如何使用Phasics SID4相位成像相機進行表面測量？

如何使用Phasics SID4相位成像

相機進行表面測量？

Phasics SID4相位成像相機，可以集成在商業(yè)或者自制的光學(xué)顯微鏡裝置上。為了提高樣品的整體性能，測量物體表面特性是一種有效的方法。對于此類應(yīng)用，Phasics的軟件可以分析光程差，并且實時轉(zhuǎn)化為物體表面的形貌。硬件方面，Phasics相機體積小、結(jié)構(gòu)緊湊，并且易于使用。事實上，Phasics的波前分析儀能夠與實驗室常用的相機一樣易于集成。整個相機可以輕松集成到生產(chǎn)線或者實驗室中。

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表面測量結(jié)構(gòu)

Phasic SID4相位相機利用的是一種四波橫向剪切技術(shù)，將入射光分成剪切的4束，然后再互相干涉形成干涉圖，通過傅立葉逆變換可以得到入射光的相位譜和強度信息，這是一種消色差的技術(shù)，因此白光和LED光源非常適合。此外，可以使用任何顯微鏡進行測量，并且不依賴于偏振。如上圖光路所示，SID4相機位于被測物體的成像面進行探測，使用簡單。SID4相位成像相機可以集成在商業(yè)反射顯微鏡或?qū)Ｓ霉鈱W(xué)系統(tǒng)上。

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SID 和 AFM 測量比較

圖中紅線部分是Phasics測量結(jié)果，黑線位AFM測量結(jié)果。

使用AFM測量表面缺陷，和使用SID4相位成像相機一次測量成型的結(jié)果對比。

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SID4 與 光學(xué)輪廓測量儀對比

使用SID4 HR定量測量，以及白光光學(xué)輪廓儀測量結(jié)果的對比。兩個報告中，第一個側(cè)重于輪廓，第二個側(cè)重于深度測量。

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測量結(jié)果

Phasics是一家專門從事相位測量的法國公司。Phasics向其客戶提供全系列的產(chǎn)品，所有這些都是基于獨特的技術(shù)，即四波側(cè)向剪切干涉技術(shù)。Phasics公司的專長在于對這項技術(shù)的深刻理解，以及將其應(yīng)用于從激光和光學(xué)計量到生物樣品成像等多個領(lǐng)域的能力。對于每一個領(lǐng)域，Phasics都提供了專門的硬件和軟件的解決方案。在生物學(xué)方面，Phasics提供了SID4Bio，這是一種獨特的用于活細(xì)胞成像的設(shè)備，依賴于定量相位成像。

SID4Bio是一個類似照相機的相位相機，用于活細(xì)胞成像。基于獨特的相位技術(shù)，它提供了一個巨大的對比度增強，能夠?qū)罴?xì)胞進行無標(biāo)簽觀察，從而使長時間的延時采集成為可能。此外，由于獲得的圖像是對標(biāo)本引入的局部相移的測量，它們提供了關(guān)于標(biāo)本的定量信息。值得注意的是，它們能夠檢索出標(biāo)本的干質(zhì)量。這些數(shù)據(jù)也可用于研究各種生物現(xiàn)象，如細(xì)胞生長或細(xì)胞遷移。

上海昊量光電設(shè)備有限公司作為Phasics在中國地區(qū)的核心代理商，致力于為國內(nèi)的工業(yè)和科研用戶提供技術(shù)解決方案。