本文由飛凌嵌入式測試工程講述,小編消化整理,文筆有限,希望對您有所幫助。不足之處,歡迎大家指正。
嵌入式系統(tǒng)開發(fā)過程實際上就是一個調試診斷的過程,而且調試診斷將一直伴隨著一個產品的終身,即使是最成熟的產品也偶爾會出現(xiàn)這樣或那樣的問題,這都需要開發(fā)人員去診斷、排查。嵌入式系統(tǒng)由硬件和軟件兩個部分組成,獨立運行的硬件系統(tǒng)為軟件提供了可靠和穩(wěn)定的平臺,兩者配合來實現(xiàn)實際的應用功能。
硬件系統(tǒng)的調試是嵌入式系統(tǒng)開發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié),基本分為四個流程:目視、上電、下載固件與功能調試、性能和功耗。
1、目視測試:為了保證PCB在生產貼件焊接的過程中不出現(xiàn)問題,目視內容主要包括漏貼器件、焊接連錫、具有方向區(qū)別器件的焊接方向,保證實際的PCB板與原設計保持一致。在上述問題正常的前提下,使用萬用表對主要的電源和測試點進行短路測試,保證其不因為器件或其他原因而出現(xiàn)上電短路。
2、上電測試:測試整個PCB板子是否能正常啟動運行。
上電測試時,使用穩(wěn)壓電源,并設置過流參數為實際工作電流的1.5倍,這個參數是為了避免開發(fā)板啟動過程中出現(xiàn)小峰值時,電源誤動作;同時也能保證短路時不會有過大電流經過開發(fā)板。上電之后對各路電源電壓值進行測量,包括主供電、外圍器件的供電節(jié)點,保證與原設計相同。
在IO測試時,如果遇到某個IO口出現(xiàn)異常,先對開發(fā)板進行斷電,之后使用萬用表對該IO口進行二極管檔位的測量:紅色表筆接開發(fā)板的GND,黑色表筆接IO口。一般來說,同一個功能下的IO口測量結果是基本一致的(時鐘信號會偏低一些)。如果同組內有單個IO有較大偏差,則可能是這個IO有異常。IO開路則測量值無窮大,靜電損傷多為對地短路為零。
圖五:IO接口保護二極管
3、下載固件和功能調試:在軟件上進行調試對應功能的同時,排查硬件設計問題。有很多的功能需要外圍電路配合CPU對應引腳來一同實現(xiàn),所以如果遇到電路設計不合理時,會出現(xiàn)功能故障,此時需要結合軟硬件,對整個開發(fā)板的全部功能進行調試,以實現(xiàn)按照功能設計正常運行。
4、性能及功耗測試:是在實際使用過程中,對開發(fā)板的性能和功耗進行測量、優(yōu)化,包括系統(tǒng)在不同負載情況下運行時的功耗大小、在不同功能運行時的性能優(yōu)劣。根據測試結果了解開發(fā)板整體狀態(tài),并對其局部電路進行針對性優(yōu)化,使核心處理器發(fā)揮最大效能。
當整個測試流程完成后,將會對開發(fā)板有更深入了解,為后續(xù)開發(fā)板二次開發(fā)提供穩(wěn)定運行的基礎保障。嚴格的調試流程,才能更好確保開發(fā)板的穩(wěn)定運行;穩(wěn)定的硬件系統(tǒng),才能更好的完成軟件層各種應用;良好的硬件與軟件設計,才能更大程度的發(fā)揮出開發(fā)板能力。
以上幾者環(huán)環(huán)相扣、缺一不可,共同實現(xiàn)嵌入式系統(tǒng)更優(yōu)的產品品質、更多樣化的功能以及更廣泛的應用范圍。
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