了解MOSFET安全工作區(qū)域SOA
如果您想知道或擔(dān)心您的MOSFET在極端條件下或極端耗散情況下究竟能承受多少功率,那么您應(yīng)該查看器件的SOA數(shù)據(jù)。
在這篇文章中,我們將全面討論MOSFET數(shù)據(jù)表中顯示的安全工作區(qū)域區(qū)域SOA。
SOA曲線圖
以下是MOSFET安全工作區(qū)域SOA圖,通常在所有LEIDITECHMOSFET數(shù)據(jù)表中都可以看到。
圖中figure8 MOSFET SOA 被描述為指定FET在飽和區(qū)工作時(shí)可以處理的最大功率的幅度。
SOA圖的放大圖如下圖所示。
在上面的SOA圖中,我們能夠看到所有這些限制和邊界。在圖表的更深處,我們發(fā)現(xiàn)許多不同的單個(gè)脈沖持續(xù)時(shí)間的額外限制。圖中的這些線可以通過(guò)計(jì)算或物理測(cè)量來(lái)確定。
在較早和較早的數(shù)據(jù)表中,這些參數(shù)是用計(jì)算值估計(jì)的。
但是,通常建議對(duì)這些參數(shù)進(jìn)行實(shí)際測(cè)量。如果您使用公式對(duì)它們進(jìn)行評(píng)估,您最終可能會(huì)得到比實(shí)際應(yīng)用中FET所能承受的實(shí)際值大得多的假設(shè)值?;蛘?,相對(duì)于FET實(shí)際可以處理的內(nèi)容,您可能會(huì)將參數(shù)降級(jí)(過(guò)度補(bǔ)償)到一個(gè)可能過(guò)于柔和的水平。
因此,在我們接下來(lái)的討論中,我們學(xué)習(xí)了通過(guò)真正實(shí)用的方法而不是通過(guò)公式或模擬來(lái)評(píng)估的SOA參數(shù)。
讓我們首先了解什么是FET中的飽和模式和線性模式。
線性模式與飽和模式
參考上圖,線性模式定義為RDS(on)或FET的漏源電阻一致的區(qū)域。
這意味著,通過(guò)FET的電流與通過(guò)FET的漏源偏壓成正比。它通常也被稱為歐姆區(qū),因?yàn)镕ET的作用本質(zhì)上類似于固定電阻器。
現(xiàn)在,如果我們開(kāi)始增加FET的漏源偏置電壓,我們最終會(huì)發(fā)現(xiàn)FET在稱為飽和區(qū)的區(qū)域工作。一旦MOSFET工作被迫進(jìn)入飽和區(qū),通過(guò)MOSFET穿過(guò)漏極到源極的電流(安培)不再響應(yīng)漏極到源極偏置電壓的增加。
因此,無(wú)論您增加多少漏極電壓,該FET都會(huì)繼續(xù)通過(guò)它傳輸固定的最大電流水平。
控制電流的唯一方法通常是改變柵源電壓。但是,這種情況似乎有點(diǎn)令人費(fèi)解,因?yàn)檫@些通常是您對(duì)線性和飽和區(qū)域的教科書描述。之前我們了解到,這個(gè)參數(shù)通常被稱為歐姆區(qū)域。然而,有些人實(shí)際上將其命名為線性區(qū)域。也許,心態(tài)是,嗯,這看起來(lái)像一條直線,所以它必須是線性的?
