使用HDS-35屏蔽效能測試系統(tǒng)對銅箔屏蔽材料的屏蔽效能測量

1.目標

本次測試的目的是為了演示HDS-35屏蔽效能測試系統(tǒng)是如何用于測量銅箔屏蔽材料的屏蔽效能值。

2.測量設置

HDS-35屏蔽效能測試系統(tǒng)具有3.6GHz頻率的屏蔽效能測試，配合我司的頻譜分析儀，非常適合做平面材料的電磁屏蔽效能測量，如下圖所示：

HDS-35屏蔽效能測試系統(tǒng)由屏蔽效能測試裝置、屏蔽分析儀、自動測試軟件一起組成，如上圖。

3.開始測量

打開自動測試軟件和頻譜分析儀，自動測試軟件與頻譜分析儀通過USB電纜線連接，在軟件中找到頻譜分析儀即可，連接方式如下圖所示：

使用HDS-35屏蔽效能測試系統(tǒng)做屏蔽效能測試前，先要將頻譜分析儀和我們的屏蔽效能測試裝置進行校準，校準后的數(shù)據(jù)如下圖所示：

做好校準后，把銅箔材料放到屏蔽效能測試裝置中，點擊自動測試軟件中的開始測試即可對銅箔屏蔽材料進行測試了。測試的數(shù)據(jù)如下圖所示：

4.結論：

HDS-35屏蔽效能測試系統(tǒng)非常適合從1M-3.6GHz頻率的平面材料的屏蔽效能測試，能非常真實的反映平面材料的屏蔽效能值。此外，我們還可以定制8GHz的屏蔽效能測試系統(tǒng)，以適合更高頻率的屏蔽效能測試。