿真設(shè)置
Cpv參數(shù)仿真設(shè)置
Cpv=1p無補(bǔ)償時(shí)的環(huán)路波特圖:低頻相位為90度
Cpv=1.59n有補(bǔ)償時(shí)的環(huán)路波特圖:相位大于90度:
通過正確計(jì)算補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò),在所需頻率點(diǎn)進(jìn)行補(bǔ)償
ZF閉環(huán)頻率特性測試電路
Cpv=1p無補(bǔ)償時(shí)的閉環(huán)波特圖
Cpv=1.59n有補(bǔ)償時(shí)的閉環(huán)波特圖
ZI網(wǎng)絡(luò)分析——高頻閉環(huán)增益增大但相位降低:首先對(duì)圖4所示ZI網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行1階分析。該電路為運(yùn)放電路中的輸入網(wǎng)絡(luò),其中Cn在低頻時(shí)開路,并且低頻1/β=RF/RI。高頻時(shí)Cn短路,此時(shí)1/β=RF/(RI//Rn)。Cn短路時(shí)由于Rn<
圖4 ZI網(wǎng)絡(luò)分析電路:
1/β低頻=RF/RI=10→20dB,Cn在低頻時(shí)開路;
1/β高頻=RF/(RI//Rn)≈100→40dB,Cn在高頻時(shí)短路;
當(dāng)Xcn=RI時(shí)1/β存在零點(diǎn),fz=1kHz;
當(dāng)Xcn=Rn時(shí)1/β存在極點(diǎn),fp=10kHz
ZI輸入網(wǎng)絡(luò)開環(huán)測試電路
交流仿真設(shè)置
Cnv參數(shù)仿真設(shè)置
Cnv=1p無補(bǔ)償時(shí)的環(huán)路波特圖:相位90度
Cnv=15.9n有補(bǔ)償時(shí)的環(huán)路波特圖:相位小于90度,
通過正確計(jì)算補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò),在所需頻率點(diǎn)進(jìn)行補(bǔ)償
ZI閉環(huán)頻率特性測試電路
Cnv=1p無補(bǔ)償時(shí)的閉環(huán)波特圖:增益和相位低頻保持恒定
Cnv=1.59n有補(bǔ)償時(shí)的閉環(huán)波特圖:增益提升、相位降低
3、 PS:DesignExample ZF補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)實(shí)例分析
頻域開環(huán)測試電路
交流仿真設(shè)置
瞬態(tài)仿真設(shè)置
無補(bǔ)償時(shí)環(huán)路伯特圖fz1=100meg:相位裕度10度,電路不穩(wěn)定
無補(bǔ)償時(shí)環(huán)路伯特圖fz1=100meg:時(shí)域仿真電路振蕩
有補(bǔ)償時(shí)環(huán)路伯特圖fz1=40k:相位裕度51.7度,電路穩(wěn)定
Fz1=40k有補(bǔ)償時(shí)輸入、輸出波形:電路穩(wěn)定工作
4、 實(shí)際測試:(待整理)
負(fù)載特性、輸入源特性、參考源調(diào)節(jié)——測試波形與數(shù)據(jù)相結(jié)合,然后與仿真對(duì)比
5、 總結(jié):
利用ZI和ZF網(wǎng)絡(luò)對(duì)運(yùn)放電路進(jìn)行反饋補(bǔ)償,使得放大電路穩(wěn)定可靠工作!
6、 附錄——關(guān)鍵仿真器件模型
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運(yùn)放電路
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運(yùn)放
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仿真
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SPICE
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反饋網(wǎng)絡(luò)
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