如果你注意到人們?cè)谟懻摕岵灏螒?yīng)用程序,他們會(huì)說(shuō),好吧,我在線性區(qū)域工作。但這本質(zhì)上在技術(shù)上是不合適的。
了解MOSFET SOA
現(xiàn)在,既然我們知道了什么是FET飽和區(qū)域,我們現(xiàn)在可以詳細(xì)查看我們的SOA圖。SOA可以分解為5個(gè)單獨(dú)的限制。讓我們了解它們到底是什么。
RDS(on) 限制
圖中的第一條灰色線表示FET的RDS(on)限制。這是由于器件的導(dǎo)通電阻而有效限制通過(guò)FET的最大電流量的區(qū)域。
換言之,它表示在MOSFET的最大可容忍結(jié)溫下可能存在的MOSFET的最高導(dǎo)通電阻。
我們觀察到這條灰線具有一個(gè)正的恒定斜率,這僅僅是因?yàn)檫@條線內(nèi)的每個(gè)點(diǎn)都具有相同數(shù)量的導(dǎo)通電阻,根據(jù)歐姆定律,其中規(guī)定R等于V除以I。
電流限制
SOA圖中的下一條限制線表示當(dāng)前限制。在圖表上方,可以看到由藍(lán)色、綠色、紫色線表示的不同脈沖值,上方水平黑線限制為400安培。
紅線的短水平部分表示器件的封裝限制,或FET的連續(xù)電流限制(DC),約為200安培。
最大功率限制
第三個(gè)SOA限制是MOSFET的最大功率限制線,由橙色斜線表示。
正如我們注意到的那樣,這條線帶有一個(gè)恒定的斜率,但卻是一個(gè)負(fù)斜率。它是恒定的,因?yàn)檫@條SOA功率限制線上的每個(gè)點(diǎn)都承載相同的恒定功率,由公式P= IV 表示。
因此,在這個(gè)SOA對(duì)數(shù)曲線中,這會(huì)產(chǎn)生-1的斜率。負(fù)號(hào)是因?yàn)榱鬟^(guò)MOSFET的電流隨著漏源電壓的增加而減少。
這種現(xiàn)象主要是由于MOSFET的負(fù)系數(shù)特性在結(jié)溫升高時(shí)會(huì)限制通過(guò)器件的電流。
熱不穩(wěn)定性限制
接下來(lái),在其安全工作區(qū)域內(nèi)的第四個(gè)MOSFET限制由黃色斜線表示,它代表熱不穩(wěn)定性限制。
正是在SOA的這個(gè)區(qū)域中,對(duì)于實(shí)際測(cè)量設(shè)備的運(yùn)行能力變得非常重要。這是因?yàn)闊o(wú)法通過(guò)任何適當(dāng)?shù)姆绞筋A(yù)測(cè)該熱不穩(wěn)定區(qū)域。
因此,我們實(shí)際上需要對(duì)這方面的MOSFET進(jìn)行分析,找出FET可能失效的地方,具體器件的工作能力究竟如何?
因此我們現(xiàn)在可以看到,如果我們采取這個(gè)最大功率限制,并將其一直延伸到黃線的底部,那么,我們突然發(fā)現(xiàn)了什么?
我們發(fā)現(xiàn)MOSFET故障限制處于非常低的水平,與數(shù)據(jù)表上宣傳的最大功率限制區(qū)域(由橙色斜率表示)相比,該值要低得多。
或者假設(shè)我們碰巧過(guò)于保守,并告訴人們,嘿,黃線的底部區(qū)域?qū)嶋H上是FET可以處理的最大值。好吧,這個(gè)聲明我們可能是最安全的,但是我們可能已經(jīng)過(guò)度補(bǔ)償了設(shè)備的功率限制能力,這可能不合理,對(duì)吧?
