0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

基于Xilinx FPGA的邊界掃描應(yīng)用

電子電路開發(fā)學(xué)習(xí) ? 來源:電子電路開發(fā)學(xué)習(xí) ? 2023-09-13 12:29 ? 次閱讀

上一篇文章,介紹了基于STM32F103的JTAG邊界掃描應(yīng)用,演示了TopJTAG Probe軟件的應(yīng)用,以及邊界掃描的基本功能。本文介紹基于Xilinx FPGA的邊界掃描應(yīng)用,兩者幾乎是一樣。

1. 獲取芯片的BSDL文件

FPGA的BSDL文件獲取方式,可以參考之前的文章:BSDL文件獲取。 以Xilinx Kintex-7系列FPGA XC7K325T為例,可以在BSDL Library網(wǎng)站獲取,或者在ISE、Vivado的安裝目錄獲取,

D:ProgramXilinx14.7ISE_DSISEkintex7data D:ProgramXilinxVivadoVivado2018.3ids_liteISEkintex7data

2. 硬件連接

首先需要準(zhǔn)備好以下硬件:

JTAG調(diào)試器,如JLink V9標(biāo)準(zhǔn)版

一塊FPGA板子,如Xilinx XC7K325T

Xilinx的JTAG接口和Jlink的JTAG接口線序不一致,需要使用單獨的杜邦線分別連接TCK、TMS、TDI、TDO和VREF、GND信號。

3. 邊界掃描測試

打開TopJTAG新建工程,選擇JTAG設(shè)備為JLink

2fd22f0c-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

如果連接正常,會顯示當(dāng)前連接芯片的IDCODE

3000259c-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

指定BSDL文件路徑,并進行IDCODE校驗。

3026f708-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

初始狀態(tài)為stop狀態(tài),

30492684-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

初始默認(rèn)為Sample狀態(tài),點擊RUN按鈕,就可以看到所有管腳的實時狀態(tài),黑色的是電源管腳,黑色的是高電平,藍色的是低電平。閃爍的說明當(dāng)前為高低電平翻轉(zhuǎn)狀態(tài)。

307bd25a-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

在左側(cè)Pins窗口或右側(cè)芯片視圖,選擇一個芯片管腳,右鍵,可以選擇添加到Watch窗口或Waveform窗口

309a3e70-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

Watch窗口可以看到管腳實時狀態(tài),并且可以統(tǒng)計電平翻轉(zhuǎn)的次數(shù),Waveform窗口可以顯示實時的波形。

30b5d5d6-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

Waveform支持放大、縮小、暫停等基本操作。

30eef654-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

Pins窗口,選擇一個管腳右鍵之后,可以進行命名,輸出高、低電平或高阻狀態(tài)。

310bfdd0-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

支持多選之后,批量控制電平狀態(tài)

31398840-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

支持多選之后,批量添加到Waveform窗口

315b5664-51ea-11ee-a25d-92fbcf53809c.jpg

4. 總結(jié)

單片機不同,大多數(shù)FPGA芯片都是BGA封裝的,管腳個數(shù)從200至1000不等,這也就意味著需要多層PCB來進行硬件設(shè)計,密集的引腳和PCB的內(nèi)層走線,會導(dǎo)致故障的排查越來越困難,通過邊界掃描,可以方便、快捷的判斷出故障點,在產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、測試階段可以大大提高效率。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • FPGA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1630

    文章

    21766

    瀏覽量

    604573
  • Xilinx
    +關(guān)注

    關(guān)注

    71

    文章

    2168

    瀏覽量

    121762
  • JTAG
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    401

    瀏覽量

    71738
  • STM32F103
    +關(guān)注

    關(guān)注

    33

    文章

    477

    瀏覽量

    63721
  • 邊界掃描
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    32

    瀏覽量

    15028

原文標(biāo)題:強大的JTAG邊界掃描5-FPGA邊界掃描應(yīng)用

文章出處:【微信號:mcu149,微信公眾號:電子電路開發(fā)學(xué)習(xí)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    什么是邊界掃描?JTAG邊界掃描測試方案介紹

    提到邊界掃描,就不得不提JTAG,因為邊界掃描是JTAG接口的功能之一。
    發(fā)表于 09-22 14:12 ?4338次閱讀
    什么是<b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>?JTAG<b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>測試方案介紹

    FPGA邊界掃描模式可以串接兩個FPGA

    請教大家一個問題,板子上有兩個FPGA,想用一個PROM配置,將PROM和兩個FPGA邊界掃描下載方式連起來可以嗎? 就是下圖這種模式,可不可以再多串一個
    發(fā)表于 03-24 15:53

    如何利用SOPC設(shè)計一款便攜式邊界掃描故障診斷儀?

