0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

解讀BGA、CSP封裝中的球窩缺陷

jf_17722107 ? 來(lái)源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2023-10-08 08:47 ? 次閱讀

隨著B(niǎo)GA、CSP封裝器件向密間距、微型化的方向發(fā)展,無(wú)鉛制程的廣泛應(yīng)用給電子裝聯(lián)工藝帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。球窩(Pillow-head Effect)缺陷是BGA、CSP類(lèi)器件回流焊接中特有的一種缺陷形態(tài)。如圖所示,焊料球和焊錫之間沒(méi)有完全熔合,而是像枕頭一樣放在一個(gè)窩里或一個(gè)堆上。這種缺陷經(jīng)常發(fā)生在BGA、CSP器件的回流焊接中,在無(wú)鉛制程中更為突出。

wKgZomUh--GAX4jcAAKjhDzX210329.png

圖1.球窩現(xiàn)象


球窩缺陷不易被檢測(cè)出來(lái),因?yàn)楹噶锨蚝秃稿a之間往往有部分連接。所以電路可能能夠通過(guò)功能測(cè)試、光學(xué)檢查和ICT測(cè)試。但是,由于焊料之間沒(méi)有真正熔混,焊點(diǎn)不牢固,可能會(huì)在后續(xù)的工藝或使用過(guò)程中導(dǎo)致失效。例如,在焊接工藝之后,存在球窩缺陷的PCBA可能會(huì)在后續(xù)的組裝工藝、運(yùn)輸過(guò)程中因?yàn)闊崦浝淇s或者在現(xiàn)場(chǎng)經(jīng)受長(zhǎng)時(shí)間的電流負(fù)荷而失效。因此,球窩缺陷的危害性是極大的。

球窩產(chǎn)生的機(jī)理
1.錫膏或焊料球的可焊性不良。
2.錫膏印刷和貼片精度影響。如果錫膏印刷不均勻或不準(zhǔn)確,或者貼片位置偏移,會(huì)導(dǎo)致焊料球和焊錫之間的接觸不良,從而形成球窩。
3.BGA焊球的共面性不好。如果BGA封裝器件的焊球高度不一致,會(huì)導(dǎo)致部分焊點(diǎn)受力不均勻,從而造成翹曲或斷裂。
4.芯片翹曲或芯片溫度不均勻,存在溫差。如果芯片在回流焊接過(guò)程中受熱不均勻,或者在回流焊接前后發(fā)生翹曲,都會(huì)導(dǎo)致芯片與PCB基材之間的熱膨脹系數(shù)不匹配,從而產(chǎn)生應(yīng)力和變形。這會(huì)使得部分焊點(diǎn)失去接觸或分離,形成球窩。

抑制球窩現(xiàn)象的措施
1.優(yōu)化回流溫度曲線,保證錫膏能夠完全液化并與焊料球充分熔合。
2.選用合適的錫膏:采用抗熱坍塌能力強(qiáng),去CuO(Cu2O)、SnO(SnO2)效果良好的錫膏。
3.改善熱風(fēng)回流的均熱能力,最好采用“熱風(fēng)+紅外”復(fù)合加熱方式,能有效改善封裝體上溫度的均勻性。
4.加強(qiáng)對(duì)回流爐排氣系統(tǒng)的監(jiān)控,確保排氣管道順暢有效。

福英達(dá)錫膏
深圳市福英達(dá)公司自主研發(fā)和生產(chǎn)的SiP系統(tǒng)級(jí)封裝錫膏Fitech siperiorTM 1550/1565,粒徑T8、T9,最小印刷/點(diǎn)膠點(diǎn)φ=70/50μm,可穩(wěn)定用于μBGA預(yù)置。在實(shí)際應(yīng)用中體現(xiàn)出優(yōu)異的印刷性、脫模轉(zhuǎn)印性、形狀和穩(wěn)定保持性及足量且均勻的印刷量。長(zhǎng)時(shí)間印刷后無(wú)錫珠、橋連缺陷。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 封裝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    126

    文章

    7901

    瀏覽量

    142965
  • BGA
    BGA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    543

    瀏覽量

    46869
  • CSP
    CSP
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    124

    瀏覽量

    28094
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    大研智造激光錫設(shè)備:提升車(chē)用集成電路BGA可靠性(下)

    柵陣列 (Ball Grid Array,BGA) 是一種表面貼裝的封裝形式,憑借其外形尺寸小、引出密度高、電感寄生小、工藝成熟度高、散熱性能好等優(yōu)勢(shì),成為近年來(lái)集成電路的主要封裝
    的頭像 發(fā)表于 11-30 11:40 ?192次閱讀
    大研智造激光錫<b class='flag-5'>球</b>植<b class='flag-5'>球</b>設(shè)備:提升車(chē)用集成電路<b class='flag-5'>BGA</b>焊<b class='flag-5'>球</b>可靠性(下)

    BGA芯片的封裝類(lèi)型 BGA芯片與其他封裝形式的比較

    不同的應(yīng)用需求,衍生出了多種類(lèi)型的BGA封裝。 標(biāo)準(zhǔn)BGA(PBGA) 這是最基本的BGA封裝形式,具有規(guī)則排列的焊
    的頭像 發(fā)表于 11-23 11:40 ?1100次閱讀

    BGA芯片的定義和原理

    一、BGA芯片的定義 BGA是一種表面貼裝技術(shù)(SMT)封裝方式,它通過(guò)在IC芯片的底部形成一個(gè)球形焊點(diǎn)陣列來(lái)實(shí)現(xiàn)與PCB的連接。這些球形焊點(diǎn),也稱(chēng)為焊,通常由錫(Sn)、鉛(Pb)
    的頭像 發(fā)表于 11-23 11:37 ?1111次閱讀

