0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
电子发烧友
开通电子发烧友VIP会员 尊享10大特权
海量资料免费下载
精品直播免费看
优质内容免费畅学
课程9折专享价
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

高頻探針如何搭建測(cè)試環(huán)境及下針

高頻高速研究中心 ? 來(lái)源:高頻高速研究中心 ? 作者:迪賽康科 ? 2023-05-29 18:25 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

高頻測(cè)試-導(dǎo)言

在高頻測(cè)試領(lǐng)域,搭建適合的測(cè)試環(huán)境以及正確下針對(duì)于確保準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果至關(guān)重要。本文將介紹如何搭建高頻探針測(cè)試環(huán)境,并進(jìn)行下針測(cè)試的步驟,同時(shí)還將探討高頻探針的平整度實(shí)測(cè)。

/搭建測(cè)試環(huán)境 /

1:準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備

準(zhǔn)備高頻探針、探針臂、網(wǎng)絡(luò)分析儀等測(cè)試設(shè)備,確保其具備足夠的帶寬和阻抗匹配能力。

2:準(zhǔn)備測(cè)試樣品

準(zhǔn)備待測(cè)的高頻電路板(PCB板)或其他器件作為測(cè)試樣品,確保其表面凈化和清潔,消除可能影響測(cè)試結(jié)果的污垢或氧化物。

3:安裝探針臂和定位

將探針安裝在三軸探針臂上,并使用ZXY調(diào)節(jié)功能將探針針尖準(zhǔn)確定位到待測(cè)樣品上的焊盤(pán)或測(cè)試點(diǎn)

4:設(shè)置測(cè)試參數(shù)

根據(jù)測(cè)試需求,設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試參數(shù)。確保所選參數(shù)與所測(cè)試的高頻信號(hào)相匹配。

高頻探針

平整度實(shí)測(cè)

/高頻探針平整度測(cè)試 /

1:選擇高頻探針

首先選擇適合測(cè)試需求的高頻探針,例如GSG單端探針、GSSG差分探針,選擇適當(dāng)?shù)囊?guī)格和頻率范圍40GHz、67GHz。確保所選探針適用于待測(cè)物的特性和測(cè)試要求。

2:預(yù)接觸

使用探針臂的三軸調(diào)節(jié)功能,將探針調(diào)節(jié)到待測(cè)物焊盤(pán)上方,使其預(yù)接觸。通過(guò)調(diào)節(jié)Z軸、X軸和Y軸的位置,確保探針與待測(cè)物之間的距離適當(dāng)。

3:接觸焊盤(pán)

使用顯微鏡對(duì)待測(cè)物焊盤(pán)進(jìn)行放大和聚焦。通過(guò)微調(diào)探針臂的三軸,觀察顯微鏡中的探針,使其變得清晰、聚焦。確保能夠清晰地看到探針的尖端。

4:“跳針現(xiàn)象”

仔細(xì)觀察探針的表現(xiàn),特別注意是否存在“跳針”現(xiàn)象。在調(diào)整過(guò)程中探針出現(xiàn)“跳針”情況后,可以稍微后退一些,然后再次下壓一些,使探針與待測(cè)物接觸更加穩(wěn)定。

5:針痕

在完成觀察和調(diào)整后,斷開(kāi)探針與待測(cè)物的連接。觀察待測(cè)物上是否出現(xiàn)清晰的探針針痕。如果使用GSSG高頻探針,則會(huì)看到待測(cè)物上出現(xiàn)四個(gè)點(diǎn)位的針痕,由上到下對(duì)應(yīng)地針、信號(hào)針、信號(hào)針和地針的接觸點(diǎn)。

通過(guò)上述步驟,您可以測(cè)試高頻探針針尖的平整度。確保探針針尖的平整度對(duì)于準(zhǔn)確的測(cè)量和穩(wěn)定的連接至關(guān)重要。

請(qǐng)注意,要小心操作,避免損壞探針或待測(cè)物。

/ 測(cè)試 /

完成探針平整度的測(cè)試后,您可以進(jìn)行正式的測(cè)試操作。下針操作與平整度測(cè)試一致,使用探針臂的三軸調(diào)節(jié)功能將探針接觸到PCB板待測(cè)焊盤(pán)上。

在進(jìn)行測(cè)試之前,確保探針與待測(cè)焊盤(pán)的接觸穩(wěn)定,并且探針針尖與焊盤(pán)表面有良好的接觸。

工程師可以配合使用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行具體的規(guī)格測(cè)試。網(wǎng)絡(luò)分析儀用于測(cè)量和分析電路中的信號(hào)傳輸特性,如阻抗、S參數(shù)(散射參數(shù))等。

在測(cè)試過(guò)程中,工程師可以使用網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試參數(shù),如頻率范圍、測(cè)量模式等。然后啟動(dòng)測(cè)試,網(wǎng)絡(luò)分析儀將發(fā)送高頻信號(hào)到待測(cè)焊盤(pán)上,然后測(cè)量并記錄相應(yīng)的電氣信號(hào)數(shù)據(jù)。