    邊界掃描是什么原理?如何利用FPGA作為載體來實現(xiàn)邊界掃描故障診斷儀的SOPC系統(tǒng)?
    發(fā)表于 04-12 06:07

    邊界掃描測試技術(shù)介紹

    邊界掃描測試技術(shù) 不屬于 coresight架構(gòu),邊界掃描測試技術(shù) 被 coresight 架構(gòu) 使用.綜述聯(lián)合測試行動組(Joint Test Action Group,簡稱 JTA
    發(fā)表于 02-17 07:33

    高速邊界掃描主控器設(shè)計

    分析邊界掃描測試技術(shù)的工作機制和對測試支撐系統(tǒng)的功能需求,提出一種基于USB總線的高速邊界掃描測試主控器的設(shè)計方案。利用CY7C68013作為USB2.0接口控制器,使用CPLD實現(xiàn)J
    發(fā)表于 04-03 08:43 ?17次下載

    邊界掃描測試技術(shù)在硬件實驗中的應(yīng)用

    本文提出將廣泛用于測試領(lǐng)域的邊界掃描技術(shù)應(yīng)用在基于FPGA的計算機硬件實驗課程中,利用邊界掃描技術(shù)解決F
    發(fā)表于 08-18 10:10 ?17次下載

    應(yīng)用于FPGA邊界掃描設(shè)計

    應(yīng)用于FPGA邊界掃描設(shè)計蔣曉(中國電子科技集團 38 研究所,合肥230031)摘要:針對在FPGA芯片中的應(yīng)用特點,設(shè)計了一種邊界
    發(fā)表于 12-14 11:27 ?22次下載

    邊界掃描與電路板測試技術(shù)

    摘 要: 本文論述了邊界掃描技術(shù)的基本原理和邊界掃描在電路板測試及在FPGA、DSP器件中的應(yīng)用。介紹了為提高電路板的可測試性而采用
    發(fā)表于 03-11 13:45 ?1784次閱讀
    <b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>與電路板測試技術(shù)

    基于USB總線的邊界掃描測試系統(tǒng)

    分析了 邊界掃描 測試技術(shù)的工作機制對測試主控系統(tǒng)的功能需求, 提出了一種基于 USB總線 的低成本邊界掃描測試主控系統(tǒng)的硬件設(shè)計方案; 該系統(tǒng)以便攜式計算機為平臺, 用
    發(fā)表于 07-04 15:18 ?25次下載
    基于USB總線的<b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>測試系統(tǒng)

    邊界掃描測試的原理及應(yīng)用設(shè)計

    邊界掃描測試的原理及應(yīng)用設(shè)計,有需要的下來看看。
    發(fā)表于 02-16 18:25 ?25次下載

    簡述BSDL邊界掃描語言,BSDL邊界掃描語言的應(yīng)用

    BSDL邊界掃描語言的邊界掃描是一個完善的測試技術(shù)。 邊界掃描在自當(dāng)聯(lián)合測試行動組(JTAG)9
    發(fā)表于 04-19 14:49 ?8730次閱讀
    簡述BSDL<b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>語言,BSDL<b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>語言的應(yīng)用

    邊界掃描測試的基本原理及其測試系統(tǒng)的設(shè)計

    隨著超大規(guī)模集成電路(VLSI)、表面安裝器件(SMD)、多層印制電路板(MPCB)等技術(shù)的發(fā)展,電路板的常規(guī)測試方式面臨挑戰(zhàn)。介紹了邊界掃描技術(shù)及邊界掃描測試的基本原理,提出了一種基
    發(fā)表于 12-01 10:50 ?19次下載
    <b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>測試的基本原理及其測試系統(tǒng)的設(shè)計

    邊界掃描技術(shù)的詳細資料描述

    安捷倫邊界掃描軟件包支持符合IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1的數(shù)字設(shè)備的測試。測試開發(fā)人員可以有效和高效地測試數(shù)字設(shè)備,同時顯著減少測試開發(fā)時間。當(dāng)邊界掃描被實現(xiàn)時,故障覆蓋和診斷可以增加。本
    發(fā)表于 12-04 08:00 ?0次下載
    <b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>技術(shù)的詳細資料描述

    JTAG(四) 邊界掃描測試技術(shù)

    邊界掃描測試技術(shù) 不屬于 coresight架構(gòu),邊界掃描測試技術(shù) 被 coresight 架構(gòu) 使用.綜述 聯(lián)合測試行動組(Joint Test Action Group,簡稱 JT
    發(fā)表于 12-20 19:47 ?20次下載
    JTAG(四) <b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>測試技術(shù)

    邊界掃描測試軟件XJTAG和TopJTAG介紹

    前面兩篇文章介紹了邊界掃描的基本原理和BSDL文件,本文文章介紹邊界掃描測試實際使用的兩款軟件工具,在后面的實戰(zhàn)應(yīng)用部分,會演示基于STM32和FP
    的頭像 發(fā)表于 09-11 14:34 ?3139次閱讀
    <b class='flag-5'>邊界</b><b class='flag-5'>掃描</b>測試軟件XJTAG和TopJTAG介紹