晶振測(cè)試儀使用方法

1.頻率測(cè)試

①設(shè)置單一頻點(diǎn)，范圍為1MHz-100MHz，以26M為例，方法為：主菜單-STIMULUS-CW FREQ-2 6 M。

②將掃描點(diǎn)數(shù)設(shè)置為301，設(shè)置方法為：主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301。

此時(shí)晶振PI網(wǎng)絡(luò)分析儀OUT端口輸出單一26MHz信號(hào)，此時(shí)可以用頻率計(jì)進(jìn)行測(cè)試，記錄下實(shí)測(cè)頻率。

③重復(fù)上述步驟，根據(jù)需求檢測(cè)相應(yīng)的輸出頻率誤差，精度要求為±1ppm。

④恢復(fù)掃描點(diǎn)并保存，恢復(fù)掃描點(diǎn)路徑為：主菜單：STIMULUS-SWEEP POINTS，設(shè)置為401；保存路徑為：主菜單 -CONFIG-SAVE CONFIG。

上述1和2頻率超差校準(zhǔn)方法：

①設(shè)置基準(zhǔn)26M，方法為：主菜單-CONFIG-EXPERT SETTINGS-TCXO-2 6 M。

②設(shè)置單一輸出頻點(diǎn)26M，方法為：主菜單-STIMULUS-CW FREQ-2 6 M。

③將掃描點(diǎn)數(shù)設(shè)置為301，設(shè)置方法為：主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301。

④測(cè)試晶振PI網(wǎng)絡(luò)分析儀OUT端口輸出頻率，并設(shè)置到：主菜單-CONFIG-EXPERT SETTINGS-TCXO。

⑤恢復(fù)掃描點(diǎn)并保存，恢復(fù)掃描點(diǎn)路徑為：主菜單：STIMULUS-SWEEP POINTS，設(shè)置為401；保存路徑為：主菜單 -CONFIG-SAVE CONFIG。

2.電阻測(cè)試（1Ω-500Ω）

此項(xiàng)測(cè)試需要用無感電阻進(jìn)行測(cè)試，電阻測(cè)試方法如下（若精度不夠，需要進(jìn)行重新校準(zhǔn)）：

設(shè)置驗(yàn)證頻點(diǎn)，如24MHz，操作方法為：主菜單-STIMULUS-CENTER -2 4 M;

設(shè)置掃描點(diǎn)數(shù)為301，操作方法為：主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301;

將顯示選項(xiàng)設(shè)置為“SERIES R”，操作方法為：主菜單-DISPLAY-FORMAT S21(THRU)-SERIES R;

插入標(biāo)準(zhǔn)電阻，顯示界面如下。若測(cè)試阻值超標(biāo)，建議重新校準(zhǔn)，并重復(fù)①到④驗(yàn)證步驟。更換頻點(diǎn)，再重復(fù)①到④驗(yàn)證步驟。此項(xiàng)精度要求為2Ω+標(biāo)準(zhǔn)電阻*10%。

3.其他參數(shù)測(cè)試

該設(shè)備沒有專用的檢定標(biāo)準(zhǔn)，可以通過對(duì)比法來驗(yàn)證其精度。可利用50Ω通用網(wǎng)絡(luò)分析儀來驗(yàn)證晶振串聯(lián)諧振頻率Fs,Rs,FL,CL，需要配合12.5Ω PI網(wǎng)絡(luò)（IEC444-1中所述）。

檢測(cè)依據(jù)：

①SJ/Z9154.1-87/IEC444-1(1989)用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件參數(shù)第一部分用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法。

②GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量第11部分：采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法。

用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)Fs和Rs：

①中心頻率設(shè)置：根據(jù)晶振頻率設(shè)置為所需要的頻點(diǎn)；

②跨度設(shè)置：設(shè)置為中心頻率的8*10-4；

③掃描功率設(shè)置：對(duì)于12.5Ω PI網(wǎng)絡(luò)，將網(wǎng)絡(luò)分析儀掃描功率設(shè)置為-2dbm；

④掃描點(diǎn)數(shù)設(shè)置：設(shè)置為當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)分析儀可提供的最大值以達(dá)到更高的精度；

⑤帶寬設(shè)置，默認(rèn)設(shè)置為100Hz；

⑥網(wǎng)絡(luò)分析儀模式設(shè)置為傳輸模式，測(cè)試參數(shù)設(shè)置為R-X；

⑦接上12.5Ω PI網(wǎng)絡(luò)到網(wǎng)絡(luò)分析儀輸出和輸入端口，進(jìn)行三端校準(zhǔn)；

⑧插入相應(yīng)的晶振，使用網(wǎng)絡(luò)分析儀搜索功能，搜索電抗X為0的點(diǎn)即為串聯(lián)諧振頻率Fs，對(duì)應(yīng)的電阻R即為串聯(lián)諧振電阻Rs。Fs精度要求為±5ppm，Rs精度要求為2Ω+所測(cè)電阻*10%

用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)FL：

步驟同用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)Fs和Rs，第⑦步搜索的電抗點(diǎn)調(diào)整為。

用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)CL：

步驟同用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)Fs和Rs，第⑦步調(diào)整為標(biāo)記出中心頻率處的虛部值

.精度要求為±1pF。

審核編輯 黃宇