滿足分析型用戶需求！超大束流，超快分析的場發(fā)射掃描電鏡SEM4000 來了

在此前的兩期推文中

我們?yōu)榇蠹医榻B了兩款鎢燈絲掃描電鏡

“重新定義鎢燈絲掃描電鏡”的SEM3300

和“操作不挑人，簡約不簡單”的SEM2000

今天，針對有分析型需求的用戶

超大束流，超快分析的

場發(fā)射掃描電鏡SEM4000

場發(fā)射掃描電鏡SEM4000

SEM4000超大束流，超快分析

熟悉國儀的朋友們都知道

我們已經(jīng)有了一款主打低電壓高分辨的場發(fā)射電鏡SEM5000

那么SEM4000有什么不同？有什么新的特點？

場發(fā)射掃描電鏡SEM4000

那就是電子束流大，分析速度快！

非常適合有分析型需求的用戶

SEM4000有著最大超過200 nA的電子束流

而且束流大小連續(xù)可調(diào)！

大束流可以帶來很多好處

例如：相同信噪比情況下更快的成像速度、更大的能譜計數(shù)、更強的波譜儀信號

束流連續(xù)可調(diào)，有利于選擇最合適的成像和能譜條件

SEM4000實拍見真章

下方展示的是使用SEM4000拍攝的高、低真空樣品圖片

楓香花粉在低真空模式下形貌保持良好，表面細節(jié)豐富、整體層次分明;

SEM4000電子束流大，背散射像下原子序數(shù)相近材料的成分襯度差異明顯（PA-玻纖復(fù)合材料）;

應(yīng)用高亮度的熱場發(fā)射電子源，SEM4000可以獲得高分辨圖片（金剛石涂層）

楓香花粉

PA-玻纖復(fù)合材料金剛石涂層

SEM4000技術(shù)解讀

SEM4000是如何同時做到大束流和束流連續(xù)可調(diào)？

國儀量子電鏡研發(fā)團隊

采用了束流控制透鏡+像方束張角控制透鏡的方案

也就是先用一個透鏡，控制電子源方向的束張角，從而獲得連續(xù)可調(diào)的電子束流（圖a）

圖a

然后再用第二個透鏡，控制像方束張角（圖b）

圖b

從而實現(xiàn)不同束流下的最佳分辨率和景深

使得絕大多數(shù)工況下成像質(zhì)量最優(yōu)！

如果您需要用到分析功能

并且追求更高、更快的分析效率

那么場發(fā)射掃描電鏡SEM4000

一定是您的最佳拍檔！