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電源老化自動(dòng)化測試系統(tǒng)如何助力開關(guān)電源老化測試?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-06 15:08 ? 次閱讀

一、開關(guān)電源老化測試原理

開關(guān)電源老化測試是檢測電源長期穩(wěn)定性和可靠性的重要測試方法。通過模擬開關(guān)電源在實(shí)際工作環(huán)境(如高負(fù)荷、高溫等)中的長時(shí)間使用,來驗(yàn)證其性能、穩(wěn)定性和可靠性。老化測試的原理主要基于以下概念:

1. 加速老化原理

老化測試是通過增加電源的工作負(fù)載和溫度,模擬開關(guān)電源在高要求環(huán)境下的工作條件,以此來加速電源內(nèi)部元件的老化過程,使問題在測試期間顯現(xiàn)出來。

2. 持續(xù)負(fù)荷測試

在老化測試中,電源被置于其額定負(fù)荷或超過額定負(fù)荷的狀態(tài)下工作,檢測開關(guān)電源在高負(fù)荷情況下的穩(wěn)定性,以及是否會(huì)因負(fù)荷變化而產(chǎn)生問題。

3. 高溫環(huán)境

老化測試通常在相對高溫的環(huán)境下進(jìn)行。高溫有助于加速元件老化,并有助于檢測與溫度相關(guān)的問題,例如過熱、冷卻不足等。

4. 長時(shí)間測試

老化測試需要持續(xù)一段時(shí)間,通常是數(shù)天到數(shù)周,以確保電源在長時(shí)間工作后仍能正常運(yùn)行。

二、開關(guān)電源老化測試的方法

1.恒定負(fù)載老化測試法

是在恒定負(fù)載狀態(tài)下進(jìn)行負(fù)載老化,檢測電源的可靠性。測試時(shí)需將開關(guān)電源連接設(shè)備負(fù)載,以設(shè)定的負(fù)載情況進(jìn)行老化,觀察開關(guān)電源在這種負(fù)載狀態(tài)下的電氣參數(shù)和波形是否正常,評估電源產(chǎn)品的可靠性。

2.循環(huán)負(fù)載老化測試法

將負(fù)載按規(guī)定時(shí)間進(jìn)行循環(huán),對開關(guān)電源進(jìn)行連續(xù)負(fù)載老化,以檢測電源的可靠性。通常會(huì)將開關(guān)電源連接到多個(gè)負(fù)載上,按規(guī)定時(shí)間循環(huán)負(fù)載的方式進(jìn)行老化,同時(shí)監(jiān)測開關(guān)電源各項(xiàng)指標(biāo)監(jiān)控,觀察其電氣參數(shù)和波形是否正常,評估電源產(chǎn)品的可靠性。

3.加速老化測試法

將開關(guān)電源置于特定的溫度環(huán)境中進(jìn)行老化測試,模擬長時(shí)間使用中電源所受到的環(huán)境應(yīng)力,加速研究開關(guān)電源的老化情況,快速評估電源可靠性,優(yōu)化設(shè)計(jì)。此方法要求測試設(shè)備有良好的溫度控制和監(jiān)測系統(tǒng)。

三、開關(guān)電源老化測試的注意事項(xiàng)

1.老化測試前要對開關(guān)電源進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢測,確保符合規(guī)定和要求。

2.測試過程中要對開關(guān)電源的電流、電壓、波形、溫度等指標(biāo)實(shí)時(shí)監(jiān)測,發(fā)現(xiàn)異常情況及時(shí)處理。

3.要在適當(dāng)?shù)沫h(huán)境條件下進(jìn)行,最好是在穩(wěn)定的環(huán)境溫度下進(jìn)行,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3.老化測試要有足夠的時(shí)間,大約在1000小時(shí)以上,為了有效模擬開關(guān)電源在實(shí)際的長時(shí)間使用中可能遇到的問題。

4.測試結(jié)束后,要全面檢驗(yàn)和維護(hù)開關(guān)電源,確保產(chǎn)品的質(zhì)量、穩(wěn)定性和可靠性。

四、ATECLOUD-POWER電源模塊測試系統(tǒng)

ATECLOUD-POWER是專門針對各類電源模塊測試的一體化智能解決方案,測試系統(tǒng)采用硬件模塊化內(nèi)嵌式框架結(jié)構(gòu)。此框架結(jié)構(gòu)可根據(jù)客戶實(shí)際測試需求以及預(yù)算進(jìn)行調(diào)整,憑借靈活的硬件配置和強(qiáng)大的測試功能,為電源模塊提供高效率、高穩(wěn)定性、高準(zhǔn)確性和操作便捷的測試方案。

wKgZomVIkEuAUqPzAAJcSkKEpII252.pngATECLOUD-POWER電源模塊測試系統(tǒng)
審核編輯:湯梓紅
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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