晶振測試儀使用方法

1.頻率測試

①設置單一頻點，范圍為1MHz-100MHz，以26M為例，方法為：主菜單-STIMULUS-CW FREQ-2 6 M。

②將掃描點數(shù)設置為301，設置方法為：主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301。

此時晶振PI網(wǎng)絡分析儀OUT端口輸出單一26MHz信號，此時可以用頻率計進行測試，記錄下實測頻率。

③重復上述步驟，根據(jù)需求檢測相應的輸出頻率誤差，精度要求為±1ppm。

④恢復掃描點并保存，恢復掃描點路徑為：主菜單：STIMULUS-SWEEP POINTS，設置為401；保存路徑為：主菜單 -CONFIG-SAVE CONFIG。

上述1和2頻率超差校準方法：

①設置基準26M，方法為：主菜單-CONFIG-EXPERT SETTINGS-TCXO-2 6 M。

②設置單一輸出頻點26M，方法為：主菜單-STIMULUS-CW FREQ-2 6 M。

③將掃描點數(shù)設置為301，設置方法為：主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301。

④測試晶振PI網(wǎng)絡分析儀OUT端口輸出頻率，并設置到：主菜單-CONFIG-EXPERT SETTINGS-TCXO。

⑤恢復掃描點并保存，恢復掃描點路徑為：主菜單：STIMULUS-SWEEP POINTS，設置為401；保存路徑為：主菜單 -CONFIG-SAVE CONFIG。

2.電阻測試（1Ω-500Ω）

此項測試需要用無感電阻進行測試，電阻測試方法如下（若精度不夠，需要進行重新校準）：

設置驗證頻點，如24MHz，操作方法為：主菜單-STIMULUS-CENTER -2 4 M;

設置掃描點數(shù)為301，操作方法為：主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301;

將顯示選項設置為“SERIES R”，操作方法為：主菜單-DISPLAY-FORMAT S21(THRU)-SERIES R;

插入標準電阻，顯示界面如下。若測試阻值超標，建議重新校準，并重復①到④驗證步驟。更換頻點，再重復①到④驗證步驟。此項精度要求為2Ω+標準電阻*10%。

3.其他參數(shù)測試

該設備沒有專用的檢定標準，可以通過對比法來驗證其精度。可利用50Ω通用網(wǎng)絡分析儀來驗證晶振串聯(lián)諧振頻率Fs,Rs,FL,CL，需要配合12.5Ω PI網(wǎng)絡（IEC444-1中所述）。

檢測依據(jù)：

①SJ/Z9154.1-87/IEC444-1(1989)用π型網(wǎng)絡零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第一部分用π型網(wǎng)絡零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法。

②GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡分析技術和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法。

用通用網(wǎng)絡分析儀檢測Fs和Rs：

①中心頻率設置：根據(jù)晶振頻率設置為所需要的頻點；

②跨度設置：設置為中心頻率的8*10-4；

③掃描功率設置：對于12.5Ω PI網(wǎng)絡，將網(wǎng)絡分析儀掃描功率設置為-2dbm；

④掃描點數(shù)設置：設置為當前網(wǎng)絡分析儀可提供的最大值以達到更高的精度；

⑤帶寬設置，默認設置為100Hz；

⑥網(wǎng)絡分析儀模式設置為傳輸模式，測試參數(shù)設置為R-X；

⑦接上12.5Ω PI網(wǎng)絡到網(wǎng)絡分析儀輸出和輸入端口，進行三端校準；

⑧插入相應的晶振，使用網(wǎng)絡分析儀搜索功能，搜索電抗X為0的點即為串聯(lián)諧振頻率Fs，對應的電阻R即為串聯(lián)諧振電阻Rs。Fs精度要求為±5ppm，Rs精度要求為2Ω+所測電阻*10%

用通用網(wǎng)絡分析儀檢測FL：

步驟同用通用網(wǎng)絡分析儀檢測Fs和Rs，第⑦步搜索的電抗點調整為。

用通用網(wǎng)絡分析儀檢測CL：

步驟同用通用網(wǎng)絡分析儀檢測Fs和Rs，第⑦步調整為標記出中心頻率處的虛部值

.精度要求為±1pF。

審核編輯 黃宇