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浪涌電流的危害 控制浪涌電流的常用方法

CHANBAEK ? 來源:硬件系統(tǒng)架構(gòu)師 ? 作者:Timothy ? 2023-10-26 14:55 ? 次閱讀

引言:在進(jìn)行工程設(shè)計時,我們常常關(guān)注電壓的安全性,因為電流的不好直接測量,導(dǎo)致對電流的關(guān)注比較少,但其實電流中隱藏的浪涌也往往有很大的隱患。當(dāng)接通子系統(tǒng)時,電流最初流向負(fù)載上的電容或電感,這種電流通常被稱為浪涌電流。如果開關(guān)快速接通(例如在沒有控制轉(zhuǎn)換速率dv/dt的情況下),則電流可能大到足以中斷連接到同一輸入軌的其他子系統(tǒng),在某些情況下,短時間內(nèi)的涌入電流可能會不可逆轉(zhuǎn)地?fù)p壞周圍的組件,甚至開關(guān)本身。

1.浪涌電流的危害

浪涌電流可能導(dǎo)致上游電源電壓下降,如果該電壓還為其他子系統(tǒng)供電,則子系統(tǒng)可能會出現(xiàn)故障或復(fù)位。在圖5-1中,開關(guān)被啟用,這會在輸入電源上產(chǎn)生快速瞬態(tài)電壓(dv/dt)和大電流尖峰,然后導(dǎo)致Vsupply電壓驟降,當(dāng)Vsw_out繼續(xù)打開時,電壓驟降是可見的。Vsupply上的電壓驟降導(dǎo)致DC/DC關(guān)閉,Vout衰減,直到Vsupply恢復(fù)到正常工作范圍內(nèi)。該場景演示了一個負(fù)載上的浪涌電流如何導(dǎo)致其它負(fù)載經(jīng)歷重置。

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圖5-1:Vsw_out上的涌入電流,導(dǎo)致電源下降和復(fù)位

有些系統(tǒng)對從輸入中汲取的電流有限制,這些限制可能由安全標(biāo)準(zhǔn)、電纜/連接器額定值或需要保持在快熔斷保險絲的額定電流以下來設(shè)置,無法控制的浪涌電流可能會超出限制,導(dǎo)致合規(guī)性故障或電纜、連接器或保險絲損壞。

使用MOSFET作為電源開關(guān)可能會超過FET的安全操作區(qū)域(SOA)并損壞開關(guān)本身,大多數(shù)功率FET都給出了在給定的漏極到源極電壓(VDS)、環(huán)境溫度和指定的脈沖持續(xù)時間下,開關(guān)可以處理多少電流。如果FET快速導(dǎo)通,形成大的負(fù)載電容,則在導(dǎo)通時間Ton持續(xù)時間內(nèi),通過FET的總能量為電容電壓平方的一半(CV2),該值可能超過FET的SOA曲線并損壞FET,如果相同大小的能量分布在更長的Ton上,那么FET有更多的時間來耗散熱量,設(shè)計才算合格。

2. 控制浪涌電流的常用方法

第一種是使用被動元件,如串聯(lián)電阻或負(fù)溫度系數(shù)(NTC)熱敏電阻來減緩輸出。第二種是使用開關(guān)管理輸出電壓上升的轉(zhuǎn)換速率。第三種是使用限流器或設(shè)計用于提供恒定電流直到開關(guān)完全接通的器件,最新的方法是使用熱調(diào)節(jié),在調(diào)節(jié)開關(guān)溫度的同時提供最大電流以防止故障。

缺陷:與電源串聯(lián)的電阻限制了負(fù)載的電流,純電阻器會將峰值涌入電流限制在VIN/R,這種技術(shù)將通過電阻器耗散功率,并限制負(fù)載在通電后可以汲取的電流。但由于效率低,該技術(shù)通常僅限于低電流應(yīng)用(通常遠(yuǎn)小于1A),圖5-2顯示了一個用于限制涌入電流的串聯(lián)電阻器。

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圖5-2:使用串位電阻限制浪涌電流

如果串聯(lián)NTC,當(dāng)電流未流過時,電阻將處于高值,當(dāng)通電時,高電阻將允許少量電流通過,這將開始自加熱NTC自身并導(dǎo)致電阻下降,逐漸允許越來越多的電流通過負(fù)載,直到NTC完全打開。由于NTC性能嚴(yán)重依賴于環(huán)境溫度,因此它可能不適合需要寬工作溫度范圍的應(yīng)用,圖5-3顯示了如何使用串聯(lián)NTC熱敏電阻來限制浪涌電流。