通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀的分析功能,工程師可以評(píng)估待測(cè)焊盤(pán)的頻率響應(yīng)、幅度響應(yīng)、相位響應(yīng)等性能指標(biāo),以確定其符合規(guī)格要求。

在測(cè)試過(guò)程中,確保操作準(zhǔn)確并遵循相關(guān)的安全操作規(guī)程。根據(jù)具體的測(cè)試需求和設(shè)備規(guī)格,可進(jìn)一步優(yōu)化測(cè)試參數(shù)以獲得準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。

這些步驟和技巧對(duì)于半導(dǎo)體通信、光學(xué)等領(lǐng)域的高頻應(yīng)用至關(guān)重要,幫助您實(shí)現(xiàn)更精確和可靠的高頻測(cè)試和分析。





審核編輯:劉清

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • PCB板
    +關(guān)注

    關(guān)注

    27

    文章

    1473

    瀏覽量

    53415
  • 網(wǎng)絡(luò)分析儀

    關(guān)注

    9

    文章

    696

    瀏覽量

    29086
  • 差分探頭
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    235

    瀏覽量

    10366

原文標(biāo)題:【迪賽康】高頻探針如何搭建測(cè)試環(huán)境及下針

文章出處:【微信號(hào):si-list,微信公眾號(hào):高頻高速研究中心】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 0人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    盛華推出晶圓測(cè)試WAT PCM用Probe Card探針

    探針卡, WAT,PCM測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 06-26 19:23 ?188次閱讀

    迅為RK3576開(kāi)發(fā)板NPU例程測(cè)試-rknn-toolkit2環(huán)境搭建和使用

    迅為RK3576開(kāi)發(fā)板NPU例程測(cè)試-rknn-toolkit2環(huán)境搭建和使用
    的頭像 發(fā)表于 06-17 13:46 ?475次閱讀
    迅為RK3576開(kāi)發(fā)板NPU例程<b class='flag-5'>測(cè)試</b>-rknn-toolkit2<b class='flag-5'>環(huán)境</b><b class='flag-5'>搭建</b>和使用

    PCB飛測(cè)試探針,針尖0.03mm,10-30萬(wàn)次使用壽命,0-67GHz頻率

    提供PCB行業(yè)飛測(cè)試探針,間距0.2mm,針尖直徑0.03mm。頻率0-67GHz。使用壽命10-30萬(wàn)次。
    的頭像 發(fā)表于 03-28 12:04 ?541次閱讀
    PCB飛<b class='flag-5'>針</b><b class='flag-5'>測(cè)試探針</b>,針尖0.03mm,10-30萬(wàn)次使用壽命,0-67GHz頻率

    探針粉末電阻率測(cè)試儀在炭黑測(cè)試中的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)

    在炭黑生產(chǎn)與應(yīng)用的各個(gè)環(huán)節(jié),精準(zhǔn)把控其性能至關(guān)重要,而炭黑電阻率是衡量質(zhì)量與應(yīng)用潛力的關(guān)鍵指標(biāo)。兩探針粉末電阻率測(cè)試儀憑借獨(dú)特技術(shù)與高效檢測(cè)能力,在炭黑測(cè)試中發(fā)揮著不可或缺的作用。 一、工作原理
    的頭像 發(fā)表于 03-21 09:16 ?363次閱讀
    兩<b class='flag-5'>探針</b>粉末電阻率<b class='flag-5'>測(cè)試</b>儀在炭黑<b class='flag-5'>測(cè)試</b>中的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)

    高溫電阻測(cè)試儀的四探針法中,探針的間距對(duì)測(cè)量結(jié)果是否有影響

    在高溫電阻測(cè)試儀的四探針法中,探針的間距對(duì)測(cè)量結(jié)果確實(shí)存在影響,但這一影響可以通過(guò)特定的測(cè)試方法和儀器設(shè)計(jì)來(lái)最小化或消除。 探針間距對(duì)測(cè)量結(jié)
    的頭像 發(fā)表于 01-21 09:16 ?646次閱讀
    高溫電阻<b class='flag-5'>測(cè)試</b>儀的四<b class='flag-5'>探針</b>法中,<b class='flag-5'>探針</b>的間距對(duì)測(cè)量結(jié)果是否有影響

    華為云 Flexus X 實(shí)例的場(chǎng)景體驗(yàn)——小企業(yè)的福星——最簡(jiǎn)單的 php 環(huán)境搭建

    搭建一個(gè) php 服務(wù)跑自己的【企業(yè)網(wǎng)站】是最方便不過(guò)的了,接下來(lái)我們就來(lái)搭建環(huán)境。 PHP 環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 01-02 11:59 ?377次閱讀
    華為云 Flexus X 實(shí)例<b class='flag-5'>下</b>的場(chǎng)景體驗(yàn)——小企業(yè)的福星——最簡(jiǎn)單的 php <b class='flag-5'>環(huán)境</b><b class='flag-5'>搭建</b>

