本文將簡(jiǎn)述一種fifo讀控制的不合理設(shè)計(jì)案例,在此案例中,異常報(bào)文將會(huì)堵在fifo中,造成頭阻塞。
異常場(chǎng)景在驗(yàn)證階段很難完全覆蓋,而實(shí)際芯片應(yīng)用中,因?yàn)殒溌凡环€(wěn)定或者噪聲的影響,時(shí)不時(shí)會(huì)出現(xiàn)各種異常報(bào)文,因此在設(shè)計(jì)階段需要重復(fù)考慮到異常常見(jiàn)對(duì)設(shè)計(jì)的影響。
1.不合理的案例設(shè)計(jì)
如下圖所示:data_fifo 為主數(shù)據(jù)路徑的存儲(chǔ)fifo,用于存儲(chǔ)報(bào)文,所有正常報(bào)文類型包含:TYPE1,TYPE2,TYPE3,TYPE4。因?yàn)楸P騿?wèn)題,部分報(bào)文需要得到響應(yīng)反饋會(huì)才能讀出,而部分報(bào)文不需要反饋就能立即讀出。
在如下代碼中,TYPE1和TYPE2需要反饋ack返回才能從data_fifo讀出,而type3和type4可立即讀出。
本案例中,輸出存儲(chǔ)采用的是FWFT類型的fifo,即在數(shù)據(jù)讀出之前,可以看到data的數(shù)值。data_dout是fifo輸出信號(hào),根據(jù)data_dout的msg_type和type1/type2反饋結(jié)果(type1/2_ack_is_return)判斷是否可以讀出fifo數(shù)據(jù)。(為簡(jiǎn)化說(shuō)明,本案例中不涉及流控反壓)。
data_fifo_ren為fifo讀使能信號(hào),1表示讀fifo。在正常場(chǎng)景中,能夠覆蓋所有報(bào)文類型,所有正常報(bào)文都能夠被讀出。
而在異常場(chǎng)景中,一旦報(bào)文類型不屬于TYPE1,TYPE2,TYPE3,TYPE4,那么data_fifo_ren一直為0,數(shù)據(jù)將會(huì)堵在fifo中,無(wú)法讀出。
2.一種更合理的案例方案
采用always和case語(yǔ)句,關(guān)鍵是添加了default語(yǔ)句表示異常報(bào)文允許立即從data_fifo讀出。
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
IC設(shè)計(jì)
-
輸出信號(hào)
-
FIFO設(shè)計(jì)
相關(guān)推薦
初學(xué)者,正在制作一個(gè)功放電路。原理圖構(gòu)造好了繪制PCB,然后老師說(shuō)PCB布局可能不合理,電源對(duì)音效處理有影響,求問(wèn)是否應(yīng)該修改?修改的話應(yīng)該如何布局PCB?謝謝各位了!
發(fā)表于 12-12 10:22
電子學(xué)這本書(shū)沒(méi)有對(duì)每章課后不合理電路進(jìn)行分析,對(duì)新手來(lái)說(shuō)太難了,有這方面的資源的前輩幫忙發(fā)一下,感激不盡。
發(fā)表于 07-20 16:45
不合理的爐溫曲線配置會(huì)導(dǎo)致什么問(wèn)題?
發(fā)表于 04-26 06:20
。如果有元器件突出版外,應(yīng)將突出版外的一邊朝外進(jìn)行拼版,或者預(yù)留足夠的拼版間距,以避免元器件相互干涉,從而導(dǎo)致無(wú)法組裝的問(wèn)題。
總結(jié)
通過(guò)深入了解拼版不合理案例,工程師可以更好地掌握如何優(yōu)化拼版
發(fā)表于 12-04 10:07
用實(shí)例講述了變電所繼電保護(hù)設(shè)計(jì)中由于未全面分析生產(chǎn)實(shí)際中的各種客觀因素,而造成設(shè)計(jì)結(jié)果不合理,并就整改辦法做了說(shuō)明。關(guān)鍵詞:變電所;繼電保護(hù);不合理設(shè)計(jì)
發(fā)表于 02-23 09:05
?28次下載
不合理軟件使用對(duì)硬盤會(huì)造成哪些損傷
硬盤是計(jì)算機(jī)中最重要的存儲(chǔ)介質(zhì),關(guān)于硬盤的維護(hù)保養(yǎng),相信每個(gè)電腦用戶都有所了解。
發(fā)表于 02-23 14:03
?586次閱讀
不合理使用對(duì)硬盤的損傷有哪些?
硬盤是計(jì)算機(jī)中最重要的存儲(chǔ)介質(zhì),關(guān)于硬盤的維護(hù)保養(yǎng),相信每個(gè)電腦用戶都有所了解。不過(guò),以前的很多文
發(fā)表于 02-24 13:53
?277次閱讀
據(jù)外媒報(bào)道,蘋果公司正在拒絕那些擁有“不合理高價(jià)”應(yīng)用內(nèi)購(gòu)買價(jià)格的應(yīng)用,就在幾周前,一位開(kāi)發(fā)者對(duì)App Store上的“欺詐行為”表示不滿。蘋果給一位應(yīng)用被該公司App Store審核團(tuán)隊(duì)拒絕
發(fā)表于 02-20 09:31
?1285次閱讀
LTE小區(qū)TAC配置不合理導(dǎo)致CSFB失敗處理案例 。
發(fā)表于 04-19 17:28
?2次下載
LTE小區(qū)TAC配置不合理回落失敗案例簡(jiǎn)介(電源技術(shù)錄用為分期)-該文檔為L(zhǎng)TE小區(qū)TAC配置不合理回落失敗案例簡(jiǎn)介文檔,是一份很不錯(cuò)的參考資料,具有較高參考價(jià)值,感興趣的可以下載看看………………
發(fā)表于 08-04 15:51
?7次下載
LTE小區(qū)TAC配置不合理回落失敗案例(大工20春電源技術(shù)在線作業(yè)1)-該文檔為L(zhǎng)TE小區(qū)TAC配置不合理回落失敗案例講解文檔,是一份很不錯(cuò)的參考資料,具有較高參考價(jià)值,感興趣的可以下載看看………………
發(fā)表于 08-04 17:12
?4次下載
【LTE實(shí)戰(zhàn)】LTE小區(qū)TAC配置不合理導(dǎo)致CSFB失敗處理案例(通信電源技術(shù)期刊2020)-該文檔為【LTE實(shí)戰(zhàn)】LTE小區(qū)TAC配置不合理導(dǎo)致CSFB失敗處理案例講解文檔,是一份很不錯(cuò)的參考資料,具有較高參考價(jià)值,感興趣的可
發(fā)表于 08-04 17:18
?9次下載
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《合成數(shù)據(jù)的不合理有效性.zip》資料免費(fèi)下載
發(fā)表于 07-13 09:29
?0次下載
【避坑指南】電容耐壓降額裕量不合理導(dǎo)致電容頻繁被擊穿
發(fā)表于 11-23 09:04
?2042次閱讀
工程師的PCB拼版存在著不少問(wèn)題。本文將帶您探討PCB拼版中的不合理案例,幫助您深入了解如何優(yōu)化拼版設(shè)計(jì)。01超出板邊器件處加工藝邊問(wèn)題描述:在拼版過(guò)程中,由于未
發(fā)表于 12-02 08:07
?776次閱讀
評(píng)論