宏展 Lab Companion 電子元器件老化試驗的目的

如今，隨著科學的進步，電子制造技術(shù)也越來越發(fā)達，其集成化程度越來越高，工序越來越多，結(jié)構(gòu)也越來越細微，制造工藝越來越復(fù)雜，錯綜復(fù)雜的因素勢必會導致在制造過程中潛伏缺陷，作為電子產(chǎn)品廠家，不僅要保證各性能的高精準性，也要保證其質(zhì)量的穩(wěn)定性。所以對其做相關(guān)測試也是必要的，那么為什么要做老化測試呢？

一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被激活(暴露)。顯然，對每只元器件測試一千個小時是不現(xiàn)實的，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進行高溫功率應(yīng)力試驗，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進入高可靠的穩(wěn)定期。

通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進行電氣參數(shù)測量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時間的考驗。

概括來說，電子產(chǎn)品通過生產(chǎn)制造后，形成了完整的產(chǎn)品，已經(jīng)可以發(fā)揮使用價值了，但使用以后發(fā)現(xiàn)會有這樣那樣的毛病，又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大部分發(fā)生開始的幾小時至幾十小時之內(nèi)，后來干脆就規(guī)定了電子產(chǎn)品的老化和測試，仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，這個過程由產(chǎn)品制造者來完成。通過再測試，把有問題的產(chǎn)品留在工廠，沒問題的產(chǎn)品給用戶，以保證買給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問題較少的。

這就是老化測試的意義。