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雙T陷波器及失真度測(cè)試與調(diào)整

冬至子 ? 來源:硬件電路設(shè)計(jì)與研究 ? 作者:scuzy ? 2023-10-13 15:30 ? 次閱讀

在測(cè)量放大器的失真度特性時(shí),可以使用陷波器,其基本原理如下圖:

圖片

對(duì)陷波器的要求:對(duì)各次諧波的放大倍數(shù)基本相等,對(duì)各次諧波的相移基本相等,除了濾除基波,要對(duì)各次諧波的影響基本相同,而且基波要有足夠的衰減量,讓其濾波后的殘余量不影響諧波測(cè)量。

采用數(shù)字ADC測(cè)量然后做FFT分析的數(shù)字處理方法測(cè)量時(shí),對(duì)ADC的性能要求較高,高精度測(cè)量時(shí)很難實(shí)現(xiàn),比如做到0.01%精度測(cè)試時(shí),一般ADC本身精度都達(dá)不到,此時(shí)采用雙T陷波器的模擬電路方案是不錯(cuò)選擇,下圖是一級(jí)雙T陷波器:

圖片

其要求:R>>R6,則陷波中心頻率為1/(2piRC ), 諧波的放大倍數(shù)為1+R5/R6, 具體分析見后面視頻; 計(jì)算的電阻電容未必買得到,電路應(yīng)該要優(yōu)化調(diào)整,調(diào)整方法可以采用李沙育圖形方法,實(shí)際基本電路如下:

圖片

通過調(diào)整圖中兩電位器,把李沙育圖形調(diào)整為一條水平線,具體原理方法見后面視頻解說。調(diào)好后,實(shí)際測(cè)試放大器失真時(shí)是根據(jù)測(cè)試精度要求級(jí)聯(lián)2~3級(jí)雙T陷波器,如下圖,具體測(cè)試見視頻講解:

圖片

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