開(kāi)關(guān)電源老化測(cè)試時(shí)出現(xiàn)燒壞現(xiàn)象，查找問(wèn)題“七步法”請(qǐng)收好！

作者：屈工有話(huà)說(shuō)

對(duì)電源產(chǎn)品進(jìn)行老化測(cè)試是為了檢驗(yàn)和提高電源產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和安全性，它是生產(chǎn)工藝流程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。老化測(cè)試可以幫助制造商確保其產(chǎn)品在各種工作條件下均能正常工作，從而提供高品質(zhì)的電源解決方案。

客戶(hù)在生產(chǎn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有小批樣機(jī)在老化測(cè)試過(guò)程中燒壞。根據(jù)客戶(hù)的描述，我們提供了幾個(gè)重要步驟來(lái)查找問(wèn)題。

以下為測(cè)試樣機(jī)圖片：

CR5215BSC樣機(jī)圖片

【應(yīng)用】小功率電源適配器/圣誕燈、LED驅(qū)動(dòng)器/蜂窩電話(huà)充電器/替代線(xiàn)性調(diào)整器RCC

【規(guī)格】5V1A

【控制IC】CR5215BSC

關(guān)于CR5215BSC：高精度恒流/恒壓原邊控制功率開(kāi)關(guān)

CR5215BSC是一款應(yīng)用于小功率AC/DC充電器和電源適配器的高性能離線(xiàn)式脈寬調(diào)制控制器。該芯片采用原邊檢測(cè)和調(diào)整的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，因此在應(yīng)用時(shí)無(wú)需TL431和光耦。芯片內(nèi)置恒流/恒壓兩種控制方式。在恒流控制時(shí)，最大輸出電流和輸出功率可以通過(guò)CS 引腳的限流電阻RS設(shè)定。在恒壓控制時(shí)，內(nèi)置恒壓采樣電路以及高精度的誤差比較器基準(zhǔn)電壓保證了芯片的高性能和高精度。此外，內(nèi)置線(xiàn)損補(bǔ)償電路保證了從空載到滿(mǎn)載條件下輸出電壓精度。芯片還具有極低的靜態(tài)工作電流，芯片待機(jī)功耗低于75mW。

CR5215BSC針對(duì)各種故障設(shè)計(jì)了一系列完善的保護(hù)措施，包括逐周期峰值電流限制、VDD過(guò)壓保護(hù)、FB開(kāi)路保護(hù)、輸出短路保護(hù)、前沿消隱、過(guò)溫保護(hù)、電源鉗位和欠壓鎖定功能。在FB上拉電阻開(kāi)路，F(xiàn)B下拉電阻短路，輸出二極管開(kāi)路或者短路，變壓器繞組短路，CS引腳電阻開(kāi)路等故障條件下都能有效保護(hù)，使得芯片具有更高的可靠性。

主要特點(diǎn)

●低啟動(dòng)電流

●恒壓精度可達(dá)±5%、恒流精度可達(dá)±5%

●全電壓范圍內(nèi)高精度恒壓和恒流輸出

●可編程CC/CV模式控制

●高能效QR控制模式

●內(nèi)置初級(jí)電感量偏差補(bǔ)償功能

●內(nèi)置輸出線(xiàn)電壓補(bǔ)償功功能

●內(nèi)置全電壓功率自適應(yīng)補(bǔ)償功能

●無(wú)音頻噪音控制技術(shù)

●VDD端過(guò)壓、欠壓保護(hù)功能

●VDD端鉗位電路

●內(nèi)置輸出過(guò)壓保護(hù)功能

●內(nèi)置FB開(kāi)路、短路保護(hù)功能

●內(nèi)置輸出二極管開(kāi)路、短路保護(hù)功能

●內(nèi)置前沿消隱電路

●逐周期電流限制

●過(guò)載保護(hù)功能

●過(guò)溫保護(hù)功能

●SOP-7L綠色封裝

基本應(yīng)用

●小功率電源適配器

●蜂窩電話(huà)充電器

●圣誕燈、LED驅(qū)動(dòng)器

●替代線(xiàn)性調(diào)整器和RCC

典型應(yīng)用

管腳排列

管腳描述

【問(wèn)題描述】

客戶(hù)在生產(chǎn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有小批樣機(jī)在老化測(cè)試過(guò)程中燒壞。

【解決思路】

當(dāng)開(kāi)關(guān)電源老化過(guò)程中出現(xiàn)燒壞問(wèn)題時(shí)，可以采取以下步驟來(lái)查找問(wèn)題：

1、外觀檢查：首先，檢查開(kāi)關(guān)電源外觀是否有燒焦、變色、膨脹或明顯的損壞跡象。這可能表明某些元件或線(xiàn)路發(fā)生了故障。

2、檢查電路保護(hù)器：檢查開(kāi)關(guān)電源中是否存在保險(xiǎn)絲、保護(hù)管或保護(hù)器件。如果某部分被熔斷或損壞，那么很可能是由于過(guò)流或過(guò)載導(dǎo)致的問(wèn)題。

3、測(cè)量輸出電壓和電流：使用萬(wàn)用表或示波器等測(cè)試工具，測(cè)量開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓和電流。確保輸出電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)，并檢查是否有異常紋波或漏電流。

4、檢查開(kāi)關(guān)元件：開(kāi)關(guān)電源中的開(kāi)關(guān)元件（如MOSFET、IGBT等）可能會(huì)受到過(guò)電壓或過(guò)電流的影響而燒壞。通過(guò)檢查這些元件是否存在斷路、短路或明顯損壞來(lái)判斷它們的工作狀態(tài)。

5、檢查電容器：開(kāi)關(guān)電源中的電容器也是常見(jiàn)的故障點(diǎn)。檢查電容器是否存在漏液、漏電或明顯膨脹等異常情況。

6、檢查散熱系統(tǒng)：過(guò)熱是開(kāi)關(guān)電源故障的常見(jiàn)原因之一。檢查散熱器、風(fēng)扇和散熱片等散熱部件是否正常工作，以及是否有堵塞或損壞。

7、檢查控制電路：開(kāi)關(guān)電源的控制電路可能也會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致無(wú)法正常工作。檢查控制芯片、驅(qū)動(dòng)電路和反饋電路等部分是否存在問(wèn)題。

【調(diào)通要點(diǎn)】

首先按上述思路先檢查外觀，查看是否有明顯損壞，發(fā)現(xiàn)IC有輕微燒壞的現(xiàn)象。檢查基本波形，發(fā)現(xiàn)CS波形有輕微彎曲。

如圖，CS波形正常來(lái)說(shuō)是一條很直的斜線(xiàn)，圖上有輕微彎曲，說(shuō)明磁芯的感量已經(jīng)趨于飽和。經(jīng)過(guò)測(cè)量，發(fā)現(xiàn)初級(jí)繞組感量Lp為2.6mH，確實(shí)偏大了。磁飽和會(huì)使電源溫度升高，從而導(dǎo)致燒壞樣機(jī)，于是減小感量。

【最終結(jié)果】

把感量減小到2.4mH，彎曲波形有所改善，消除了因磁飽和而導(dǎo)致電源燒壞的隱患。在合理范圍內(nèi)，增大感量可以增加效率，但過(guò)度增加反而會(huì)帶來(lái)各種隱患。


審核編輯 黃宇