晶振的輸出波形為單端輸出(Sine/Clipped Sine, CMOS/TTL)和差分輸出(LVPECL, LVDS, HCSL)。差分輸出可以滿足高速數(shù)據(jù)傳輸,應(yīng)用于高速計算機,數(shù)字通信系統(tǒng),雷達,測量儀器,頻率合成器等。
波形的上升和下降時間是有源晶振的一個主要電氣參數(shù),單位為ns。
從CMOS輸出的波形圖來看,上升時間(Tr)指的從波形的10%處上升到波形的90%處所需要的時間(也有從20%處上升到80%的時間進行計算的)。下降時間(Tf)指的是從高值到低值所需要的時間。
KOAN有源晶振的規(guī)格書中(KS506T為例)可以看到上升下降時間的范圍值。具體電性能參數(shù)需要通過S&A280B進行測量。
我們的優(yōu)勢
KOAN晶振公司配備了E5052B信號分析儀器(測量相位噪聲和抖動)、S&A280B、S&A250B測試儀器,以及高低溫箱,抗沖擊試驗設(shè)備。我們能夠檢測在溫度、負載和功率電壓變化條件下的頻率穩(wěn)定性。
我們可以快速高水平滿足客戶的需求、精準化匹配、快速故障分析。
審核編輯:湯梓紅
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