光柵耦合器(GCs)由于其在芯片表面的任意定位、晶片級測試、大對準和制造公差等優(yōu)點,可以用于PIC中光纖耦合的I/O接口,還可以用于直接耦合到垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSELs)和光電探測器上,因此,光柵耦合器被廣泛應(yīng)用。
完全垂直耦合的耦合效率為1.4dB,非垂直耦合為0.89 dB的光柵耦合器已在商業(yè)鑄造廠得到證明。然而, 光柵耦合器仍然存在一些缺點 。其中一個主要缺點是其光****波段 寬小 。
由于光柵衍射的波長依賴性,在硅光子學(xué)中,通常具有1-dB光波段寬約為30 nm的窄波段寬。然而,對于某些應(yīng)用,需要更寬的光波段寬。
香港中文大學(xué)近日提出了一種新的在C波段和O波段都適用的波導(dǎo)光柵耦合器的設(shè)計方法,設(shè)計原理如圖1所示。該器件根據(jù)分別在硅層和多晶硅覆蓋層上形成的兩個獨立光柵的初始設(shè)計進行了優(yōu)化。他們設(shè)計了C波段的上層(多晶硅),以及O波段的下層(硅)作為初始優(yōu)化種子。
利用遺傳算法對該結(jié)構(gòu)進行數(shù)值優(yōu)化后,光柵耦合器C波段的耦合效率為3.86dB,O波段的耦合效率為4.46dB,實驗結(jié)果如圖2所示,在C波段的?耦合效率為4.37dB,O波段的?耦合效率為5.8dB。
圖1 雙波段光柵耦合器的原理圖。(a)三維視圖。(b)雙波段光柵耦合器的設(shè)計步驟。GC1是指為在C波段內(nèi)運行而設(shè)計的均勻光柵耦合器。
GC2是指為在O波段工作而設(shè)計的均勻光柵耦合器。GC3是指為C波段設(shè)計的上多晶硅層和為O波段設(shè)計的下硅層的復(fù)合光柵耦合器。GC4是指以GC3作為初始優(yōu)化種子的最終優(yōu)化的雙波段光柵耦合器[1] 。
圖2 雙波長光柵耦合器的實驗測量和仿真結(jié)果。
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