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在進(jìn)行EMC抗擾度測試時(shí),必須在所有適用的測試頻率下檢查所用射頻功率放大器的線性度。檢查方法如下:
確定產(chǎn)生測試電平所需的功率,包括調(diào)制。例如:
- 測試電平:10v /m
- 調(diào)制:80% AM, 1 kHz
- 所需場強(qiáng)包括調(diào)制:18 V/m
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輻射抗干擾校準(zhǔn)配置示例
在特定頻率下所需的功率由n點(diǎn)均勻性校準(zhǔn)期間測量的校準(zhǔn)文件決定(在上面的例子中,均勻面產(chǎn)生18 V/m的功率)。然后對(duì)所有頻率點(diǎn)進(jìn)行如下檢查:
- 設(shè)置信號(hào)發(fā)生器電平,使放大器提供所需的輸出功率。
- 將信號(hào)發(fā)生器電平降低5.1 dB。
- 放大器的輸出功率至少降低3.1 dB。如果功率下降小于3.1 dB,說明放大器壓縮過遠(yuǎn),不滿足壓縮要求。
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通過上述測試,將檢查每個(gè)頻率點(diǎn)的放大器是否表現(xiàn)出小于 2 dB 的壓縮,從所需測試電平(包括調(diào)制)所需的(最大)功率測量,幅度范圍為 5.1 dB 。作為對(duì)照組,1 dB 壓縮點(diǎn)測試需要測量放大器的增益降低 1 dB 的點(diǎn),即以放大器的“小信號(hào)增益”為起點(diǎn)(全功率下典型值為 20 dB),測量在哪個(gè)輸出功率下增益降低了 1 dB。這種測量是在更大的幅度范圍內(nèi)進(jìn)行的,從而更早地實(shí)現(xiàn)了壓縮。
1 dB 方法主要用于電信市場,其中大振幅范圍內(nèi)的線性度很重要。這與 EMC 測試相反,EMC 測試中唯一相關(guān)的一點(diǎn)是放大器在應(yīng)用放大器的功率點(diǎn)周圍的表現(xiàn),目的是確保 AM 調(diào)制不會(huì)失真太多。因此,1db壓縮點(diǎn)對(duì)EMC測量的要求過于嚴(yán)格。
根據(jù)所使用的放大器技術(shù),放大器將表現(xiàn)出“軟”或“硬”壓縮行為。在第一種情況下,放大器將提供很多額外的“可用”功率高于1db壓縮點(diǎn),而放大器的“硬”壓縮行為通常鎖定僅高于1db壓縮點(diǎn)。特別是具有 GaN 晶體管的放大器會(huì)表現(xiàn)出軟壓縮行為。與基于硅和砷化鎵的放大器相比,這種相對(duì)較新的晶體管技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是壽命更長、效率更高。
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