    對(duì)于低能注入(BR 2K),四點(diǎn)探針測(cè)量RS,為什么新比老的RS低?而高能注入RS不存在該情況呢

    對(duì)于低能注入(BR 2K),四點(diǎn)探針測(cè)量RS,為什么新比老的RS低?而高能注入RS不存在該情況呢
    發(fā)表于 12-20 23:05

    如何搭建企業(yè)AI開(kāi)發(fā)環(huán)境

    搭建企業(yè)AI開(kāi)發(fā)環(huán)境是一個(gè)復(fù)雜而細(xì)致的過(guò)程,涉及硬件選擇、操作系統(tǒng)配置、軟件安裝、工具選用以及實(shí)踐等多個(gè)方面。下面,AI部落小編將詳細(xì)介紹如何搭建企業(yè)AI開(kāi)發(fā)環(huán)境。
    的頭像 發(fā)表于 12-20 10:37 ?684次閱讀

    微波測(cè)量探針

    類型、觸點(diǎn)尺寸可選,可通用適配多種探針臺(tái)、探針臂,適用于微波集成電路在片測(cè)試、管結(jié)參數(shù)提取、MEMS產(chǎn)品測(cè)試及片上天線測(cè)試等領(lǐng)域。 編輯 ?
    的頭像 發(fā)表于 11-27 17:28 ?519次閱讀
    微波測(cè)量<b class='flag-5'>探針</b>

    Python環(huán)境的代理服務(wù)器搭建與自動(dòng)化管理

    在Python環(huán)境搭建與自動(dòng)化管理代理服務(wù)器是一項(xiàng)涉及網(wǎng)絡(luò)編程和自動(dòng)化技術(shù)的綜合任務(wù)。
    的頭像 發(fā)表于 11-14 07:31 ?667次閱讀

    PCB線路板飛測(cè)試技術(shù),確保電路板品質(zhì)卓越

    PCB 飛測(cè)試是一種利用移動(dòng)探針檢測(cè)PCB電氣連接的方法。它具有靈活性高、測(cè)試速度快、準(zhǔn)確性高、成本低等優(yōu)點(diǎn)。可在PCB制造、維修、設(shè)計(jì)驗(yàn)證等環(huán)節(jié)應(yīng)用,為確保 PCB 質(zhì)量和可靠性提
    的頭像 發(fā)表于 09-20 14:18 ?1105次閱讀

    探針頭型怎么選擇尺寸

    探針頭型的選擇尺寸是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程,需要考慮多個(gè)因素,包括被測(cè)點(diǎn)的形狀、大小、間距、測(cè)試環(huán)境以及測(cè)試要求等。以下是一些選擇探針頭型尺寸的基本
    的頭像 發(fā)表于 09-07 10:48 ?1696次閱讀

    開(kāi)爾文探針測(cè)試原理是什么

    開(kāi)爾文探針測(cè)試(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一種非接觸式表面電勢(shì)測(cè)量技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)通過(guò)測(cè)量探針
    的頭像 發(fā)表于 08-27 15:29 ?5509次閱讀

    分享:晶圓探針測(cè)試探針臺(tái)的自動(dòng)化控制

    NSAT-1000射頻測(cè)試系統(tǒng)在ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)基礎(chǔ)上開(kāi)發(fā)而成,具有強(qiáng)大的兼容性,可以靈活快速接入設(shè)備,自動(dòng)識(shí)別儀器,探針臺(tái)就是其中之一。平臺(tái)會(huì)封裝探針臺(tái)的儀器指令,對(duì)其進(jìn)行兼
    的頭像 發(fā)表于 07-18 17:50 ?742次閱讀
    分享:晶圓<b class='flag-5'>探針</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>中<b class='flag-5'>探針</b>臺(tái)的自動(dòng)化控制

    PyTorch深度學(xué)習(xí)開(kāi)發(fā)環(huán)境搭建指南

    PyTorch作為一種流行的深度學(xué)習(xí)框架,其開(kāi)發(fā)環(huán)境搭建對(duì)于深度學(xué)習(xí)研究者和開(kāi)發(fā)者來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。在Windows操作系統(tǒng)上搭建PyTorch環(huán)境,需要綜合考慮多個(gè)方面,包括軟件安裝、
    的頭像 發(fā)表于 07-16 18:29 ?2484次閱讀

    電子發(fā)燒友

    中國(guó)電子工程師最喜歡的網(wǎng)站

    • 2931785位工程師會(huì)員交流學(xué)習(xí)
    • 獲取您個(gè)性化的科技前沿技術(shù)信息
    • 參加活動(dòng)獲取豐厚的禮品