高壓放大器基于干涉儀的設(shè)計(jì)與優(yōu)化中的應(yīng)用

實(shí)驗(yàn)名稱:

高壓放大器基于掃描式固體腔F-P干涉儀的設(shè)計(jì)與優(yōu)化中的應(yīng)用

測(cè)試設(shè)備:

光源，準(zhǔn)直擴(kuò)束系統(tǒng)，待測(cè)電光晶體（包含驅(qū)動(dòng)），4f系統(tǒng)和CCD，信號(hào)源，ATA-2161高壓放大器，示波器等。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:

為實(shí)現(xiàn)全天時(shí)邊界層內(nèi)大氣溫度絕對(duì)探測(cè)，即精細(xì)獲取大氣Rayleigh散射譜形，借鑒F-P干涉濾波技術(shù)和晶體的電光特性，設(shè)計(jì)了一種掃描式固體腔F-P干涉儀，測(cè)試其濾波性能并進(jìn)行優(yōu)化。

實(shí)驗(yàn)過(guò)程:

實(shí)驗(yàn)結(jié)果:

01

02

不同電壓場(chǎng)下，對(duì)應(yīng)晶體折射率的改變量。

對(duì)圖相位圖中晶體相位的改變量進(jìn)行平均處理，得到不同電壓場(chǎng)下，對(duì)應(yīng)的晶體的相位改變量，再由公式計(jì)算得出，不同電壓場(chǎng)下，對(duì)應(yīng)晶體折射率的改變量。

高壓放大器ATA-2161參數(shù)指標(biāo)：

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注：此實(shí)驗(yàn)案例參考至知網(wǎng)論文《掃描式固體腔F-P干涉儀的設(shè)計(jì)與優(yōu)化》

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