這就是為什么這個(gè)熱不穩(wěn)定區(qū)域不能用公式確定或聲稱,而是必須實(shí)際測(cè)試的原因。
擊穿電壓限制
SOA圖中的第五個(gè)限制區(qū)域是擊穿電壓限制,由黑色垂直線表示。這僅僅是FET的最大漏源電壓處理能力。
根據(jù)圖表,該設(shè)備具有100伏BVDSS,這解釋了為什么這條黑色垂直線在100伏漏源標(biāo)記處強(qiáng)制執(zhí)行。
多研究熱不穩(wěn)定性的早期概念會(huì)很有趣。為此,我們需要概述一個(gè)稱為“溫度系數(shù)”的短語(yǔ)。
MOSFET 溫度系數(shù)
MOSFET溫度系數(shù)可以定義為電流隨MOSFET結(jié)溫變化的變化。
Tc= ?ID/ ?Tj
因此,當(dāng)我們?cè)谄鋽?shù)據(jù)表中檢查MOSFET的傳輸特性曲線時(shí),我們發(fā)現(xiàn)FET的漏源電流與FET增加的柵源電壓的關(guān)系,我們還發(fā)現(xiàn)該特性在3不同的溫度范圍。
零溫度系數(shù)(ZTC)
如果我們查看用橙色圓圈表示的點(diǎn),這就是我們所說(shuō)的MOSFET的零溫度系數(shù)。
在這一點(diǎn)上,即使器件的結(jié)溫不斷升高,也不會(huì)增強(qiáng)通過(guò)FET的電流傳輸。
?ID/?Tj=0
其中ID為MOSFET的漏極電流,Tj代表器件的結(jié)溫
如果我們觀察這個(gè)零溫度系數(shù)(橙色圓圈)之上的區(qū)域,當(dāng)我們從負(fù)溫度-55攝氏度移動(dòng)到125攝氏度時(shí),通過(guò)FET的電流實(shí)際上開(kāi)始下降。
?ID/?Tj<0
這種情況表明MOSFET確實(shí)變熱了,但通過(guò)器件消耗的功率卻越來(lái)越低。這意味著設(shè)備實(shí)際上不存在不穩(wěn)定的危險(xiǎn),并且可能允許設(shè)備過(guò)熱,并且與BJT不同,可能沒(méi)有熱失控情況的風(fēng)險(xiǎn)。
然而,在零溫度系數(shù)(橙色圓圈)以下區(qū)域的電流下,我們注意到了這樣一種趨勢(shì),即器件溫度的升高,即跨過(guò)負(fù)-55到125度,導(dǎo)致電流傳輸容量為實(shí)際增加的設(shè)備。
?ID/?Tj>0
這是因?yàn)镸OSFET的溫度系數(shù)在這些點(diǎn)上高于零。但是,另一方面,通過(guò)MOSFET的電流增加會(huì)導(dǎo)致MOSFET的RDS(on)(漏源電阻)成比例地增加,并且還會(huì)導(dǎo)致器件的體溫逐漸成比例地升高,從而導(dǎo)致更大的電流通過(guò)設(shè)備傳輸。當(dāng)MOSFET進(jìn)入正反饋環(huán)路的這個(gè)區(qū)域時(shí),它可能會(huì)導(dǎo)致MOSFET行為不穩(wěn)定。
然而,沒(méi)有人能判斷上述情況是否會(huì)發(fā)生,也沒(méi)有簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)來(lái)預(yù)測(cè)這種不穩(wěn)定性何時(shí)會(huì)在MOSFET內(nèi)部出現(xiàn)。
這是因?yàn)镸OSFET可能涉及大量參數(shù),具體取決于其單元密度結(jié)構(gòu)本身,或封裝的靈活性,以均勻地散發(fā)整個(gè)MOSFET主體的熱量。
由于這些不確定性,必須為每個(gè)特定的MOSFET確認(rèn)指定區(qū)域中的熱失控或任何熱不穩(wěn)定性等因素。不,MOSFET的這些屬性不能簡(jiǎn)單地通過(guò)應(yīng)用最大功率損耗方程來(lái)猜測(cè)。
為什么SOA 如此重要?
SOA數(shù)據(jù)在器件經(jīng)常在飽和區(qū)工作的MOSFET應(yīng)用中非常有用。
它在熱插拔控制器應(yīng)用中也很有用,在這些應(yīng)用中,通過(guò)參考其SOA圖表來(lái)準(zhǔn)確了解MOSFET能夠承受多少功率變得至關(guān)重要。
實(shí)際上,您會(huì)發(fā)現(xiàn)MOSFET安全工作區(qū)值往往對(duì)大多數(shù)處理電機(jī)控制、逆變器/轉(zhuǎn)換器或SMPS產(chǎn)品的消費(fèi)者非常有用,這些產(chǎn)品通常在極端溫度或過(guò)載條件下運(yùn)行。
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MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
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