0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

IC老化測(cè)試座的清理與保養(yǎng)

小綠 ? 來(lái)源:jf_08642514 ? 作者:jf_08642514 ? 2023-06-28 15:19 ? 次閱讀

IC老化座測(cè)試座使用時(shí)間長(zhǎng)了之后肯定會(huì)有一些灰塵和污垢,從而影響客戶(hù)的測(cè)試?yán)匣?。那么我們?yīng)該如何進(jìn)行清潔呢?

1、首先,把IC老化測(cè)試座翻蓋打開(kāi),接著倒放在超聲波清潔器內(nèi)。

2、然后,在超聲波清潔器內(nèi)倒入適量的酒精,酒精的份量以把整個(gè)座頭浸沒(méi)為佳,并打開(kāi)超聲波清潔器開(kāi)關(guān),開(kāi)始進(jìn)行清洗工作,大概十分鐘之后(如果老化測(cè)試座比較臟,清洗時(shí)間可以適當(dāng)延長(zhǎng)),把超聲波清潔器開(kāi)關(guān)關(guān)掉,用鑷子把座頭取出。

3、最后用風(fēng)筒把IC老化座或是測(cè)試座徹底吹干。

凱智通微電子的IC老化測(cè)試座均采用優(yōu)質(zhì)材料原廠精工生產(chǎn),采用翻蓋或是下壓彈片、探針結(jié)構(gòu),探針為良好電氣導(dǎo)通性能的優(yōu)質(zhì)鈹金測(cè)試針,芯片定位快捷準(zhǔn)確,再結(jié)合性能良好的歐式插針,經(jīng)久耐用。良好的日常保養(yǎng)與維護(hù),不僅有利于保證長(zhǎng)期處于“完好”狀態(tài),而且還可延長(zhǎng)使用壽命。因此必須按要求進(jìn)行認(rèn)真而有效的日常保養(yǎng)。

IC老化測(cè)試座主要用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產(chǎn)企業(yè),可配進(jìn)口老化臺(tái)、老化板做器件及高、低溫測(cè)試、老化篩選作連接的使用。

審核編輯黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • IC
    IC
    +關(guān)注

    關(guān)注

    36

    文章

    5950

    瀏覽量

    175619
  • 測(cè)試座
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    28

    瀏覽量

    7514
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解

    芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法,以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的:芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性,以確定其壽
    的頭像 發(fā)表于 11-23 01:02 ?547次閱讀
    <b class='flag-5'>IC</b>芯片<b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>以及方案詳解

    臭氧老化試驗(yàn)箱:加速材料老化測(cè)試的得力助手

    在科研與工業(yè)生產(chǎn)中,了解材料在長(zhǎng)時(shí)間自然環(huán)境下的老化性能至關(guān)重要。為了快速準(zhǔn)確地模擬這一過(guò)程,臭氧老化試驗(yàn)箱應(yīng)運(yùn)而生。這款設(shè)備以其獨(dú)特的功能和高效的測(cè)試能力,成為了材料科學(xué)研究與質(zhì)量控制領(lǐng)域不可或缺
    的頭像 發(fā)表于 11-21 09:53 ?127次閱讀
    臭氧<b class='flag-5'>老化</b>試驗(yàn)箱:加速材料<b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>的得力助手

    LED如何做老化測(cè)試

    LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長(zhǎng)壽命,廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號(hào)等領(lǐng)域。然而,為了確保LED在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性,進(jìn)行老化測(cè)試是不可或缺的一步。老化測(cè)試可以模擬LED在長(zhǎng)期使
    的頭像 發(fā)表于 10-26 17:14 ?780次閱讀
    LED如何做<b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>

    TAS5805M有相關(guān)的老化測(cè)試報(bào)告嗎?需要在什么條件下做老化測(cè)試,有什么建議嗎?

