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基于特征譜帶的高光譜遙感礦物譜系識(shí)別

萊森光學(xué) ? 來源:萊森光學(xué) ? 作者:萊森光學(xué) ? 2023-10-13 10:31 ? 次閱讀

引言

高光譜的光譜識(shí)別是高光譜區(qū)分于多光譜的主要標(biāo)準(zhǔn),也是高光譜的優(yōu)勢所在。目前高光譜巖礦蝕變信息識(shí)別與提取的方法主要為基于光譜波形參數(shù)、波譜相似性測度、混合光譜模型等。在具有大量已知地物光譜時(shí)這些方法適應(yīng)性強(qiáng),圖像地物識(shí)別更有用。但明顯不足是由于實(shí)際地物光譜變異、獲取數(shù)據(jù)受觀測角以及顆粒大小的影響而造成光譜變化,準(zhǔn)確匹配比較困難,造成巖礦識(shí)別與分析上的混淆和誤差。

礦物光譜特征

在當(dāng)前光學(xué)遙感攝影普遍使用的譜段范圍(0.4~2.5μm)內(nèi),巖礦標(biāo)型光譜特征都與碳酸根、水、羥基和鐵離子等陰離子基團(tuán)或一些陽離子有關(guān)。礦物吸收特征的差異主要取決于礦物晶體物化屬性的不同,即陰陽離子的化合價(jià)、陽離子的配位數(shù)目、主要陽離子的質(zhì)量、鍵的共價(jià)程度、陰陽離子間的距離、晶體對(duì)稱的不同。這些特征吸收指的是礦物獨(dú)特而較穩(wěn)定的吸收譜帶。這些譜帶在不同的礦物中有較穩(wěn)定的波長位置,具較穩(wěn)定獨(dú)特的波形,指示著某種礦物的存在。一般而言,陽離子(如Fe2+,F(xiàn)e3+和Mn3+等)因電子躍遷而在可見光區(qū)或近紅外具有特征譜帶,陰離子基團(tuán)(如CO32-,H2O,OH-與金屬-OH基團(tuán)等)因彎曲振動(dòng)而在短波紅外產(chǎn)生倍頻與合頻光的譜特征。

2.1 礦物光譜特征

(1)Mn離子:這里主要分析水錳礦、硬錳礦、菱錳礦、錳鋁榴石與錳橄欖石中Mn的光譜特征。Mn2+是典型的d5電子構(gòu)架,其譜帶主要產(chǎn)生于電子躍遷。在可見光區(qū)域(圖1),錳的特征譜帶主要為0.45μm與0.55μm以及在0.36~0.41μm附近的3處吸收特征,或在0.4~0.6μm區(qū)域產(chǎn)生的一個(gè)較陡的半吸收特征。

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圖1含錳礦物光譜

右圖為左圖的局部放大

(2)Fe離子:在礦物的組成成分中,F(xiàn)e是一個(gè)非常重要的元素。由晶體場理論可知,F(xiàn)e2+的基態(tài)D在四面體場中分裂為較高的五重線能級(jí)Eg和較低的五重線能級(jí)T2g;由于僅存在一個(gè)自旋容許躍遷,從而在1.0~1.1μm附近產(chǎn)生一個(gè)常見的強(qiáng)而寬的譜帶;Fe3+有一個(gè)對(duì)稱的基態(tài)S,在任何晶體場中都不分裂,到4G態(tài)所形成的更高能級(jí)的躍遷均為自旋禁戒,因而光譜相對(duì)較弱,但在0.6~0.9μm間產(chǎn)生強(qiáng)的吸收譜帶。對(duì)于不同類型鐵化合物,因其分子結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)以及透明度的差異,其特征譜形差別較大。圖2為一些含鐵礦物的波譜曲線。

從光譜曲線可知,鐵硅酸鹽礦物的特征譜帶位于0.9μm,呈對(duì)稱展布于0.8~1.0μm光譜區(qū)域。鐵的氫氧化合物特征譜帶位于1.0μm附近,成非對(duì)稱展布于0.7~1.40μm之間。而鐵的碳酸鹽礦物吸收譜帶呈寬緩平直狀展布于0.8~1.5μm之間。但鐵的氧化物和硫化物因礦物顏色的影響,屬于不透明礦物系列,出現(xiàn)光譜吸收限,光譜特征被掩蓋,輕微的氧化或蝕變可能使鐵的一些特征波譜顯現(xiàn)出來。

