一起來學5G終端射頻標準（In-band emissions-1）

英利檢測：發(fā)射機調制質量我們已經(jīng)學習了EVM和載波泄漏，今天繼續(xù)學習帶內發(fā)射：In-band emissions，簡稱IBE。

01

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In-band emissions為什么又是調制性能

帶有emission的測量項，有這樣幾種叫法：

Out of band emission，帶外發(fā)射； unwanted emission，無用發(fā)射； Spurious emission，雜散發(fā)射。

與IBE不同，這些emission都是發(fā)生在帶外的，被歸類為輸出頻譜的性能，我們后面還會具體學習這些emission的區(qū)別。那么IBE也是一種emission，顧名思義它發(fā)生在帶內。

首先，我們來搞清楚In-band emissions是如何發(fā)生的，如下圖所示，在4G或5G的OFDM調制中，由于終端并不一定時時占滿整個帶寬的RB資源，事實上某個終端也總是不可能占滿整個RB資源的，可能只占用整個帶寬的極少一部分。所以被分配使用的RB（Active）一旦發(fā)出了功率，就會相應的在未分配RB上產生雜波干擾信號，同時也會產生在載波處的泄漏（Leakage）干擾信號，以及在鏡像頻率處的鏡像干擾（Image）信號。

所以In-band emissions，帶內發(fā)射，根據(jù)發(fā)射干擾信號產生的頻率位置，總共分為三類：General ，IQ Image和Carrier Leakage，如下圖所示：

IBE所包含的三個類型的測試項：

Carrier leakage：是在載波附近的IBE； IQ image：是在分配的RB的另一側相對于載波對稱的IBE； General：適用于所有未分配的RB。

那為什么要進行IBE的測試？如果這三種干擾信號泄漏出來，首先載波泄漏的影響，我們在上一篇中已經(jīng)討論過了，另外兩種干擾，一定會造成其他終端用戶（這里其他用戶指剛好使用了這些被干擾的RB的UE）的底噪抬升或信噪比的下降，也就是EVM的惡化。

上一篇，我們分析了載波泄漏為什么是調制性能的測試項，而對于In-band emissions，當終端發(fā)射機在帶內出現(xiàn)了上述一系列的雜波信號后，也同樣導致了調制性能的惡化，所以需要進行測量。從范疇上來說，IBE的影響，比載波泄漏更加寬泛。

02

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IBE的測量要求

IBE的測量分為PUSCH和PUCCH。

PUSCH的測試配置如下：

頻率：低中高； 帶寬：低中高； SCS：最低； 上行調制：DFT-s-OFDM QPSK，CP-OFDM QPSK； 上行RB分配：Inner_1RB_Left，Inner_1RB_Right；

PUCCH的測試配置如下：

頻率：低中高； 帶寬：低中高； SCS：最低； 下行調制：CP-OFDM QPSK； 下行RB分配：Full RB； PUCCH配置：Format 3 and Format 1，Length in OFDM symbols = 14； 上行RB分配：0，NRB-1；

IBE的測量要求如下表6.4.2.3.5-1：

表格中出現(xiàn)了三種IBE的測量要求，其中General的IBE要求中出現(xiàn)了很多符號，我們來解釋一下，有些是復習哈：

• NRB：是給定信道帶寬和子載波間隔的最大RB數(shù)量（transmission bandwidth configuration）；
• LCRB：是分配的RB數(shù)量（transmission bandwidth）；

這兩個參數(shù)的定義我們以前學習過，參考下圖就知道為什么叫做transmission bandwidth configuration 和 transmission bandwidth了：

• EVM：這里出現(xiàn)的EVM是表6.4.2.1.3-1中規(guī)定的分配RB使用的調制格式的限值。例如QPSK的限值是17.5%，參考一起來學5G終端射頻標準（EVM究竟如何算）。這里在General IBE的測試要求公式中取了對數(shù)單位，20Log（17.5%）=-15.14 dB；
• ：是分配的RB和測量的未分配RB之間的起始頻率偏移（例如，=-1 或 1，表示被分配RB帶寬外的第一個左右相鄰RB）；
• ：是以分配的RB數(shù)量進行歸一化的10個子幀的平均發(fā)射功率，單位為dBm；
• TT：Test Tolerance為0.8dB。

所以General的限值要求不是固定的，而是根據(jù)配置和功率等計算得出的。

上圖是SP9500對IBE的實測結果舉例，具體測試的結果是如何計算的，我們下次繼續(xù)。

以上信息由英利檢測（Teslab）整理發(fā)布，歡迎一起討論，我們一直在關注這方面的發(fā)展，如有引用也請注明出處。

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