    BGA封裝在高頻應(yīng)用的表現(xiàn)

    信號(hào)完整性 信號(hào)完整性(SI)是指信號(hào)在傳輸過(guò)程中保持其完整性和準(zhǔn)確性的能力。在高頻應(yīng)用,信號(hào)完整性尤為重要,因?yàn)楦哳l信號(hào)容易受到各種因素的影響,如反射、串?dāng)_和衰減等。 1.1 反射 在BGA封裝
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:39 ?265次閱讀

    不同BGA封裝類(lèi)型的特性介紹

    BGA(Ball Grid Array,柵陣列)封裝是一種表面封裝技術(shù),廣泛應(yīng)用于集成電路的封裝
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:36 ?397次閱讀

    BGA封裝的測(cè)試與驗(yàn)證方法

    的初步步驟,主要檢查焊的完整性和均勻性。通過(guò)高分辨率的顯微鏡或自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)設(shè)備,可以檢測(cè)焊的大小、形狀和位置是否符合設(shè)計(jì)要求。 2. X射線檢測(cè) X射線檢測(cè)是一種非破壞性的檢測(cè)方法,可以透視BGA
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:32 ?499次閱讀

    BGA封裝常見(jiàn)故障及解決方法

    BGA(Ball Grid Array,柵陣列)封裝在電子設(shè)備中廣泛應(yīng)用,但其也可能出現(xiàn)一些常見(jiàn)故障。以下是對(duì)這些故障及其解決方法的分析: 一、常見(jiàn)故障 開(kāi)裂 : 溫度過(guò)高 :當(dāng)電子設(shè)備運(yùn)行過(guò)熱
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:27 ?488次閱讀

    BGA封裝與其他封裝形式比較

    隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路封裝技術(shù)也在不斷進(jìn)步。BGA封裝作為一種先進(jìn)的封裝形式,已經(jīng)成為高性能電子設(shè)備不可或缺的一部分。 1.
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:21 ?416次閱讀

    BGA封裝技術(shù)的發(fā)展 BGA封裝的優(yōu)勢(shì)與應(yīng)用

    BGA(Ball Grid Array,柵陣列)封裝技術(shù)是一種集成電路封裝技術(shù),它通過(guò)在芯片的底部形成一個(gè)球形焊點(diǎn)陣列來(lái)實(shí)現(xiàn)芯片與電路板之間的電氣連接。
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:15 ?1066次閱讀

    μBGACSP在回流焊接冷焊率較高的原因

    在回流焊接過(guò)程,對(duì)于密腳(間距≤0.5mm)的μBGA、CSP封裝芯片來(lái)說(shuō),由于焊接部位的隱蔽性,熱量向焊球焊點(diǎn)部位傳遞困難,存在冷焊發(fā)生率較高的風(fēng)險(xiǎn)。在相同的峰值溫度和回流時(shí)間條件
    的頭像 發(fā)表于 11-12 08:56 ?214次閱讀
    μ<b class='flag-5'>BGA</b>、<b class='flag-5'>CSP</b>在回流焊接<b class='flag-5'>中</b>冷焊率較高的原因

    針對(duì) BGA 封裝的 PCB Layout 關(guān)鍵建議

    的功能,就必須采用最先進(jìn)的器件封裝技術(shù)。柵陣列(BallGridArray,即BGA)自20世紀(jì)80年代末問(wèn)世以來(lái),一直是滿(mǎn)足這一需求的主流器件封裝技術(shù)之一。BG
    的頭像 發(fā)表于 10-19 08:04 ?1061次閱讀
    針對(duì) <b class='flag-5'>BGA</b> <b class='flag-5'>封裝</b>的 PCB Layout 關(guān)鍵建議

    BGA連接器植工藝研究

    柵陣列(Ball Grid Array,BGA封裝具有體積小、引腳密度高、信號(hào)完整性和散熱性能佳等優(yōu)點(diǎn),因而廣泛應(yīng)用于大規(guī)模集成電路的封裝領(lǐng)域。植
    的頭像 發(fā)表于 07-15 15:42 ?761次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>連接器植<b class='flag-5'>球</b>工藝研究

    淺談BGA、CSP封裝缺陷

    隨著BGA、CSP封裝器件向密間距、微型化的方向發(fā)展,無(wú)鉛制程的廣泛應(yīng)用給電子裝聯(lián)工藝帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。(Pillow-head Effe
    的頭像 發(fā)表于 04-10 09:08 ?651次閱讀
    淺談<b class='flag-5'>BGA</b>、<b class='flag-5'>CSP</b><b class='flag-5'>封裝</b><b class='flag-5'>中</b>的<b class='flag-5'>球</b><b class='flag-5'>窩</b><b class='flag-5'>缺陷</b>

    SMT貼片中BGA封裝的優(yōu)缺點(diǎn)

    一下BGA封裝優(yōu)缺點(diǎn)。 BGA封裝的優(yōu)點(diǎn): 1、BGA體積小內(nèi)存容量大,同樣內(nèi)存IC在相同容的量下,BG
    的頭像 發(fā)表于 04-07 10:41 ?774次閱讀

    什么是柵陣列?BGA封裝類(lèi)型有哪些?

    當(dāng)涉及到極其敏感的計(jì)算機(jī)部件時(shí)??梢钥闯?,當(dāng)涉及到表面安裝的組件時(shí),通過(guò)電線連接集成電路是困難的。柵陣列是最好的解決方案。這些BGA可以很容易地識(shí)別在微處理器的底部。由于它直接連接終端,BGA
    的頭像 發(fā)表于 02-23 09:40 ?1852次閱讀