當(dāng)前,電路板的復(fù)雜程度、芯片集成程度日益提升,BCA、SMT以及新型芯片封裝技術(shù)日漸普及,諸多因素導(dǎo)致PCB布局和組裝越來越復(fù)雜化,電路板測(cè)試需求和難度也水漲船高。本期SPEA將重點(diǎn)科普什么是ICT在線測(cè)試以及ICT針床測(cè)試的短板?
什么是ICT在線測(cè)試?
ICT在線測(cè)試的主要原理為:根據(jù)PCB的印制板文件和網(wǎng)絡(luò)文件的相關(guān)要求,ICT測(cè)試系統(tǒng)能夠通過調(diào)用系統(tǒng)庫的宏,進(jìn)行測(cè)試環(huán)境的配置,同時(shí)生成相應(yīng)的測(cè)試程序,最后利用微功率信號(hào)的施加實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB的功能、工藝以及參數(shù)值的自動(dòng)檢測(cè)。
ICT在線測(cè)試儀是電氣測(cè)試的常用設(shè)備,傳統(tǒng)的在線測(cè)試儀測(cè)量時(shí)使用專門的針床與已焊接好的線路板上的元器件接觸,并用幾百mV電壓和1 0mA以內(nèi)電流進(jìn)行分立隔離測(cè)試,從而精確地測(cè)出所裝電阻、電感、電容、二極管、三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線路板開短路等故障,并將故障是哪個(gè)元件或開短路位于哪個(gè)點(diǎn)。
針床式在線測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試速度快,適合于單一品類大批量電線路板生產(chǎn)測(cè)試。但是隨著線路板組裝密度的提高,特別是細(xì)間距S M T組裝以及新產(chǎn)品開發(fā)生產(chǎn)周期越來越短, 線路板品類正在多樣化,針床式在線測(cè)試儀存在一些難以克服的問題:測(cè)試用針床夾具的制作、調(diào)試周期長、價(jià)格貴;特別是對(duì)于一些高密度S M T線路板由于測(cè)試精度問題至今無法解決。
ICT針床測(cè)試為何測(cè)試精度不足?
電路板測(cè)試精度無法滿足要求的主要原因是從開始PCB制作、夾具的制造一直到現(xiàn)場(chǎng)的檢測(cè)環(huán)節(jié)均存在著技術(shù)瓶頸和誤差。產(chǎn)生誤差的主要因素如下:
1、控制夾具鉆孔的精度具有較大難度。即便是高精密的針床,鉆較厚的夾具板時(shí)也很難將精度控制在20um以內(nèi)的范圍。另外
不容忽視的是,部分高精度PCB測(cè)試用的夾具,層數(shù)較多。
2、進(jìn)行PCB檢測(cè)時(shí),PCB和夾具之間、夾具和設(shè)備之間存在著對(duì)位精度問題。通常情況下,如果采用銷釘定位,為了達(dá)到方便夾具在針床上面放置與取下的目的,銷釘和銷釘孔洞之間存在一定偏差。
3、PCB的鉆孔位置和外層圖形之間存在偏差。該偏差出現(xiàn)在制造多層PCB的過程中,一般情況是,為了防止內(nèi)層破盤,提升整體的合格水平,經(jīng)常在層壓之后利用各層圖形的相對(duì)位置實(shí)施鉆定位孔。因此,疊加的層數(shù)越多,鉆孔位置和外層圖形之間的偏差就會(huì)越
大,即便是PCB的上下表面之間的位置也可能存在誤差。
4、測(cè)試探針的移動(dòng)。在多層夾具中,若有細(xì)小的偏差,造成探針摩擦或卡住,就會(huì)造成開路誤報(bào)。密度過高造成夾具的各層強(qiáng)度下降,發(fā)生彎曲等現(xiàn)象,又會(huì)造成探針位置偏差。
5、PCB尺寸穩(wěn)定性和夾具與PCB尺寸一致性誤差。對(duì)PCB電路板而言,由于制作條件的差異(分批制造),環(huán)境溫度,濕度會(huì)造成底片、基材的尺寸變化,導(dǎo)致同類PCB圖形尺寸細(xì)小的差別。若板面較大,密度較高時(shí),會(huì)直接影響測(cè)試精度,同樣,夾具的尺寸也可能根據(jù)環(huán)境的變化出現(xiàn)微觀差異,這些對(duì)測(cè)試準(zhǔn)確性帶來很大影響。
相信大家對(duì)ICT在線測(cè)試及ICT針床測(cè)試的短板已經(jīng)有更清晰的認(rèn)識(shí)了,更多電路板測(cè)試內(nèi)容請(qǐng)關(guān)注SPEA下期分享。
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