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SCR放電管仿真設(shè)計(jì)-N基區(qū)摻雜濃度

冬至子 ? 來源:半導(dǎo)體技術(shù)人 ? 作者:半導(dǎo)體技術(shù)人 ? 2023-07-07 16:07 ? 次閱讀

1、設(shè)計(jì)目標(biāo)

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2、N-基區(qū)摻雜濃度對(duì)輸出IV特性的影響

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(1)conc=1.0e16cm^-3

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(2)conc=1.1e16cm^-3

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(3)conc=1.2e16cm^-3

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(4)conc=1.3e16cm^-3

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晶閘管(SCR)由于其深回滯輸出特性曲線,低導(dǎo)通電阻,高ESD泄流能力的特點(diǎn),在ESD保護(hù)中得到越來越廣泛的應(yīng)用。除了采用多個(gè)器件的組合方案來實(shí)現(xiàn)雙向ESD保護(hù)之外,也可以用單向SCR的衍生器件來實(shí)現(xiàn)雙向ESD保護(hù),雙向SCR器件內(nèi)部是NPNPN結(jié)構(gòu)。為了對(duì)集成電路的輸出端口形成有效保護(hù),需要低觸發(fā)電壓的SCR放電管作為ESD保護(hù)器件。

對(duì)于低觸發(fā)電壓SCR放電管,在保證SCR放電管的開啟速度不受影響的前提下,通過優(yōu)化SCR放電管內(nèi)部結(jié)構(gòu)(如寄生晶體管基區(qū)結(jié)構(gòu)、發(fā)射區(qū)結(jié)構(gòu)、低電壓觸發(fā)結(jié)構(gòu)等)的方法來降低SCR放電管的觸發(fā)電壓。

依據(jù)觸發(fā)電壓VS、觸發(fā)電流IS、維持電流IH及觸發(fā)電壓、維持電流高低溫變化率指標(biāo)要求,利用半導(dǎo)體器件仿真軟件進(jìn)行雙向低觸發(fā)電壓橫向SCR放電管的設(shè)計(jì)。雙向低觸發(fā)電壓橫向SCR放電管是一種對(duì)稱的ESD保護(hù)器件,它沒有陽(yáng)極與陰極的差異,在兩個(gè)方向的ESD保護(hù)性能是等同的。器件中P陽(yáng)極區(qū)、N-襯底、P區(qū)構(gòu)成寄生PNP晶體管,N+陰極區(qū)、P區(qū)、N-襯底區(qū)構(gòu)成寄生NPN晶體管,寄生PNP晶體管與寄生NPN晶體管相互耦合,形成PNPN晶閘管結(jié)構(gòu)。

當(dāng)寄生PNP晶體管與寄生NPN晶體管共基極短路電流放大倍數(shù)之和大于1(αPNP+αNPN>1)時(shí),PNPN晶閘管結(jié)構(gòu)觸發(fā)開通。

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