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圖2鐵化合物光譜下圖縱坐標(biāo)偏移,以便能夠清楚展示不同鐵化合物的光譜特征

左圖:Al的氧化物與氫氧化物;右圖:Al的硅酸鹽礦物

(3)鋁離子(Al3+)類礦物光譜:鋁離子在大多礦物中均能發(fā)現(xiàn),尤其是硅酸鹽礦物。鋁在硅酸鹽礦物結(jié)構(gòu)中起著雙重作用。一是呈四次配位,代替部分的Si4+而進(jìn)入絡(luò)陰離子,形成鋁硅酸鹽;二是呈六次配位,存在于硅氧骨干之外,起一般陽離子作用,形成鋁的硅酸鹽;或者兼有上述兩者的特性。圖3為這些礦物的波譜曲線。

鋁的氧化物波譜為1.4μm附近的反射峰較強(qiáng)。鋁的氫氧化物中,三水鋁石由于所含較強(qiáng)的Al-O-H鍵的伸縮振動(dòng)的合頻或倍頻的作用,在1.4~1.6μm間產(chǎn)生尖銳的由主要的1.435μm與次要的1.558μm組成的“二元”吸收特征。硬水鋁石因Al3+充填由O2-和(OH)-形成的1/2的八面體空隙,Al-O-H鍵較弱而在1.408μm產(chǎn)生較弱的吸收特征。

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圖4鈣長石-綠簾石光譜

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圖5高嶺石-夕線石光譜

鋁的硅酸鹽礦物(圖3,4,5)的特征光譜與[AlO4]并不相關(guān),與[AlSi3O8]相關(guān)性也不明顯。鋁在硅酸鹽中的光譜行為主要是鋁陽離子的電子躍遷以及Al-OH基團(tuán)伸縮振動(dòng)的合頻與倍頻的作用,而在短波紅外光譜產(chǎn)生特征吸收光譜。隨著Al-OH鍵力的增強(qiáng)與數(shù)量的增多,硅酸鹽礦物的特征更多地凸顯出OH基團(tuán)的尖銳且窄的吸收特征。由于Al-OH基團(tuán)在不同晶體結(jié)構(gòu)中能級(jí)的差異,其吸收譜帶的形態(tài)、位置以及次級(jí)吸收峰的形態(tài)都有所不同。從圖3下圖可見,鈉長石光譜特征并不明顯;白云母與高嶺石均因較強(qiáng)的Al-OH鍵而表現(xiàn)出較為一致的1.42μm與2.15μm的特征吸收峰,但在2.0~2.5μm之間的吸收峰形態(tài)卻存在較大的差異,這是二者識(shí)別與區(qū)分的標(biāo)志,是Al在晶體結(jié)構(gòu)中不同占位的光譜外在表現(xiàn)。

在低溫條件下,[AlO4]四面體的體積稍大于[SiO4]四面體,從而易轉(zhuǎn)變?yōu)榱闻湮恍问?。如鈣長石Ca[Al2Si2O8]轉(zhuǎn)變成綠簾石Ca2(Al,Fe)3O(OH)[SiO4][Si2O7],使A全部處于八面體配位中,成為最穩(wěn)定的形式。綠簾石光譜特征(圖4)較鈣長石復(fù)雜,并具有與高嶺石或白云母相同的譜形,但相對(duì)于后二者,其特征譜帶的位置相對(duì)向長波方向移動(dòng)。這主要是由于綠簾石晶體中具有Fe的類質(zhì)同象,影響了Al在晶體中鍵力與鍵長,從而使能級(jí)分裂的大小或OH基團(tuán)伸縮彎曲振動(dòng)的方向發(fā)生變化造成的。

