氮化鎵（GaN）和碳化硅（SiC）等寬帶隙半導(dǎo)體器件用作電子開關(guān)的優(yōu)勢

設(shè)計出色功效的電子應(yīng)用時，需要考慮使用新型高性能氮化鎵（GaN）和碳化硅（SiC）技術(shù)的器件。與電子開關(guān)使用的傳統(tǒng)硅解決方案相比，這些新型寬帶隙技術(shù)具有祼片外形尺寸小、導(dǎo)熱和熱管理性能優(yōu)異、開關(guān)損耗低等顯著優(yōu)勢，非常適合工業(yè)、醫(yī)療、通信和車載應(yīng)用 電源 、驅(qū)動器和逆變器等空間受限的應(yīng)用。不過，設(shè)計需要考慮一些利弊關(guān)系，特別是開關(guān)損耗。例如，di/dt和dv/dt提高，開關(guān)速度加快，電路頻率振蕩放大，使噪聲成為重要考慮因素。

典型電路功能中，高邊（HS）和低邊（LS）MOSFET 用作開關(guān)器件驅(qū)動電感負(fù)載。在HS開關(guān)導(dǎo)通，LS開關(guān)關(guān)斷時，電流從電源VCC流向電感器L o 。反之，在HS開關(guān)關(guān)斷，LS開關(guān)導(dǎo)通時，電感器電流繼續(xù)從接地端同步流向L o 。導(dǎo)通/關(guān)斷狀態(tài)由柵極電壓定義，柵極電壓的變化影響柵極回路的充放電。開關(guān)時間和相關(guān)損耗取決于柵極電容通過柵極電流充放電的速度。柵極電流受驅(qū)動電壓柵極電阻和驅(qū)動電路整體寄生效應(yīng)的影響（圖1a）。

圖1a-柵極驅(qū)動電路元件

為了避免同時導(dǎo)通/關(guān)斷，需要認(rèn)真選擇柵極電阻解決方案，如高功率厚膜片式電阻、薄膜MELF或高功率背接觸電阻。這類解決方案不需要延長有效轉(zhuǎn)化為功率損耗的“死區(qū)時間”（HS和LS開關(guān)導(dǎo)通之間的時間間隔）（圖1b）。

圖1b-同步降壓電路，帶“死區(qū)時間”的****驅(qū)動信號

選擇柵極電阻技術(shù)的基本考慮因素主要包括脈沖功率、脈沖時間和溫度以及穩(wěn)定性。使用兩個柵極電阻時，通常建議導(dǎo)通柵極電阻值至少是關(guān)斷柵極電阻值的兩倍（圖1c）。重要的是注意關(guān)斷柵極電阻值，避免漏極（或IGBT情況下，集電極）電壓上升發(fā)生寄生導(dǎo)通。

圖1c-基礎(chǔ)柵極電路（獨立導(dǎo)通和關(guān)斷）

同時，還要考慮柵極電阻的阻值，阻值過高或過低都會發(fā)生損耗或振蕩。柵極電阻要求能夠承受短時間高峰負(fù)載，平均功耗隨頻率和占空比而增加。在功能上，電阻能夠?qū)ζ骷?nèi)部寄生電容放電并進(jìn)行Miller充電。減小電壓過沖可以降低器件和驅(qū)動器的應(yīng)力，減小寄生電感可以避免開關(guān)過程產(chǎn)生VGS振蕩。

為了盡量減少電路中的噪聲，縮短布線長度（減小寄生電感）很重要。因此，通常首選打線或表面貼裝柵極電阻。采用IGBR打線電阻的情況下，背接觸具有優(yōu)異導(dǎo)熱性，并最大限度減小器件與PCB之間的熱梯度。在連接、外形尺寸和燒結(jié)能力方面，IGBR電阻在打線連接，小尺寸以及燒結(jié)能力方面的綜合性能可以讓其更靈活地內(nèi)置于高功率半導(dǎo)體模塊或封裝。這樣電阻可以在布局上非常接近開關(guān)器件，從而減少部分寄生元件，有助于降低電路噪聲。

柵極電阻涵蓋多種技術(shù)解決方案，包括高功率厚膜片式電阻（a）、薄膜MELF電阻（b）和額定功率達(dá)4W的薄膜襯底電阻（c）。柵極電阻選型的其他考慮因素包括元件尺寸、精度、可靠性、元件與PCB之間的熱性能以及并聯(lián)寄生電感。

**圖****2. **柵極電阻類型

柵極電阻的阻值（R G ）通常為1 ? 至 100 ?之間。選擇較低的RG值可以減少器件功耗（E ON , E OFF ），但也會導(dǎo)致驅(qū)動電流增加。寬帶半導(dǎo)體器件上升時間短，因此還要考慮柵極電阻的RF影響，平衡開關(guān)損耗與EMI（電磁干擾）性能。如想減少EMI，可使用更高阻值的電阻，延長開關(guān)上升時間，但這自然會增加開關(guān)損耗。

根據(jù)電源電路的電感和負(fù)載，不同電阻技術(shù)解決方案的最大工作電壓也是重要的考慮因素，因為開關(guān)過程會出現(xiàn)電壓脈沖。通過考慮所有這些因素，可以選擇適用的柵極電阻解決方案，滿足功效、可靠性和降噪方面的特定要求。

為滿足瞬態(tài)的高峰電流（可達(dá)到兩位數(shù)電流）和高頻（有時甚至瞬間達(dá)到MHz）的要求，工作溫度對電阻就顯得尤為重要。高溫會造成阻值漂移并且漂移會隨著時間增加。阻值的長期穩(wěn)定性由器件結(jié)構(gòu)決定。例如，與片式電阻的矩形電阻區(qū)域相比，MELF電阻的圓柱體電阻區(qū)域面積擴大了π倍，可顯著提高抗脈沖性能。NiCr之類穩(wěn)定薄膜材料也具有出色的抗脈沖負(fù)載性能。在空間受限的設(shè)計中，電源開關(guān)的相對位置很重要，因為熱量可從電源開關(guān)流入PCB，從而影響柵極電阻的工作溫度。

如果您想充分利用寬帶隙半導(dǎo)體器件的功效優(yōu)勢，需要考慮柵極電荷Qx、開關(guān)頻率、驅(qū)動峰值電流以及快速開關(guān)時開關(guān)的高準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性的具體要求，設(shè)計最佳柵極驅(qū)動電路。正確選擇具有相應(yīng)技術(shù)和器件結(jié)構(gòu)的低阻值柵極電阻對于實現(xiàn)最佳電路效率至關(guān)重要。