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圖5-3:使用串位NTC電阻限制浪涌電流

3. 轉(zhuǎn)換速率控制

控制開關(guān)接通的速率可以直接控制輸出電壓上升的速率,浪涌電流計算式為:

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則對于給定的固定Cload,降低開關(guān)速度(dVout/dt)會降低Iinrush。

4. RC時間常數(shù)

對于分立電源開關(guān),應(yīng)對浪涌電流的一種常見方法是插入一個RC網(wǎng)絡(luò),以降低MOSFET的開關(guān)速度,如圖5-4所示:

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圖5-4:具有RC上升時間以限制涌入電流的分立MOSFET

這是一種通過RC時間常數(shù)控制開關(guān)速度的簡單方法,雖然速度可以降低,總開啟時間可以增加,但注意dv/dt速度是非線性的,因此浪涌電流也是非線性的。開始開關(guān)將緩慢接通,并隨著開關(guān)完全接通而呈指數(shù)級增加,基于RC的浪涌電流見圖5-5。

圖片

圖5-5:基于RC的浪涌電流。

5. 線性軟啟動或dV/dt

許多集成電源開關(guān)具有線性控制輸出電壓上升時間的功能,這些開關(guān)具有固定或可調(diào)節(jié)的上升時間。在所有情況下,線性地控制輸出電壓上升時間意味著控制恒定的dVout/dt速率,在這種情況下,如果Cload是常數(shù),dVout/dt是常數(shù),那么Iinrush也將是常數(shù),如圖5-6所示:

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圖5-6:測量負(fù)載開關(guān)的線性dv/dt,以限制浪涌電流

與RC時間常數(shù)方法相比,線性軟啟動有幾個優(yōu)點,包括可以精確計算浪涌電流。在某些情況下,可能同時有最大浪涌電流限制和最大開啟時間要求,在這些情況下,如果RC時間常數(shù)需要很長時間才能接通,或者浪涌電流太高,那么線性控制方案可以滿足這兩個要求。如果不能滿足下述等式,那么除了改變設(shè)計架構(gòu)以消除這些限制,或者轉(zhuǎn)向更小的Cload或更低的Vout之外,就沒有其他解決方案:

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6. 恒流/電流限制調(diào)節(jié)

與線性軟啟動方案類似,如果為純電容性負(fù)載供電,控制浪涌電流的恒流方法將產(chǎn)生相同的結(jié)果。如果用恒定的Iinrush充電,那么對于給定的Cload,將以恒定的dv/dt充電。

不同之處在于,線性軟啟動是調(diào)節(jié)電壓,而限流器是調(diào)節(jié)電流,一旦開始在電容之外引入負(fù)載,方法就會有所不同。如果有一個集成電路在輸出電壓完全開啟之前激活恒流功能,那么線性軟啟動方法將疊加該電流,恒流方法將改變其轉(zhuǎn)換速率,因為一些電流現(xiàn)在流向負(fù)載而不是輸出電容。

在圖5-7 /圖5-8中,線性軟啟動為輸出保持恒定的轉(zhuǎn)換速率,而當(dāng)負(fù)載在2.5V下開啟時,恒定電流限制將改變其轉(zhuǎn)換速率。

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圖5-7:線性軟啟動或者dv/dt

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圖5-8:恒流或者恒流限制調(diào)節(jié)

啟動期間的恒流限制有助于在開關(guān)仍處于接通狀態(tài),并且負(fù)載可能接通的情況時,恒流限制提供保護(hù),防止輸出短路等事件發(fā)生,重要的是要理解,這是啟動期間管理浪涌電流的一種形式。

7. 散熱

為了盡可能快地打開開關(guān),但保持對開關(guān)的保護(hù),有一種使用熱調(diào)節(jié)的方法,這在輸出電容大或未知的情況下(例如驅(qū)動板外負(fù)載)非常有用。一旦開關(guān)結(jié)溫上升到指定水平,器件就開始控制浪涌電流,以保持調(diào)節(jié)的結(jié)溫,這將持續(xù)到負(fù)載電容完全充滿電,或者超時,如圖5-9中所示。

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圖5-9:使用4-VVIN,輸出電容為30mF。

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