    1、TAS5805M有相關(guān)的老化測(cè)試報(bào)告嗎? 2、客戶(hù)做soundbar,功放選用TAS5805M,需要在什么條件下做老化測(cè)試,有什么建議嗎?
    發(fā)表于 10-16 08:27

    ic測(cè)試原理和設(shè)備教程的區(qū)別

    IC測(cè)試原理和設(shè)備教程在內(nèi)容、目的和關(guān)注點(diǎn)上存在顯著的區(qū)別。 IC測(cè)試原理 內(nèi)容 : IC測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 09-24 09:51 ?217次閱讀

    交流充電樁智能老化測(cè)試架介紹

    交流充電樁智能老化測(cè)試架(饋能式)用于單相交流充電樁老化測(cè)試,確保產(chǎn)品出貨符合要求。適用于符合GB/T 18487.1-2015、IEC 62196-2-2016、SAE J1772-
    的頭像 發(fā)表于 08-19 14:52 ?415次閱讀
    交流充電樁智能<b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>架介紹

    多通道老化電流測(cè)試解決方案

    隨著電子產(chǎn)品的復(fù)雜性和集成度不斷提高,企業(yè)對(duì)老化電流測(cè)試的需求也在增加??蛻?hù)擁有48路老化電流測(cè)試通道,需要進(jìn)行不間斷同步采集。在正常工作狀態(tài)下,電流大約為80毫安,而在靜態(tài)工作狀態(tài)下
    的頭像 發(fā)表于 07-17 11:46 ?385次閱讀
    多通道<b class='flag-5'>老化</b>電流<b class='flag-5'>測(cè)試</b>解決方案

    交直流充電樁測(cè)試老化老化臺(tái)老化

    交流充電樁智能老化測(cè)試架(饋能式),用于單相交流充電槍樁老化測(cè)試,確保產(chǎn)品出貨符合要求。適用于符合GB/T 18487.1-2015、IEC 62196-2-2016、SAE J177
    的頭像 發(fā)表于 05-21 17:52 ?668次閱讀
    交直流充電樁<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>老化</b>架<b class='flag-5'>老化</b>臺(tái)<b class='flag-5'>老化</b>房

    什么是老化測(cè)試,用在哪些地方的?

    老化試驗(yàn)項(xiàng)目是指模擬產(chǎn)品實(shí)際使用條件所涉及的各種因素,并在相應(yīng)條件下加強(qiáng)產(chǎn)品老化試驗(yàn)的過(guò)程。老化試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的性能、使用體驗(yàn)和使用壽命起著重要的作用。接下來(lái),我們將為大家介紹直流電源在各種老化
    的頭像 發(fā)表于 04-25 16:07 ?876次閱讀
    什么是<b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>,用在哪些地方的?

    三合一老化試驗(yàn)臺(tái),三合一老化測(cè)試案例

    三合一老化測(cè)試控制儀簡(jiǎn)介 三合一老化測(cè)試軟件是一款適用于車(chē)載充電器 OBC+DC/DC+PDU三合一產(chǎn)品在高溫環(huán)境下進(jìn)行老化試驗(yàn)專(zhuān)用。該設(shè)備
    的頭像 發(fā)表于 04-07 17:53 ?527次閱讀
    三合一<b class='flag-5'>老化</b>試驗(yàn)臺(tái),三合一<b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>案例

    老化測(cè)試的功能和結(jié)構(gòu)

    老化測(cè)試可以模擬多種環(huán)境條件,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性;
    的頭像 發(fā)表于 03-27 15:22 ?576次閱讀
    <b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>座</b>的功能和結(jié)構(gòu)

    Hast老化試驗(yàn)測(cè)試

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《Hast老化試驗(yàn)測(cè)試.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 03-13 15:42 ?3次下載

    電源模塊高低溫老化測(cè)試方法與步驟

    為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能,高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的重要一環(huán),電
    的頭像 發(fā)表于 03-08 11:00 ?888次閱讀

    逆變器老化測(cè)試有用嗎,重要的參考數(shù)據(jù)

    逆變器是一種將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的電子設(shè)備,廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能發(fā)電、風(fēng)能發(fā)電等領(lǐng)域。在逆變器的生產(chǎn)過(guò)程中,老化測(cè)試是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。老化測(cè)試是指在一定的時(shí)間內(nèi),對(duì)逆變器進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)
    的頭像 發(fā)表于 03-07 14:28 ?549次閱讀
    逆變器<b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>有用嗎,重要的參考數(shù)據(jù)

    分享香蕉插測(cè)試線的保養(yǎng)方法

    分享香蕉插測(cè)試線的保養(yǎng)方法 香蕉插測(cè)試線是一種常見(jiàn)的電子連接器,通常用于連接電路板和其他電子設(shè)備。為了確保香蕉插測(cè)試線的正常工作和延長(zhǎng)其使用壽命,需要進(jìn)行一定的
    的頭像 發(fā)表于 01-08 15:55 ?881次閱讀