在高溫富Al環(huán)境,[AlO4]可由六次配位轉(zhuǎn)變?yōu)椴糠值腁l的四次配位。如高嶺石Al4[Si4O10](OH)8在1000~1500°C的條件下可部分地轉(zhuǎn)變?yōu)橄€石Al[AlSiO5]。比較二者的光譜特征(圖5)可見,在2.2μm附近的主要特征吸收差異不大,主要差別是高嶺石中OH基團(tuán)振動(dòng)產(chǎn)生的吸收峰較夕線石尖銳,次級(jí)吸收峰特征較明顯。總的來說,Al離子自身以及硅鋁四面體并無特征吸收,含鋁硅酸鹽或鋁的鋁硅酸鹽礦物的光譜特征更主要是Al-OH鍵振動(dòng)的合頻或倍頻的結(jié)果,這將在金屬-OH的光譜特征中加以進(jìn)一步論述。

2.2 陰離子光譜特征

(1)金屬-OH:由于陰陽離子之間鍵的共價(jià)程度、陰陽離子間的距離造成晶體對(duì)稱度等的不同,使金屬-OH基團(tuán)光譜產(chǎn)生一定的差異。

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圖6 Mg-OH特征離子光譜特征

圖6主要為含Mg-OH鍵礦物的光譜。該類礦物最為顯著的是在2.30μm附近具有強(qiáng)吸收特征峰。陽起石強(qiáng)吸收譜帶位于2315nm處,黑云母2335nm水鎂石2315nm,葉蛇紋石2325nm,纖蛇紋石2325nm,鋰皂石2305nm,利蛇紋石2315~2325nm,金云母2325nm,滑石2315nm,透閃石2315nm。含Mg-OH的礦物光譜以2315~2335nm的最大吸收譜帶為特征,這也是識(shí)別含Mg-OH鍵礦物的顯著標(biāo)志。

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圖7 Al-OH特征離子光譜

圖7主要是含Al-OH鍵礦物的光譜。該類礦物最顯著的吸收特征是由位于2.20μm附近的最大吸收峰以及其兩側(cè)的一些次一級(jí)吸收峰構(gòu)成“二元結(jié)構(gòu)”。明礬石的特征吸收譜帶位于2165nm和2325nm處;鋰綠泥石為2175nm和2365nm;埃洛石為2205nm和2165nm;伊利石為2215nm和2355nm;高嶺石為2205nm和2165nm;蒙脫石為2205nm和2215nm;白云母2195~2225nm和2355nm;葉蠟石2165nm和2315nm;累托石2195nm;黃玉2085nm和2155nm,2215nm??梢姾珹l-OH鍵的礦物的識(shí)別光譜位于2165nm~2215nm之間。

(2)CO32-:在碳酸鹽CO3絡(luò)陰離子中,C與O之間為鍵力強(qiáng)的共價(jià)鍵,而CO3與金屬陽離子則以離子鍵為主。在1.3μm以前,碳酸鹽礦物的光譜特征主要是由金屬離子躍遷所決定;而1.3μm以后,其光譜特征是基團(tuán)振動(dòng)所產(chǎn)生,即CO32或一些水分子本身的倍頻或合頻模式振動(dòng)產(chǎn)生(圖8)。在近紅外區(qū),碳酸鹽通常出現(xiàn)5個(gè)顯著的特征譜帶:2.55μm,2.35μm,2.16μm,2.0μm和1.9μm,第Ⅰ、第Ⅱ是較清楚的雙重譜帶,強(qiáng)度比其余3個(gè)強(qiáng);碳酸鹽巖礦物最顯著的識(shí)別特征是2.3~2.4μm之間具有單一的特征吸收,對(duì)稱性左寬右窄,有別于其它類礦物光譜特征。同時(shí)該類絕大多數(shù)礦物也具有2.1~2.2μm以及2.5μm附近的次一級(jí)特征吸收。所含陽離子的不同,而在0.4~1.2μm區(qū)間出現(xiàn)陽離子躍遷的光譜特征,可用于識(shí)別不同類型的碳酸鹽巖礦物。

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圖8 碳酸鹽巖礦物光譜特征

右圖為左圖局部放大;兩圖的縱坐標(biāo)已偏移

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審核編輯 黃宇

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